top of page

Search Results

164 results found with an empty search

  • Solar Power Modules, Rigid, Flexible Panels, Thin Film, Monocrystaline

    Solar Power Modules - Rigid - Flexible Panels - Thin Film - Monocrystalline - Polycrystalline - Solar Connector available from AGS-TECH Inc. စိတ်ကြိုက်နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးစနစ်များ ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် တပ်ဆင်ခြင်း။ ကျွန်ုပ်တို့ ထောက်ပံ့ပေးသည်- • နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးဆဲလ်များနှင့် အကန့်များ၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး စက်ကိရိယာများနှင့် အစားထိုးစွမ်းအင်ကို ဖန်တီးရန်အတွက် စိတ်ကြိုက်စုဝေးမှုများ။ ဝေးလံခေါင်သီသောနေရာများတွင်ရှိသော စက်ကိရိယာများ သို့မဟုတ် စက်ပစ္စည်းများကို ကိုယ်တိုင်ပါဝါပေးခြင်းဖြင့် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးဆဲလ်များသည် အကောင်းဆုံးဖြေရှင်းချက်ဖြစ်သည်။ ဘက်ထရီ အစားထိုးခြင်းကြောင့် မြင့်မားသော ထိန်းသိမ်းမှု ဖယ်ရှားခြင်း၊ သင့်စက်ပစ္စည်းများကို ပင်မဓာတ်အားလိုင်းများနှင့် ချိတ်ဆက်ရန် ပါဝါကြိုးများ တပ်ဆင်ခြင်း လိုအပ်ခြင်းများကို ဖယ်ရှားခြင်းသည် သင့်ထုတ်ကုန်များအတွက် စျေးကွက်ချဲ့ထွင်မှု ကြီးမားလာစေနိုင်ပါသည်။ ဝေးလံခေါင်သီသော ဒေသများတွင် တစ်ယောက်တည်း သီးသန့်သုံးပစ္စည်းများကို ဒီဇိုင်းဆွဲသည့်အခါ ၎င်းကို စဉ်းစားကြည့်ပါ။ ထို့အပြင် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သည် ဝယ်ယူထားသော လျှပ်စစ်စွမ်းအင်အပေါ် မှီခိုအားထားမှုကို လျှော့ချခြင်းဖြင့် သင့်အား ငွေကုန်သက်သာစေနိုင်သည်။ ဆိုလာစွမ်းအင်ဆဲလ်များသည် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ် သို့မဟုတ် မာကျောနိုင်သည်ကို သတိရပါ။ ဆိုလာဆဲလ်များကို ပက်ဖြန်းပေးခြင်းဖြင့် အလားအလာရှိသော သုတေသနကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်နေပါသည်။ ဆိုလာစက်များမှ ထုတ်ပေးသော စွမ်းအင်ကို ယေဘုယျအားဖြင့် ဘက်ထရီများတွင် သိမ်းဆည်းထား သို့မဟုတ် မျိုးဆက်ပြီးတိုင်း ချက်ချင်းအသုံးပြုသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား ဆိုလာဆဲလ်များ၊ ပြားများ၊ ဆိုလာဘက်ထရီများ၊ အင်ဗာတာများ၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ကေဘယ်ကြိုးများ တပ်ဆင်မှုများ၊ သင့်ပရောဂျက်များအတွက် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံးကိရိယာအစုံအလင်ကို သင့်အား ပေးဆောင်နိုင်ပါသည်။ သင့်နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ကိရိယာ၏ ဒီဇိုင်းအဆင့်တွင် သင့်အား ကျွန်ုပ်တို့လည်း ကူညီနိုင်ပါသည်။ မှန်ကန်သောအစိတ်အပိုင်းများကိုရွေးချယ်ခြင်းဖြင့်၊ မှန်ကန်သောဆိုလာဆဲလ်အမျိုးအစားနှင့် optical မှန်ဘီလူးများ၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ဆိုလာဆဲလ်များမှ ထုတ်ပေးသော ပါဝါပမာဏကို အများဆုံး မြှင့်တင်နိုင်သည်။ သင့်စက်ပေါ်ရှိ မျက်နှာပြင်များကို အကန့်အသတ်ဖြင့်ရရှိနိုင်သောအခါ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်ကို အမြင့်ဆုံးမြှင့်တင်ခြင်းသည် စိန်ခေါ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဒါကိုအောင်မြင်ဖို့အတွက် ကျွန်တော်တို့မှာ မှန်ကန်တဲ့ ကျွမ်းကျင်မှုနဲ့ အလင်းပြန်တဲ့ ဒီဇိုင်းကိရိယာတွေ ရှိပါတယ်။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ စင်အောက်ရှိ ထုတ်ကုန်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ ပြည့်စုံသော လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်းနစ် အစိတ်အပိုင်း ကတ်တလောက်ကို ဤနေရာကို နှိပ်၍ ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ . ဤကတ်တလောက်တွင် နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ဘက်ထရီများ၊ ပြောင်းစက်များနှင့် သင့်နေရောင်ခြည်ဆိုင်ရာ ပရောဂျက်များအတွက် အခြားအရာများ ပါဝင်သည်။ ၎င်းကို ထိုနေရာတွင် ရှာမတွေ့ပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပြီး ကျွန်ုပ်တို့ ရရှိနိုင်သည့် အချက်အလက်များကို သင့်ထံ ပေးပို့ပါမည်။ ဆိုလာစနစ်များအပါအဝင် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကြီးမားသောပြည်တွင်း သို့မဟုတ် အသုံးဝင်မှုစကေး ပြန်လည်ပြည့်ဖြိုးမြဲစွမ်းအင်ထုတ်ကုန်များနှင့် စနစ်များကို သင်အများစုစိတ်ဝင်စားပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စွမ်းအင် site သို့လာရောက်ကြည့်ရှုရန် သင့်ကိုဖိတ်ခေါ်ပါသည်။http://www.ags-energy.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Optical Connectors, Adapters, Terminators, Pigtails, Patchcords, Fiber

    Optical Connectors, Adapters, Terminators, Pigtails, Patchcords, Fiber Distribution Box, AGS-TECH Inc. - USA Optical Connectors & Interconnect Products ကျွန်ုပ်တို့ ထောက်ပံ့ပေးသည်- • Optical connector assembly, adapters, terminators, pigtails, patchcords, connector faceplates, shelves, communication racks, fiber distribution box, FTTH node, optical platform. ကျွန်ုပ်တို့တွင် ဆက်သွယ်ရေးအတွက် optical connector တပ်ဆင်မှုနှင့် အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်မှု အစိတ်အပိုင်းများ၊ အလင်းရောင်အတွက် မြင်သာသောအလင်းထုတ်လွှင့်မှု၊ endoscope၊ fiberscope နှင့် အခြားအရာများရှိသည်။ မကြာသေးမီနှစ်များအတွင်း ဤ optical အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်ထုတ်ကုန်များသည် ကုန်စည်များဖြစ်လာပြီး သင်ယခုပေးရမည့်စျေးနှုန်း၏ တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းအတွက် ၎င်းတို့ထံမှ ၎င်းတို့ကို သင်ဝယ်ယူနိုင်ပါသည်။ ဝယ်ယူမှုကုန်ကျစရိတ်ကို လျှော့ချရန် ထက်မြက်သူများသာ ယနေ့ကမ္ဘာ့စီးပွားရေးတွင် ရှင်သန်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Masonry Cutting Shaping Tools, USA, AGS-TECH Inc.

    High quality Masonry Cutting and Shaping Tools including universal drills, glass tile drill bits, chisel, hammer drill bits, masonry drill bits, TCT core drills, diamond core drills, SDS chuck adapter, and more. ပန်းရံဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့် ပုံဖော်ခြင်း ကိရိယာများ Masonry သည် ကျောက်၊ အုတ် သို့မဟုတ် ကွန်ကရစ်ကို အသုံးပြု၍ လုပ်ဆောင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ ပန်းရန်ဖြတ်ခြင်း၊ ပုံသွင်းခြင်းကိရိယာများသည် ဓါးများ၊ အစမ်းများ၊ တူးစက်များ၊ ပုဇွန်များ စသည်တို့ကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ ကျောက်များ၊ အုတ်များနှင့် concrete. cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ ကျေးဇူးပြု၍ ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် အောက်ပါလင့်ခ်ကိုနှိပ်ပါ။ (ထုတ်ကုန်၏အမည်ကို မောက်စ်ပေါ်တင်ပြီး ၎င်းကိုနှိပ်ပါ။) ကျွန်ုပ်တို့တွင် ကျယ်ပြန့်သော ရောင်စဉ်များ ရှိသည်_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58dbb-136bad5cf58dbb-138d58d_cutting_suitable3cc18d58d_9b1938d58d_suite-18cf58d_bshaft-3cc18 မည်သည့် application မဆိုနီးပါး။ အဲဒီမှာ a ပန်းရန်မျိုးစုံ ဖြတ်တောက်ခြင်း & ပုံသွင်းကိရိယာများ ဖြတ်တောက်ခြင်း & ပုံသွင်းကိရိယာများ_cc781905-5cde-5cde-3db နှင့် ကွဲပြားခြားနားသောပစ္စည်း၊ ဒီမှာ သူတို့အားလုံးကို တင်ပြဖို့ မဖြစ်နိုင်ပါဘူး။ သင်ရှာမတွေ့ပါက သို့မဟုတ် မည်သည့်ပန်းရံ cutting and shaping tools သင့်မျှော်လင့်ချက်များနှင့် ပြည့်မီမည်ကို မသေချာပါက၊ မည်သည့်ထုတ်ကုန်သည် သင့်အတွက် အသင့်တော်ဆုံးဖြစ်သည်ကို ကျွန်ုပ်တို့ ဆုံးဖြတ်နိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့ကို ဆက်သွယ်သောအခါ၊ ကျေးဇူးပြု၍ ကျေးဇူးပြု၍ သင်သိပါက သင့်လျှောက်လွှာ၊ အတိုင်းအတာ၊ ပစ္စည်းအဆင့်၊_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad_9b5-3194-bb3b-136bad_9b5-988 136bad5cf58d_finishing လိုအပ်ချက်များ၊ ထုပ်ပိုးခြင်းနှင့် တံဆိပ်ကပ်ခြင်း လိုအပ်ချက်များနှင့် သင်၏စီစဉ်ထားသော မှာယူမှု၏ သင်တန်းအရေအတွက်။ Universal Drills အသစ်များ!! Glass Tile Drill Bits ငရုတ်သီး Cold Chisel & Punch တူတူအတုံးများ (SDS) ပန်းရံအရွတ်များ TCT Core Drills များ Diamond Core လေ့ကျင့်မှုများ SDS Chuck Adapter ကျွန်ုပ်တို့၏နည်းပညာဆိုင်ရာစွမ်းရည်များ and ကိုးကားလမ်းညွှန်ကိုဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ in ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ၊ သွားဘက်ဆိုင်ရာ၊ တိကျသောကိရိယာတန်ဆာပလာများ၊ သတ္တုထုထည်ပြုလုပ်ခြင်း၊ သေဆုံးဖွဲ့စည်းခြင်း နှင့် အခြားစက်မှုလုပ်ငန်းဆိုင်ရာအသုံးချမှုများတွင် အသုံးပြုသည့် အထူးသီးသန့်ဖြတ်တောက်ခြင်း၊ တူးဖော်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်းအတွက်၊ CLICK Product Finder-Locator Service ဖြတ်တောက်ခြင်း၊ တူးဖော်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်း၊ ပွတ်ခြင်း၊ ပွတ်ခြင်း၊ တုံးခြင်းနှင့် ပုံသွင်းခြင်း ကိရိယာများ Menu သို့သွားရန် ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ Ref. ကုဒ်- OICASOSTAR

  • Hardness Tester - Rockwell - Brinell - Vickers - Leeb - Microhardness

    Hardness Tester - Rockwell - Brinell - Vickers - Leeb - Microhardness - Universal - AGS-TECH Inc. - New Mexico - USA မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများ AGS-TECH Inc. တွင် ROCKWELL၊ BRINELL၊ VICKERS၊ LEEB၊ KNOOP၊ MICROHARDNESS TESTERS နှင့် UNIVERSAL ဆော့ဖ်ဝဲလ်တိုင်းတာမှုစနစ်များအတွက် ဆော့ဖ်ဝဲ၊ ရယူခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း၊ စမ်းသပ်ပိတ်ဆို့ခြင်း၊ အင်တင်းများ၊ anvils နှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ။ ကျွန်ုပ်တို့ရောင်းချနေသော ကုန်အမှတ်တံဆိပ်အမည်ခံ မာကျောမှုစမ်းသပ်သူအချို့မှာ SADT, SINOAGE and and_cc781905-5c781905-5. ကျွန်ုပ်တို့၏ SADT အမှတ်တံဆိပ် တိုင်းတာမှုနှင့် စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ သယ်ဆောင်ရနိုင်သော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူ MITECH MH600 အတွက် ဘရိုရှာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ MITECH မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများအကြား ထုတ်ကုန်နှိုင်းယှဉ်မှုဇယားကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် ဤနေရာကို နှိပ်ပါ။ ပစ္စည်းများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် အသုံးအများဆုံး စမ်းသပ်မှုတစ်ခုမှာ မာကျောမှု စမ်းသပ်ခြင်း ဖြစ်သည်။ ပစ္စည်းတစ်ခု၏ မာကျောမှုသည် အမြဲတမ်း အင်တင်းအား ခံနိုင်ရည်ရှိသည်။ မာကျောမှုသည် ခြစ်ရာနှင့် ဝတ်ဆင်ရန် ခံနိုင်ရည်ရှိသော ပစ္စည်းတစ်ခုဟုလည်း ဆိုနိုင်သည်။ ဂျီဩမေတြီများနှင့် ပစ္စည်းအမျိုးမျိုးကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရန် နည်းပညာများစွာ ရှိပါသည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များသည် အကြွင်းမဲ့မဟုတ်ပါ၊ ၎င်းတို့သည် နှိုင်းရနှိုင်းယှဥ်ပြချက်တစ်ခုသာဖြစ်သည်၊ ရလဒ်များသည် indenter ၏ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ထည့်သွင်းထားသောဝန်ပေါ်တွင်မူတည်သောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ သယ်ဆောင်ရနိုင်သော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများသည် ယေဘုယျအားဖြင့် အထက်တွင်ဖော်ပြထားသော မည်သည့် မာကျောမှုစမ်းသပ်မှုကိုမဆို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ၎င်းတို့ကို အပေါက်အတွင်းပိုင်း၊ ဂီယာသွားများကဲ့သို့သော သီးခြားဂျီဩမေတြီအင်္ဂါရပ်များနှင့် ပစ္စည်းများအတွက် ပြင်ဆင်သတ်မှတ်နိုင်သည်။ အမျိုးမျိုးသော မာကျောမှုစမ်းသပ်နည်းများကို အကျဉ်းချုပ်ကြည့်ကြပါစို့။ BRINELL TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင်၊ အချင်း 10 မီလီမီတာရှိသော သံမဏိ သို့မဟုတ် တန်စတင်ကာဗိုက်ဘောလုံးကို 500၊ 1500 သို့မဟုတ် 3000 Kg အလေးချိန်ရှိသော မျက်နှာပြင်နှင့် ဖိထားသည်။ Brinell hardness နံပါတ်သည် ဝန်၏ ကွေးညွှတ်ဧရိယာနှင့် အချိုးဖြစ်သည်။ Brinell စမ်းသပ်မှုတစ်ခုသည် စမ်းသပ်ထားသော ပစ္စည်း၏ အခြေအနေပေါ် မူတည်၍ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အမျိုးမျိုးသော အထင်အမြင်များကို ချန်ထားခဲ့သည် ။ ဥပမာအားဖြင့်၊ အအေးခံထားသော ပစ္စည်းများတွင် လုံးဝန်းသော ပရိုဖိုင်ကို ချန်ထားသော်လည်း၊ အအေးခံထားသော ပစ္စည်းများပေါ်တွင် ချွန်ထက်သော ပရိုဖိုင်ကို ကျွန်ုပ်တို့ သတိပြုမိပါသည်။ Tungsten carbide indenter balls များကို 500 ထက်မြင့်သော Brinell hardness နံပါတ်များအတွက် အကြံပြုထားပါသည်။ ပိုမိုခက်ခဲသော workpiece ပစ္စည်းများအတွက် 1500 Kg သို့မဟုတ် 3000 Kg load ကို တိကျစွာတိုင်းတာရန်အတွက် နောက်ကျကျန်ခဲ့သော impressions များသည် လုံလောက်စွာကြီးမားစေရန် အကြံပြုအပ်ပါသည်။ မတူညီသောဝန်များတွင်တူညီသောအင်တင်းမှပြုလုပ်သော impressions များသည်ဂျီဩမေတြီအရတူညီခြင်းမရှိသောကြောင့် Brinell hardness နံပါတ်သည်အသုံးပြုသော load ပေါ်တွင်မူတည်သည်။ ထို့ကြောင့် စာမေးပွဲရလဒ်များတွင် အလုပ်ခန့်ထားသော ဝန်ကို အမြဲသတိပြုသင့်သည်။ Brinell test သည် မာကျောမှုနည်းသော အလယ်အလတ်ကြားရှိ ပစ္စည်းများအတွက် သင့်လျော်ပါသည်။ ROCKWELL TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင် ထိုးဖောက်မှုအတိမ်အနက်ကို တိုင်းတာသည်။ Indenter ကို အစပိုင်းတွင် minor load နှင့် major load ဖြင့် မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဖိထားသည်။ ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှုကြွေးမြီ ကွာခြားချက်သည် မာကျောမှုအတိုင်းအတာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Rockwell မာကျောမှုစကေးများစွာသည် မတူညီသောဝန်များ၊ အတွင်းပိုင်းပစ္စည်းများနှင့် ဂျီသြမေတြီများကို အသုံးပြုထားသည်။ Rockwell hardness နံပါတ်ကို စမ်းသပ်စက်ပေါ်ရှိ ဒိုင်ခွက်မှ တိုက်ရိုက်ဖတ်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ hardness နံပါတ် 55 ဖြစ်ပါက C scale ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းကို 55 HRC အဖြစ် ရေးထားသည်။ VICKERS TEST - တစ်ခါတစ်ရံတွင် the DIAMOND မှစိန်ပုံသဏ္ဌာန် PYRAMID HARDNESS a Tramid1 မှ 10% အထိ စိန်ကို အသုံးပြုပါသည်။ Vickers မာကျောမှုနံပါတ်ကို HV=1.854P/square L ဖြင့်ပေးပါသည်။ L သည် စိန်ပိရမစ်၏ထောင့်ဖြတ်အရှည်ဖြစ်သည်။ Vickers test သည် ဝန်မည်မျှပင်ဖြစ်စေ အခြေခံအားဖြင့် တူညီသော မာကျောမှုနံပါတ်ကိုပေးသည်။ Vickers Test သည် အလွန်မာကျောသောပစ္စည်းများ အပါအဝင် ကျယ်ပြန့်သော မာကျောမှုရှိသော ပစ္စည်းများ စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ KNOOP TEST - ဤစမ်းသပ်မှုတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ရှည်လျားသောပိရမစ်ပုံသဏ္ဍာန်ရှိ စိန် indenter ကိုအသုံးပြုပြီး 25g မှ 5 Kg အကြားတင်ပါသည်။ Knoop မာကျောမှုနံပါတ်ကို HK=14.2P / စတုရန်း L အဖြစ်ပေးထားသည်။ ဤနေရာတွင် စာလုံး L သည် ရှည်လျားသောထောင့်ဖြတ်၏အရှည်ဖြစ်သည်။ Knoop စမ်းသပ်မှုများတွင် ရေးထိုးထားသော အရွယ်အစားသည် 0.01 မှ 0.10 မီလီမီတာ အကွာအဝေးတွင် သေးငယ်သည်။ ဤသေးငယ်သောအရေအတွက်ကြောင့် ပစ္စည်းအတွက် မျက်နှာပြင်ပြင်ဆင်မှုသည် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။ ရရှိသော မာကျောမှု နံပါတ်သည် ထည့်သွင်းထားသော ဝန်ပေါ်တွင် မူတည်သောကြောင့် စမ်းသပ်မှုရလဒ်များသည် အသုံးပြုထားသော ဝန်ကို ကိုးကားထားသင့်သည်။ ပေါ့ပါးသောဝန်များကိုအသုံးပြုထားသောကြောင့် Knoop စမ်းသပ်မှုကို a MICROHARDNESS TEST ဟုယူဆပါသည်။ ထို့ကြောင့် Knoop စမ်းသပ်မှုသည် အလွန်သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသောနမူနာများ၊ ကျောက်မျက်ရတနာများ၊ ဖန်နှင့် ကာဗိုက်များကဲ့သို့သော ကြွပ်ဆတ်သောပစ္စည်းများနှင့် သတ္တုတစ်ခုစီရှိ အစေ့အဆန်များ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရန်အတွက်ပင် သင့်လျော်ပါသည်။ LEEB HARDNESS TEST - ၎င်းသည် Leeb ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည့် ပြန်လှန်နည်းပညာကို အခြေခံထားသည်။ ၎င်းသည် လွယ်ကူပြီး စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ရေပန်းစားသော နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤအိတ်ဆောင်နည်းလမ်းကို 1 ကီလိုဂရမ်အထက် လုံလောက်သောကြီးမားသော workpieces များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အများအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။ မာကျောသောသတ္တုစမ်းသပ်မှုထိပ်ဖျားပါသည့် အကျိုးသက်ရောက်မှုကိုယ်ထည်ကို workpiece မျက်နှာပြင်ကို စပရိန်တွန်းအားဖြင့် တွန်းပို့သည်။ သက်ရောက်မှုကိုယ်ထည်သည် အလုပ်ခွင်ကိုထိသည့်အခါ၊ မျက်နှာပြင်ပုံသဏ္ဍာန်ဖြစ်ပေါ်ပြီး အရွေ့စွမ်းအင်ဆုံးရှုံးသွားမည်ဖြစ်သည်။ အလျင်တိုင်းတာမှုများသည် အရွေ့စွမ်းအင်တွင် ဤဆုံးရှုံးမှုကို ဖော်ပြသည်။ ထိခိုက်မှုကိုယ်ထည်သည် မျက်နှာပြင်မှ တိကျသောအကွာအဝေးတွင် ကွိုင်ကိုဖြတ်သန်းသောအခါ၊ စမ်းသပ်မှု၏သက်ရောက်မှုနှင့် ပြန်လည်ပတ်မှုအဆင့်များအတွင်း အချက်ပြဗို့အားကို လှုံ့ဆော်ပေးသည်။ ဤဗို့အားများသည် အလျင်နှင့် အချိုးကျပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်အချက်ပြမှု လုပ်ဆောင်ခြင်းကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် ပြသမှုမှ Leeb မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ရရှိသည်။ Our PORTABLE HARDNESS TESTERS from SADT / HARTIP HARDNESS TESTER SADT HARTIP2000/HARTIP2000 D&DL - ၎င်းသည် HARTIP 2000 ကို universal hardness tester (UA) အကျိုးသက်ရောက်မှုရှိစေသည့် ဆန်းသစ်သော ခရီးဆောင် Leeb hardness tester တစ်ခုဖြစ်သည်။ တိုင်းတာခြင်းများကို မည်သည့်ထောင့်တွင်မဆို ပြုလုပ်သည့်အခါ အကျိုးသက်ရောက်မှု ဦးတည်ချက်ကို သတ်မှတ်ရန် မလိုအပ်ပါ။ ထို့ကြောင့်၊ HARTIP 2000 သည် ထောင့်လျော်ကြေးပေးသည့်နည်းလမ်းနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက linear တိကျမှုကို ပေးပါသည်။ HARTIP 2000 သည် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာစေသော မာကျောမှုစမ်းသပ်သူဖြစ်ပြီး အခြားအင်္ဂါရပ်များစွာရှိသည်။ HARTIP2000 DL တွင် SADT ထူးခြားသော D နှင့် DL 2-in-1 probe တပ်ဆင်ထားသည်။ SADT HARTIP1800 Plus/1800 Plus D&DL - ဤစက်ပစ္စည်းသည် အင်္ဂါရပ်များစွာဖြင့် အဆင့်မြင့် လက်ဝါးအရွယ် သတ္တုမာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ မူပိုင်ခွင့်နည်းပညာကိုအသုံးပြု၍ SADT HARTIP1800 Plus သည် မျိုးဆက်သစ်ထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ မြင့်မားသောစာချုပ် OLED မျက်နှာပြင်နှင့် ကျယ်ပြန့်သောပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန်အကွာအဝေး (-40ºC~60ºC) ပါရှိသော မြင့်မားသောတိကျမှု +/-2 HL (သို့မဟုတ် 0.3% @HL800) ရှိသည်။ 360k ဒေတာပါရှိသော ဘလောက် 400 တွင် ကြီးမားသောအမှတ်တရများအပြင် HARTIP1800 Plus သည် တိုင်းတာထားသောဒေတာကို PC သို့ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပြီး USB အပေါက်ဖြင့် ပရင်တာအသေးစားသို့ ပရင့်ထုတ်နိုင်ပြီး အတွင်းပိုင်း blue-tooth module ဖြင့် ကြိုးမဲ့စနစ်ဖြင့် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ဘက်ထရီကို USB အပေါက်ကနေ ရိုးရိုးအားသွင်းနိုင်ပါတယ်။ ၎င်းတွင် ဖောက်သည်ပြန်လည်ချိန်ညှိခြင်းနှင့် statics လုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသည်။ HARTIP 1800 plus D&DL တွင် two-in-one probe တပ်ဆင်ထားပါသည်။ ထူးခြားသော two-in-one probe ဖြင့် HARTIP1800plus D&DL သည် ထိခိုက်မှုကိုယ်ထည်ကို ပြောင်းလဲခြင်းဖြင့် probe D နှင့် probe DL ကြားသို့ ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ တစ်ဦးချင်းဝယ်တာထက် ပိုသက်သာပါတယ်။ ၎င်းတွင် two-in-one probe မှလွဲ၍ HARTIP1800 plus နှင့် တူညီသောဖွဲ့စည်းပုံရှိသည်။ SADT HARTIP1800 Basic/1800 Basic D&DL - ဤသည်မှာ HARTIP1800plus အတွက် အခြေခံမော်ဒယ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ HARTIP1800 plus ၏ အဓိကလုပ်ဆောင်ချက်အများစုနှင့် စျေးနှုန်းသက်သာစွာဖြင့်၊ HARTIP1800 Basic သည် အကန့်အသတ်ရှိသော ဘတ်ဂျက်ရှိသော သုံးစွဲသူများအတွက် ကောင်းမွန်သောရွေးချယ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ HARTIP1800 Basic ကိုလည်း ကျွန်ုပ်တို့၏ထူးခြားသော D/DL two-in-one impact device ဖြင့် တပ်ဆင်နိုင်ပါသည်။ SADT HARTIP 3000 - ၎င်းသည် မြင့်မားသောတိကျမှု၊ ကျယ်ပြန့်သောတိုင်းတာမှုအကွာအဝေးနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူသောအဆင့်မြင့်လက်ကိုင်ဒစ်ဂျစ်တယ်သတ္တုမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ ပါဝါ၊ ရေနံဓာတု၊ အာကာသယာဉ်၊ မော်တော်ယာဥ်နှင့် စက်တည်ဆောက်ရေးလုပ်ငန်းများတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုနေသည့် ကြီးမားသောဖွဲ့စည်းပုံနှင့် တပ်ဆင်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် အထူးသဖြင့် သတ္တုများအားလုံး၏ မာကျောမှုကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ SADT HARTIP1500/HARTIP1000 - ၎င်းသည် ပေါင်းစပ်ကိရိယာ (စုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း) နှင့် ပရိုဆက်ဆာကို ယူနစ်တစ်ခုအဖြစ် ပေါင်းစပ်ထားသည့် ပေါင်းစပ်လက်ကိုင်သတ္တုမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာဖြစ်သည်။ HARTIP 1500/1000 သည် ပုံမှန်တိုင်းတာမှုအခြေအနေများကိုသာမက ကျဉ်းမြောင်းသောနေရာများတွင်ပါ တိုင်းတာနိုင်စေသည့် အရွယ်အစားထက် များစွာသေးငယ်ပါသည်။ HARTIP 1500/1000 သည် သံဓာတ်နှင့် သတ္တုမဟုတ်သော ပစ္စည်းအားလုံးနီးပါး၏ မာကျောမှုကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။ ၎င်း၏နည်းပညာအသစ်ဖြင့်၊ ၎င်း၏တိကျမှုကို စံအမျိုးအစားထက် ပိုမိုမြင့်မားသောအဆင့်သို့ မြှင့်တင်ထားသည်။ HARTIP 1500/1000 သည် ၎င်း၏အတန်းတွင် စီးပွားရေးအမာကျောဆုံး စမ်းသပ်သူများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။ BRINELL ခက်ခက်ခဲခဲ ဖတ်ရှုခြင်း အလိုအလျောက် တိုင်းတာခြင်းစနစ် / SADT HB SCALER - HB Scaler သည် Bllrine ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာခြင်း နှင့် Bllrine ၏ အရွယ်အစားကို အလိုအလျောက် တိုင်းတာပေးသည့် အလင်းပိုင်း တိုင်းတာသည့် စနစ်ဖြစ်သည်။ တန်ဖိုးများနှင့် ညွှန်ပြထားသော ပုံအားလုံးကို PC တွင် သိမ်းဆည်းနိုင်ပါသည်။ ဆော့ဖ်ဝဲလ်ဖြင့်၊ တန်ဖိုးအားလုံးကို အစီရင်ခံစာအဖြစ် ထုတ်ယူနိုင်ပြီး ပုံနှိပ်ထုတ်ဝေနိုင်သည်။ Our BENCH HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HR-150A ROCKWELL HARDNESS TESTER - ကိုယ်တိုင်လုပ်ဆောင်သည့် HR-150A Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် ၎င်း၏ပြီးပြည့်စုံမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုအတွက် လူသိများသည်။ ဤစက်သည် နိုင်ငံတကာ Rockwell စံနှုန်းနှင့်အညီ 10kgf နှင့် ပင်မဝန် 60/100/150 ကီလိုဂရမ်ကို အသုံးပြုထားသည်။ စမ်းသပ်မှုတစ်ခုစီပြီးနောက်၊ HR-150A သည် ဒိုင်ခွက်အညွှန်းတွင် Rockwell B သို့မဟုတ် Rockwell C မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ပြသသည်။ ပဏာမစမ်းသပ်မှုအားကို ကိုယ်တိုင်အသုံးပြုရမည်ဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းနောက် မာကျောမှုစမ်းသပ်သူ၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ လီဗာဖြင့် ပင်မဝန်ကို အသုံးချပြီးဖြစ်သည်။ ထုတ်ယူပြီးနောက်၊ ဒိုင်ခွက်သည် မြင့်မားသောတိကျမှုနှင့် ထပ်တလဲလဲနိုင်မှုတို့ဖြင့် တောင်းဆိုထားသော မာကျောမှုတန်ဖိုးကို တိုက်ရိုက်ညွှန်ပြသည်။ SADT HR-150DT MOTORIZED ROCKWELL HARDNESS TESTER - ဤမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာစီးရီးများသည် ၎င်းတို့၏ တိကျမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုတို့အတွက် အသိအမှတ်ပြုထားပြီး၊ နိုင်ငံတကာ ရော့ဝဲလ်စံနှုန်းနှင့်အညီ လုပ်ဆောင်နိုင်မှု အပြည့်အဝရှိသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးထားသည်။ HR-150DT နှင့် HRM-45DT သည် ဒိုင်ခွက်ပေါ်တွင် HRC နှင့် HRB ၏ သီးခြား Rockwell စကေးနှစ်ခုစလုံးကို ပါရှိသည်။ စက်၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ ဒိုင်ခွက်ကိုအသုံးပြု၍ သင့်လျော်သောတွန်းအားကို ကိုယ်တိုင်ချိန်ညှိသင့်သည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HR150DT နှင့် HRM-45DT တို့သည် အပြည့်အဝ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့်အတူ ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- တင်ခြင်း၊ စောင့်ဆိုင်းခြင်း၊ ဖြုတ်ချခြင်းနှင့် အဆုံးတွင် မာကျောမှုကို ပြသပါမည်။ SADT HRS-150 DIGITAL ROCKWELL HARDNESS TESTER - HRS-150 ဒစ်ဂျစ်တယ် Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် အသုံးပြုရလွယ်ကူပြီး လည်ပတ်မှုဘေးကင်းစေရန်အတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ ၎င်းသည် နိုင်ငံတကာ Rockwell စံနှုန်းနှင့် ကိုက်ညီသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးထားသည်။ HRS-150 သည် LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် သတ်မှတ်ထားသော Rockwell စကေးတစ်ခု၏ ရွေးချယ်မှုကို အလိုအလျောက်ပြသမည်ဖြစ်ပြီး မည်သည့်ဝန်ကို အသုံးပြုနေကြောင်း ညွှန်ပြမည်ဖြစ်သည်။ ပေါင်းစည်းထားသော အော်တိုဘရိတ်ယန္တရားသည် အမှားအယွင်းဖြစ်နိုင်ခြေမရှိဘဲ ပဏာမစမ်းသပ်မှုစွမ်းအားကို ကိုယ်တိုင်အသုံးပြုရန် ခွင့်ပြုသည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HRS-150 သည် အပြည့်အ၀ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုတစ်ခုအနေဖြင့် ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- Loading, dwell time, unloading, and computation of hardness value and its display. RS232 အထွက်မှတစ်ဆင့် ပါဝင်သော ပရင်တာသို့ ချိတ်ဆက်ထားသောကြောင့် ရလဒ်အားလုံးကို ပရင့်ထုတ်ရန် ဖြစ်နိုင်သည်။ Our BENCH TYPE SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HRM-45DT မော်တော်ယာဥ် SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER - ဤစီးရီး မာကျောမှု စမ်းသပ်သူများသည် ၎င်းတို့၏ တိကျမှုနှင့် လည်ပတ်ရလွယ်ကူမှုအတွက် အသိအမှတ်ပြုထားပြီး၊ နိုင်ငံတကာ Rock စံနှုန်းအတိုင်း အပြည့်အဝ လုပ်ဆောင်ပါသည်။ Indenter အမျိုးအစားနှင့် စုစုပေါင်းစမ်းသပ်မှုအား ပေါင်းစပ်မှုပေါ်မူတည်၍ Rockwell စကေးတစ်ခုစီအတွက် ထူးခြားသောသင်္ကေတတစ်ခုကို ပေးပါသည်။ HR-150DT နှင့် HRM-45DT သည် ဒိုင်ခွက်ပေါ်တွင် သီးခြား Rockwell စကေး HRC နှင့် HRB နှစ်ခုလုံးကို ပါရှိသည်။ စက်၏ညာဘက်ခြမ်းရှိ ဒိုင်ခွက်ကိုအသုံးပြု၍ သင့်လျော်သောတွန်းအားကို ကိုယ်တိုင်ချိန်ညှိသင့်သည်။ ပဏာမအင်အားကို အသုံးပြုပြီးနောက်၊ HR150DT နှင့် HRM-45DT သည် အပြည့်အ၀ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်ဖြင့် ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ပါမည်- တင်ခြင်း၊ နေရာချထားခြင်း၊ ဖြုတ်ချခြင်းနှင့် အဆုံးတွင် မာကျောမှုကို ပြသပါမည်။ SADT HRMS-45 SUPERFICIAL ROCKWELL HARDNESS TESTER : HRMS-45 Digital Superficial Rockwell Hardness Tester သည် အဆင့်မြင့်စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာများ ပေါင်းစပ်ထားသော ဆန်းသစ်သောထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ LCD နှင့် LED ဒစ်ဂျစ်တယ်ဒိုင်အိုဒစ်များ၏ မျက်နှာပြင်နှစ်ခုသည် ၎င်းကို စံအမျိုးအစားအပေါ်ယံ Rockwell စမ်းသပ်သူ၏ အဆင့်မြှင့်တင်ထားသော ထုတ်ကုန်ဗားရှင်းတစ်ခုဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ပေးသည်။ ၎င်းသည် သံဓာတ်၊ သတ္တုမဟုတ်သော သတ္တုများနှင့် မာကျောသောပစ္စည်းများ၊ ကာဗူရီပြုလုပ်ထားသော နှင့် နိုက်ထရစ်အလွှာများနှင့် အခြားသော ဓာတုဗေဒနည်းဖြင့် ကုသထားသော အလွှာများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည်။ ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာရာတွင်လည်း အသုံးပြုသည်။ SADT XHR-150 ပလပ်စတစ် ROCKWELL HARDNESS TESTER : XHR-150 ပလတ်စတစ်များကို Rockwell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် မော်တာဖြင့်စမ်းသပ်သည့်နည်းလမ်းကိုအသုံးပြုသည်၊ စမ်းသပ်မှုအင်အားကို တင်ဆောင်နိုင်ပြီး အလိုအလျောက် ဖြုတ်ချနိုင်သည်။ လူသားအမှားကို လျှော့ချပြီး လုပ်ဆောင်ရန် လွယ်ကူသည်။ မာကျောသော ပလတ်စတစ်များ၊ ရော်ဘာကြမ်းများ၊ အလူမီနီယံ၊ သံဖြူ၊ ကြေးနီ၊ အပျော့စား သံမဏိ၊ ဓာတု resins၊ tribologic ပစ္စည်းများ စသည်တို့ကို တိုင်းတာရန် အသုံးပြုသည်။ Our BENCH TYPE VICKERS HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HVS-10/50 LOW LOAD VICKERS HARDNESS TESTER - ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖန်သားပြင်နှင့်အတူ ဤဝန်အားနည်းပါးသော Vicker ၏ မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် နည်းပညာမြင့်နည်းပညာသုံး ထုတ်ကုန်အသစ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ရိုးရာသေးငယ်သော Vicker ၏ မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများအတွက် အစားထိုးအနေဖြင့် ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသောနမူနာများ သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသည့် လွယ်ကူသောလုပ်ဆောင်ချက်နှင့် ကောင်းမွန်သောယုံကြည်စိတ်ချရမှုတို့ပါဝင်သည်။ သုတေသနအင်စတီကျုများ၊ စက်မှုဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်၊ ၎င်းသည် သုတေသနနှင့် တိုင်းတာခြင်းရည်ရွယ်ချက်များအတွက် စံပြမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် ကွန်ပျူတာ ပရိုဂရမ်းမင်းနည်းပညာ၊ ကြည်လင်ပြတ်သားမှု မြင့်မားသော optical တိုင်းတာရေးစနစ်နှင့် ဓာတ်ပုံလျှပ်စစ်နည်းပညာ၊ soft key ထည့်သွင်းမှု၊ အလင်းရင်းမြစ် ချိန်ညှိမှု၊ ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်မှုပုံစံ၊ ပြောင်းလဲခြင်းဇယားများ၊ ဖိအားကိုင်ချိန်၊ ဖိုင်နံပါတ်ထည့်သွင်းမှုနှင့် ဒေတာသိမ်းဆည်းခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်များကို ပေါင်းစပ်ပေးပါသည်။ ၎င်းတွင် စမ်းသပ်မှုမော်ဒယ်၊ စမ်းသပ်မှုဖိအား၊ အညွှန်းအရှည်၊ မာကျောမှုတန်ဖိုးများ၊ ဖိအားထိန်းချိန်နှင့် စစ်ဆေးမှုနံပါတ်များကို ပြသရန် ကြီးမားသော LCD မျက်နှာပြင်ပါရှိသည်။ RS232 အင်တာဖေ့စ်မှတဆင့် ရက်စွဲမှတ်တမ်းတင်ခြင်း၊ စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို မှတ်တမ်းတင်ခြင်းနှင့် ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်း၊ ပရင့်ထုတ်ခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်တို့ကိုလည်း ကမ်းလှမ်းထားပါသည်။ SADT HV-10/50 LOW LOAD VICKERS HARDNESS TESTER - ဤဝန်အားနည်းပါးသော Vickers မာကျောမှုစမ်းသပ်သူများသည် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် ဓါတ်ပုံဆိုင်ရာနည်းပညာများပေါင်းစပ်ထားသော အဆင့်မြင့်နည်းပညာသုံး ထုတ်ကုန်အသစ်များဖြစ်သည်။ ဤစမ်းသပ်သူများသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်ပြီး ပါးလွှာသော နမူနာများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားပါသည်။ သုတေသနဌာနများ၊ စက်မှုဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်။ သော့ချက်အင်္ဂါရပ်များနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များမှာ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာထိန်းချုပ်မှု၊ ဆော့ဖ်ဝဲခလုတ်များမှတစ်ဆင့် အလင်းရင်းမြစ်ကို ချိန်ညှိမှု၊ ဖိအားထိန်းချိန်နှင့် LED/LCD မျက်နှာပြင် ချိန်ညှိမှု၊ ၎င်း၏ထူးခြားသော တိုင်းတာမှုပြောင်းလဲခြင်းကိရိယာနှင့် ထူးခြားသော မိုက်ခရိုမျက်မှန်တစ်ချပ်ကို တစ်ကြိမ်တည်း တိုင်းတာမှု ဖတ်ရှုနိုင်သည့် ကိရိယာဖြစ်သည်။ SADT HV-30 VICKERS HARDNESS TESTER - HV-30 မော်ဒယ် Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာသည် မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံလွှာပြီးနောက် သေးငယ်ပြီး ပါးလွှာသော နမူနာများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ သုတေသနအင်စတီကျုများ၊ စက်ရုံဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် QC ဌာနများအတွက် သင့်လျော်သည်၊ ၎င်းတို့သည် သုတေသနနှင့် စမ်းသပ်မှုရည်ရွယ်ချက်များအတွက် စံပြမာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ အဓိကအင်္ဂါရပ်များနှင့် လုပ်ဆောင်ချက်များမှာ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာထိန်းချုပ်မှု၊ အလိုအလျောက်တင်ခြင်းနှင့် ဖြုတ်ချခြင်းယန္တရား၊ ဟာ့ဒ်ဝဲမှတစ်ဆင့် အလင်းရောင်အရင်းအမြစ်ကို ချိန်ညှိခြင်း၊ ဖိအားထိန်းထားချိန် (0 ~ 30s)၊ ထူးခြားသောတိုင်းတာမှုအဖြစ်ပြောင်းလဲခြင်းကိရိယာနှင့် ထူးခြားသော micro eyepiece တစ်ကြိမ်တည်းဖြင့် တိုင်းတာခြင်းဖတ်ရှုခြင်းကိရိယာ၊ လွယ်ကူကြောင်း သေချာစေပါသည်။ အသုံးပြုမှုနှင့် မြင့်မားသော တိကျမှု။ Our BENCH TYPE MICRO HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HV-1000 MICRO HARDNESS TESTER / HVS-1000 DIGITAL MICRO HARDNESS TESTER - ဤထုတ်ကုန်သည် သေးငယ်သော၊ ပါးလွှာသော ကြွေထည်ပစ္စည်းများ၊ သတ္တုပြားနမူနာများကဲ့သို့ မြင့်မားသောတိကျမာကျောမှုစမ်းသပ်ခြင်း၊ မာကျောသောအလွှာများ။ ကျေနပ်လောက်သော အရိပ်အယောင်ကို သေချာစေရန်၊ HV1000 / HVS1000 တွင် အလိုအလျောက် တင်ခြင်းနှင့် ဖြုတ်ချခြင်း လုပ်ဆောင်ချက်များ၊ အလွန်တိကျသော ဝန်တင်ယန္တရားနှင့် ကြံ့ခိုင်သော လီဗာစနစ်တို့ပါရှိသည်။ မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာ ထိန်းချုပ်မှုစနစ်သည် ချိန်ညှိနိုင်သော နေထိုင်ချိန်နှင့်အတူ လုံးဝတိကျသော မာကျောမှုတိုင်းတာမှုကို သေချာစေသည်။ SADT DHV-1000 MICRO HARDNESS TESTER / DHV-1000Z DIGITAL VICKERS HARDNESS TESTER - ဤမိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် ပိုမိုတိကျပြတ်သားသော ဒီဇိုင်းဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော ဤမိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများ။ 20 × မှန်ဘီလူးနှင့် 40 × မှန်ဘီလူးဖြင့် တူရိယာသည် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော တိုင်းတာမှုနယ်ပယ်နှင့် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော အသုံးချမှုအကွာအဝေးရှိသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းဖြင့် တပ်ဆင်ထားပြီး၊ ၎င်း၏ LCD ဖန်သားပြင်တွင် တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းများ၊ စမ်းသပ်မှု အင်အား၊ ညွှန်ပြမှု အလျား၊ မာကျောမှုတန်ဖိုး၊ စမ်းသပ်မှု အင်အား၏ နေထိုင်ချိန်နှင့် တိုင်းတာမှုအရေအတွက်တို့ကို ပြသထားသည်။ ထို့အပြင် ၎င်းတွင် ဒစ်ဂျစ်တယ်ကင်မရာနှင့် CCD ဗီဒီယိုကင်မရာနှင့် ချိတ်ဆက်ထားသည့် အင်တာဖေ့စ်ကို တပ်ဆင်ထားသည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာအား သံသတ္တုများ၊ သံမဟုတ်သောသတ္တုများ၊ IC ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၊ အပေါ်ယံပိုင်း၊ ဖန်၊ ကြွေထည်များ၊ အဖိုးတန်ကျောက်များ၊ ခိုင်မာသောအလွှာများနှင့် အခြားအရာများကို တိုင်းတာရန်အတွက် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုပါသည်။ SADT DXHV-1000 DIGITAL MICRO HARDNESS TESTER - ထူးခြားတိကျသော မိုက်ခရို Vickers မာကျောမှု စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် ပိုမိုရှင်းလင်းသော အင်တင်းကို ထုတ်လုပ်နိုင်ပြီး ထို့ကြောင့် ပိုမိုတိကျသော တိုင်းတာမှုများ ပြုလုပ်နိုင်သည်။ 20 × မှန်ဘီလူးနှင့် 40 × မှန်ဘီလူးများဖြင့် စမ်းသပ်သူသည် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော တိုင်းတာမှုအကွက်နှင့် ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော အသုံးချပရိုဂရမ်အကွာအဝေးရှိသည်။ အလိုအလျောက်လှည့်သည့်ကိရိယာ (အလိုအလျောက်လှည့်သည့်တိုင်တံ) ဖြင့် လည်ပတ်မှုပိုမိုလွယ်ကူလာသည်။ threaded interface ဖြင့်၎င်းကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ကင်မရာနှင့် CCD ဗီဒီယိုကင်မရာနှင့် ချိတ်ဆက်နိုင်သည်။ ပထမဦးစွာ စက်ပစ္စည်းသည် LCD ထိတွေ့မျက်နှာပြင်ကို အသုံးပြုခွင့်ပေးပြီး လုပ်ဆောင်ချက်ကို လူသားတို့ ပိုမိုထိန်းချုပ်နိုင်စေပါသည်။ စက်ပစ္စည်းတွင် တိုင်းတာချက်များကို တိုက်ရိုက်ဖတ်ရှုခြင်း၊ မာကျောမှုစကေးများကို လွယ်ကူစွာပြောင်းလဲခြင်း၊ ဒေတာသိမ်းဆည်းခြင်း၊ ပုံနှိပ်ခြင်းနှင့် RS232 ကြားခံချိတ်ဆက်ခြင်းတို့ကဲ့သို့သော စွမ်းရည်များရှိသည်။ ဤစမ်းသပ်ကိရိယာကို သံသတ္တုများ၊ သံမဟုတ်သောသတ္တုများ၊ IC ပါးလွှာသောအပိုင်းများ၊ အပေါ်ယံပိုင်း၊ ဖန်၊ ကြွေထည်များ၊ ပါးလွှာသော ပလပ်စတစ်အပိုင်းများ၊ မာကျောသော အလွှာများနှင့် အခြားအရာများကို ဖယ်ရှားပါ။ Our BENCH TYPE BRINELL HARDNESS TESTER / MULTI-PURPOSE HARDNESS TESTER products from SADT are: SADT HD9-45 SUPERFICIAL ROCKWELL & VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER - ဤကိရိယာသည် သတ္တုများ၊ မာကျောသော သတ္တုနှင့် သတ္တုမဟုတ်သော အလွှာများနှင့် သတ္တုများကို ပြုပြင်ထားသော အလွှာများနှင့် ပါးလွှာသော အလွှာများ၏ မာကျောမှုကို တိုင်းတာသည့် ရည်ရွယ်ချက်ဖြင့် ဆောင်ရွက်ပါသည်။ SADT HBRVU-187.5 BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS OPTICAL HARDNESS TESTER - ဤတူရိယာသည် Brinell၊ Rockwell နှင့် Vickers မာကျောသော သတ္တုအလွှာ၊ ဖာရိုရိုဆက်စထရိအလွှာများ၊ အပင်များ၊ သိပ္ပံနှင့် သုတေသနဌာနများ၊ ဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် ကောလိပ်များတွင် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ SADT HBRV-187.5 BRINELL ROCKWELL နှင့် VICKERS HARDNESS TESTER (NOT OPTICAL) - ဤတူရိယာသည် Brinell၊ Rockwell နှင့် Vickers သတ္တုအမာခံမဟုတ်သော carburrosus သတ္တုအလွှာ၊ ဓာတုနည်းဖြင့် ကုသသော အလွှာများ။ စက်ရုံများ၊ သိပ္ပံနှင့် သုတေသနဌာနများ၊ ဓာတ်ခွဲခန်းများနှင့် ကောလိပ်များတွင် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ ၎င်းသည် optical type hardness tester မဟုတ်ပါ။ SADT HBE-3000A BRINELL HARDNESS TESTER - ဤအလိုအလျောက် Brinell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် 3000 Kgf အထိ တိကျမှုမြင့်မားသော စံချိန်စံညွှန်းနှင့်ကိုက်ညီသော ကျယ်ပြန့်သောတိုင်းတာမှုအတိုင်းအတာတစ်ခုပါရှိသည်။ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်မှုစက်ဝန်းအတွင်း DIN 50351 စံနှုန်းနှင့်အညီ အလုပ်အပိုင်းအပေါ် အဆက်မပြတ်တွန်းအားကို အာမခံသည့် အပိတ်အဝိုင်းစနစ်ဖြင့် အသုံးချအင်အားကို ထိန်းချုပ်မည်ဖြစ်သည်။ HBE-3000A သည် ကျယ်ပြောသောအချက် 20X နှင့် 0.005 မီလီမီတာ မိုက်ခရိုမီတာ ကြည်လင်ပြတ်သားမှု ပါရှိသော စာဖတ်အဏုကြည့်မှန်ခရိုစကုပ်ပါရှိသည်။ SADT HBS-3000 DIGITAL BRINELL HARDNESS TESTER - ဤဒစ်ဂျစ်တယ် Brinell မာကျောမှုစမ်းသပ်ကိရိယာသည် မျိုးဆက်သစ် ခေတ်မီသည့် စက်ပစ္စည်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ သတ္တုနှင့် သံမဏိမဟုတ်သော သတ္တုများ၏ Brinell မာကျောမှုကို ဆုံးဖြတ်ရန် ၎င်းကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ စမ်းသပ်သူသည် အီလက်ထရွန်းနစ်အလိုအလျောက်တင်ခြင်း၊ ကွန်ပျူတာဆော့ဖ်ဝဲပရိုဂရမ်ရေးဆွဲခြင်း၊ စွမ်းအားမြင့် အလင်းကြည့်တိုင်းတာခြင်း၊ ဓာတ်ပုံဆင်ဆာနှင့် အခြားအင်္ဂါရပ်များကို ပေးဆောင်သည်။ လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်မှု လုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုစီနှင့် စမ်းသပ်မှုရလဒ်တစ်ခုစီကို ၎င်း၏ကြီးမားသော LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် ပြသနိုင်သည်။ စာမေးပွဲရလဒ်များကို ရိုက်နှိပ်နိုင်ပါသည်။ စက်ပစ္စည်းသည် ထုတ်လုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်၊ ကောလိပ်များနှင့် သိပ္ပံဆိုင်ရာအဖွဲ့အစည်းများအတွက် သင့်လျော်သည်။ SADT MHB-3000 ဒီဂျစ်တယ်အီလက်ထရွန်းနစ် BRINELL HARDNESS TESTER ဤကိရိယာသည် အလင်း၊ စက်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာများကို ပေါင်းစပ်ထားသော ထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ တိကျသောအပိတ်စနစ်နှင့် ထိန်းချုပ်ထားသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာပုံစံကို အသုံးပြုထားသည်။ ကိရိယာသည် စမ်းသပ်မှုစွမ်းအားကို ၎င်း၏မော်တာဖြင့် တင်ဆောင်ပြီး ဖြုတ်ချသည်။ အချက်အလက်များကို တုံ့ပြန်ရန်နှင့် ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် CPU ကို တုံ့ပြန်ရန် 0.5% တိကျမှု ဖိသိပ်မှုအာရုံခံကိရိယာကို အသုံးပြု၍ တူရိယာသည် မတူညီသော စမ်းသပ်မှုစွမ်းအားများအတွက် အလိုအလျောက် လျော်ကြေးပေးပါသည်။ တူရိယာပေါ်ရှိ ဒစ်ဂျစ်တယ်မိုက်ခရိုမျက်မှန်တပ်ထားသဖြင့်၊ အင်တင်းအလျားကို တိုက်ရိုက်တိုင်းတာနိုင်သည်။ စစ်ဆေးမှုနည်းလမ်း၊ စမ်းသပ်မှုတန်ဖိုး၊ စမ်းသပ်မှု၏ကြာချိန်၊ မာကျောမှုတန်ဖိုးနှင့် စမ်းသပ်မှုအင်အားကို LCD ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် ပြသနိုင်သည်။ indentation အတွက် ထောင့်ဖြတ်အရှည်၏တန်ဖိုးကို ထည့်သွင်းရန် မလိုအပ်ဘဲ မာကျောမှုဇယားမှ မာကျောမှုတန်ဖိုးကို ရှာဖွေရန် မလိုအပ်ပါ။ ထို့ကြောင့် ဒေတာဖတ်ခြင်းသည် ပိုမိုတိကျပြီး ဤကိရိယာ၏ လုပ်ဆောင်မှုမှာ ပိုမိုလွယ်ကူပါသည်။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Test Equipment for Textiles Testing

    Test Equipment for Textiles Testing, Air Permeability Tester, Elmendorf Tearing Tester, Rubbing Fastness Tester for Textile, Spray Rate Tester အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်သူများ အီလက်ထရွန်းနစ်စမ်းသပ်စက် ဟူသော အသုံးအနှုန်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ခြင်း၊ စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအတွက် အဓိကအသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာများကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် လူကြိုက်အများဆုံးများကို ကမ်းလှမ်းသည်- ပါဝါထောက်ပံ့မှုများနှင့် အမှတ်အသားပေးစက်များ- ပါဝါထောက်ပံ့မှု၊ သင်္ကေတထုတ်ပေးသည့်စက်၊ ကြိမ်နှုန်းစံညှိကိရိယာ၊ လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ၊ PULSE GENERATOR၊ သင်္ကေတအင်ဂျယ်တာ မီတာများ- ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၊ LCR မီတာ၊ EMF မီတာ၊ စွမ်းရည်မြှင့်မီတာ၊ တံတားကိရိယာ၊ ကလစ်မီတာ၊ GAUSSMETER/TESLAMETER/ MAGNETOMETER၊ မြေပြင်ခုခံမှုမီတာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ- OSCILLOSCOPES၊ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ အလင်းတန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၊ Vector Signal Analyzer၊ TIME-DOMAIN ရောင်ပြန်ဟပ်စက်၊ SEMICONDUCTOR မျဉ်းကြောင်းခြေရာခံ၊ ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှု ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ PHASETER အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com လုပ်ငန်းခွင်တစ်လျှောက် နေ့စဉ်အသုံးပြုနေသည့် ဤစက်ပစ္စည်းအချို့ကို အတိုချုပ်ပြောကြပါစို့။ တိုင်းတာမှုဆိုင်ရာရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့ပေးဆောင်သော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့မှုသည် သီးခြား၊ ခုံတန်းလျားနှင့် သီးခြားစက်ပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ချိန်ညှိနိုင်သော စည်းမျဉ်းသတ်မှတ်ထားသော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ၎င်းတို့၏ အထွက်တန်ဖိုးများကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းသည် အဝင်ဗို့အား သို့မဟုတ် ဝန်လျှပ်စီးကြောင်းတွင် ကွဲပြားမှုများရှိနေသော်လည်း ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား (သို့) လျှပ်စီးကြောင်းအား ထိန်းထားနိုင်သောကြောင့် ရေပန်းအစားဆုံးအချို့ဖြစ်သည်။ သီးခြားပါဝါထောက်ပံ့မှုများတွင် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသွင်းအားစုများမှ လျှပ်စစ်ဖြင့် သီးခြားကင်းသော ပါဝါအထွက်များရှိသည်။ ၎င်းတို့၏ ပါဝါကူးပြောင်းမှုနည်းလမ်းပေါ်မူတည်၍ LINEAR နှင့် SWITCHING POWER SUPPLIES များရှိပါသည်။ linear power supply များသည် input power ကို linear regions တွင် အလုပ်လုပ်သော ၎င်းတို့၏ active power converting components များအားလုံးနှင့် တိုက်ရိုက် process လုပ်သည်၊၊ switching power supply တွင် components များသည် non-linear modes (transistor ကဲ့သို့သော transistor များကဲ့သို့) နှင့် power convert မလုပ်မီ AC သို့မဟုတ် DC pulses သို့ ပါဝါမပြောင်းပါ။ လုပ်ဆောင်နေသည်။ ပါဝါပြောင်းခြင်းများသည် ပုံမှန်အားဖြင့် linear ထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများထက် ပိုမိုထိရောက်မှုရှိပြီး ၎င်းတို့၏ အစိတ်အပိုင်းများသည် linear လည်ပတ်မှုဒေသများတွင် အသုံးပြုသည့်အချိန်တိုတောင်းသောကြောင့် ပါဝါလျော့နည်းသွားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ လျှောက်လွှာပေါ်မူတည်၍ DC သို့မဟုတ် AC ပါဝါကို အသုံးပြုသည်။ အခြားရေပန်းစားသော စက်ပစ္စည်းများမှာ RS232 သို့မဟုတ် GPIB ကဲ့သို့သော analog input သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်အင်တာဖေ့စ်မှတဆင့် ဗို့အား၊ လက်ရှိ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းကို အဝေးမှထိန်းချုပ်နိုင်သည့် ပရိုဂရမ်မာဘလက်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့အများစုတွင် လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်မှုများကို စောင့်ကြည့်ထိန်းချုပ်ရန် အဓိကကျသော မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာတစ်ခုရှိသည်။ ထိုသို့သောတူရိယာများသည် အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းရည်ရွယ်ချက်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ အချို့သော အီလက်ထရွန်နစ် ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ဝန်ပိုနေချိန်တွင် ဓာတ်အားဖြတ်တောက်မည့်အစား လက်ရှိကန့်သတ်ချက်ကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ် ကန့်သတ်ခြင်းကို ဓာတ်ခွဲခန်း ခုံတန်းလျား အမျိုးအစားတူရိယာများတွင် အသုံးများသည်။ SIGNAL GENERATORS များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းနှင့် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် အသုံးများသော တူရိယာများဖြစ်ပြီး ထပ်ခါတလဲလဲ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ မဟုတ်သော analog သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ တနည်းအားဖြင့် ၎င်းတို့ကို လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်း ဂျင်နရေတာများဟုလည်း ခေါ်သည်။ Function ဂျင်နရေတာများသည် sine waves၊ step pulses၊ square & triangular နှင့် arbitrary waveforms ကဲ့သို့သော ရိုးရှင်းသော ထပ်တလဲလဲလှိုင်းပုံစံများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ Arbitrary waveform generators ဖြင့် အသုံးပြုသူသည် ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေး၊ တိကျမှုနှင့် အထွက်အဆင့် ကန့်သတ်ချက်များအတွင်း မတရားသော လှိုင်းပုံစံများကို ဖန်တီးနိုင်သည်။ ရိုးရှင်းသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုအတွက် ကန့်သတ်ထားသည့် လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများနှင့် မတူဘဲ၊ မတရားသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန် ဂျင်နရေတာသည် သုံးစွဲသူအား နည်းလမ်းအမျိုးမျိုးဖြင့် အရင်းအမြစ်လှိုင်းပုံစံကို သတ်မှတ်ရန် ခွင့်ပြုသည်။ RF နှင့် MICROWAVE SIGNAL GENERATORများကို ဆယ်လူလာဆက်သွယ်ရေး၊ WiFi၊ GPS၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဂြိုလ်တုဆက်သွယ်ရေးနှင့် ရေဒါများကဲ့သို့သော အက်ပ်များတွင် အစိတ်အပိုင်းများ၊ လက်ခံကိရိယာများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ RF အချက်ပြမီးစက်များသည် ယေဘူယျအားဖြင့် အနည်းငယ် kHz မှ 6 GHz ကြားတွင် အလုပ်လုပ်ကြပြီး၊ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် အချက်ပြမီးစက်များသည် 1 MHz ထက်နည်းသော အနည်းဆုံး 20 GHz နှင့် အထူးဟာ့ဒ်ဝဲကို အသုံးပြုထားသော ရာနှင့်ချီသော GHz အကွာအဝေးအထိ ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းအတွင်း လုပ်ဆောင်နေပါသည်။ RF နှင့် microwave signal generator များကို analog သို့မဟုတ် vector signal generator များအဖြစ် ထပ်မံခွဲခြားနိုင်ပါသည်။ AUDIO-FREQUENCY SIGNAL GENERATORS များသည် အသံ-ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးနှင့် အထက်တွင် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ ၎င်းတို့တွင် အသံပစ္စည်းကိရိယာများ၏ ကြိမ်နှုန်းတုံ့ပြန်မှုကို စစ်ဆေးသည့် အီလက်ထရွန်းနစ်ဓာတ်ခွဲခန်းအက်ပ်များရှိသည်။ Vector SIGNAL GENERATORများ၊ တစ်ခါတစ်ရံ DIGITAL SIGNAL GENERATOR များဟုလည်း ရည်ညွှန်းပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ဖြင့် ပြုပြင်ထားသော ရေဒီယိုအချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်စွမ်းရှိသည်။ Vector signal generator များသည် GSM၊ W-CDMA (UMTS) နှင့် Wi-Fi (IEEE 802.11) ကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းစံနှုန်းများအပေါ် အခြေခံ၍ အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည်။ LOGIC SIGNAL GENERATORများကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ ဟုခေါ်သည်။ ဤဂျင်နရေတာများသည် သမားရိုးကျဗို့အားအဆင့်ပုံစံဖြင့် logic 1s နှင့် 0s ဖြစ်သည့် logic signals အမျိုးအစားများကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ လော့ဂျစ်အချက်ပြမီးစက်များကို ဒစ်ဂျစ်တယ် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များနှင့် မြှုပ်သွင်းထားသော စနစ်များ၏ လုပ်ဆောင်မှုဆိုင်ရာ တရားဝင်အတည်ပြုခြင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် လှုံ့ဆော်မှုအရင်းအမြစ်များအဖြစ် အသုံးပြုပါသည်။ အထက်ဖော်ပြပါ စက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအသုံးပြုရန်အတွက်ဖြစ်သည်။ သို့သော် စိတ်ကြိုက် သီးခြားအက်ပ်လီကေးရှင်းများအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော အခြားသော signal generator များစွာရှိပါသည်။ SIGNAL INJECTOR သည် ဆားကစ်တစ်ခုအတွင်း အချက်ပြခြေရာခံခြင်းအတွက် အလွန်အသုံးဝင်ပြီး အမြန်ပြဿနာဖြေရှင်းရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ နည်းပညာရှင်များသည် ရေဒီယိုလက်ခံကိရိယာကဲ့သို့သော စက်ပစ္စည်းတစ်ခု၏ အမှားအယွင်းအဆင့်ကို လျှင်မြန်စွာ ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ signal injector ကို speaker output သို့ အသုံးချနိုင်ပြီး signal သည် ကြားနိုင်လျှင် circuit ၏ ရှေ့အဆင့်သို့ ရွှေ့နိုင်သည်။ ဤအခြေအနေတွင် အသံချဲ့စက်တစ်ခုနှင့် ထိုးသွင်းထားသော အချက်ပြသံကို ထပ်မံကြားရပါက အချက်ပြမှုအား ပတ်လမ်းကြောင်း၏ အဆင့်များအထိ ရွှေ့နိုင်သည်။ ၎င်းသည် ပြဿနာ၏တည်နေရာကို ရှာဖွေခြင်း၏ ရည်ရွယ်ချက်ကို ဆောင်ရွက်ပေးမည်ဖြစ်သည်။ MULTIMETER သည် ယူနစ်တစ်ခုတွင် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပေါင်းစပ်ထားသော အီလက်ထရွန်နစ် တိုင်းတာရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ယေဘုယျအားဖြင့် multimeters များသည် ဗို့အား၊ လျှပ်စီးကြောင်းနှင့် ခုခံမှုကို တိုင်းတာသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်နှင့် analog ဗားရှင်းနှစ်မျိုးစလုံးကို ရရှိနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော လက်ကိုင်မာလ်တီမီတာယူနစ်များအပြင် ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် မော်ဒယ်များကို အသိအမှတ်ပြု စံကိုက်ညှိပေးပါသည်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် ဗို့အား (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ ဗို့များ၊ လက်ရှိ (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ amperes ၊ ခံနိုင်ရည်ရှိသော ohms ကဲ့သို့သော အတိုင်းအတာများစွာကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ ထို့အပြင်၊ အချို့သော multimeters များသည် အတိုင်းအတာ- farads တွင် စွမ်းဆောင်ရည်၊ siemens တွင် conductance၊ Decibels၊ ရာခိုင်နှုန်းအဖြစ် Duty cycle၊ hertz ရှိ ကြိမ်နှုန်း၊ henries တွင် Inductance၊ အပူချိန် ဒီဂရီစင်တီဂရိတ် သို့မဟုတ် ဖာရင်ဟိုက်တွင် အပူချိန် စမ်းသပ်ကိရိယာကို အသုံးပြုထားသည်။ အချို့သော multimeter များလည်း ပါဝင်သည်- Continuity tester; ဆားကစ်တစ်ခုလုပ်ဆောင်သည့်အခါ အသံများ၊ Diodes (ရှေ့သို့ diode လမ်းဆုံများကို တိုင်းတာခြင်း)၊ ထရန်စစ္စတာများ (လက်ရှိရရှိမှုကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် အခြားကန့်သတ်ချက်များ)၊ ဘက်ထရီစစ်ဆေးခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အလင်းအဆင့်တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အချဉ်ဓာတ်နှင့် အယ်လ်ကာလီနစ် (pH) တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်နှင့် နှိုင်းရစိုထိုင်းဆ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် များသောအားဖြင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ဒစ်ဂျစ်တယ် မာလ်တီမီတာများသည် မက်ထရိုဗေဒနှင့် စမ်းသပ်မှုတွင် အလွန်အစွမ်းထက်သော ကိရိယာများ ဖန်တီးရန် မြှပ်နှံထားသော ကွန်ပျူတာများ ရှိတတ်သည်။ ၎င်းတို့တွင် အောက်ပါကဲ့သို့သော အင်္ဂါရပ်များ ပါဝင်သည်။ • စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏအတွက် မှန်ကန်သောအကွာအဝေးကို ရွေးချယ်ပေးသော အလိုအလျောက်ချိန်ညှိခြင်း ၊ သို့မှသာ အထူးခြားဆုံးသော ဂဏန်းများကို ပြသနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ • တိုက်ရိုက်-လက်ရှိဖတ်ရှုခြင်းအတွက် အလိုအလျောက်ဝင်ပေါက်၊ အသုံးချဗို့အားသည် အပြုသဘော သို့မဟုတ် အနှုတ်ရှိမရှိကို ပြသသည်။ • စမ်းသပ်ဆဲပတ်လမ်းမှ ကိရိယာကို ဖယ်ရှားပြီးနောက် စစ်ဆေးမှုအတွက် နောက်ဆုံးဖတ်ရှုခြင်းအား နမူနာနှင့် ဖိထားပါမည်။ • ဆီမီးကွန်ဒတ်တာလမ်းဆုံများတစ်လျှောက် ဗို့အားကျဆင်းမှုအတွက် လက်ရှိစမ်းသပ်မှုများ။ ထရန်စစ္စတာစမ်းသပ်သူအတွက် အစားထိုးခြင်းမဟုတ်သော်လည်း၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၏ ဤအင်္ဂါရပ်သည် စမ်းသပ်ခြင်း diodes နှင့် transistor ကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည်။ • တိုင်းတာထားသောတန်ဖိုးများတွင် လျင်မြန်သောပြောင်းလဲမှုများကို ပိုမိုကောင်းမွန်စွာမြင်ယောင်နိုင်စေရန် စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏ၏ ဘားဂရပ်ကို ကိုယ်စားပြုခြင်း။ • Bandwidth နည်းသော oscilloscope။ • မော်တော်ယာဥ်အချိန်ကိုက်ခြင်းနှင့် နေထိုင်အချက်ပြမှုများကို စမ်းသပ်မှုများပါရှိသော မော်တော်ယာဥ်ပတ်လမ်းစမ်းသပ်သူများ။ • သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း အများဆုံးနှင့် အနိမ့်ဆုံးဖတ်ရှုမှုများကို မှတ်တမ်းတင်ရန်နှင့် သတ်မှတ်ထားသော ကြားကာလတွင် နမူနာများစွာကို ရယူရန် ဒေတာရယူခြင်း အင်္ဂါရပ်။ •ပေါင်းစပ် LCR မီတာ။ အချို့သော multimeter များသည် ကွန်ပျူတာများနှင့် ဆက်သွယ်နိုင်ပြီး အချို့က တိုင်းတာမှုများကို သိမ်းဆည်းနိုင်ပြီး ၎င်းတို့ကို ကွန်ပျူတာသို့ အပ်လုဒ်လုပ်နိုင်သည်။ အခြားအလွန်အသုံးဝင်သောကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည့် LCR METER သည် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ inductance (L)၊ capacitance (C) နှင့် ခံနိုင်ရည် (R) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် မက်ထရိုဗေဒကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ impedance ကို အတွင်းပိုင်း တိုင်းတာပြီး သက်ဆိုင်ရာ capacitance သို့မဟုတ် inductance တန်ဖိုးသို့ ပြသရန်အတွက် ပြောင်းလဲသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ capacitor သို့မဟုတ် inductor တွင် impedance ၏ သိသာထင်ရှားသော ခံနိုင်ရည်ရှိသော အစိတ်အပိုင်း မရှိပါက စာဖတ်ခြင်းသည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ တိကျပါလိမ့်မည်။ အဆင့်မြင့် LCR မီတာများသည် စစ်မှန်သော inductance နှင့် capacitance တို့ကို တိုင်းတာသည့်အပြင် capacitors များ၏ စီးရီးခုခံမှုနှင့် inductive အစိတ်အပိုင်းများ၏ Q အချက်ကိုလည်း တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ ကိရိယာသည် AC ဗို့အား ရင်းမြစ်တစ်ခုတွင် တပ်ဆင်ထားပြီး မီတာသည် စမ်းသပ်ထားသော ကိရိယာမှတဆင့် လက်ရှိ ဗို့အားကို တိုင်းတာသည်။ မီတာသည် ဗို့အားအချိုးမှ လက်ရှိ impedance ကိုဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ ဗို့အားနှင့်လျှပ်စီးကြောင်းကြားရှိ အဆင့်ထောင့်ကိုလည်း အချို့သောကိရိယာများတွင် တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ထားသော စက်၏ impedance နှင့် ညီမျှသော capacitance သို့မဟုတ် inductance နှင့် resistance ကို တွက်ချက်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ LCR မီတာများတွင် ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်ကြိမ်နှုန်းများ 100 Hz၊ 120 Hz၊ 1 kHz၊ 10 kHz နှင့် 100 kHz ။ Benchtop LCR မီတာများတွင် ပုံမှန်အားဖြင့် 100 kHz ထက်ပို၍ ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်နိုင်သော ကြိမ်နှုန်းများရှိသည်။ ၎င်းတို့တွင် AC တိုင်းတာခြင်းအချက်ပြမှုတွင် DC ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းကို ခြုံငုံမိစေရန် ဖြစ်နိုင်ခြေများ မကြာခဏ ပါဝင်သည်။ အချို့မီတာများသည် အဆိုပါ DC ဗို့အားများ သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းများကို ပြင်ပမှ ပံ့ပိုးပေးနိုင်သော်လည်း အခြားစက်ပစ္စည်းများက ၎င်းတို့အား အတွင်းပိုင်းမှ ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ EMF METER သည် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (EMF) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် စမ်းသပ်မှုနှင့် တိုင်းတာမှုကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့ထဲမှ အများစုသည် လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ သိပ်သည်းဆ (DC အကွက်များ) သို့မဟုတ် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (AC အကွက်များ) ပြောင်းလဲမှုတို့ကို တိုင်းတာသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းနှင့် သုံးဝင်ရိုးတူရိယာဗားရှင်းများ ရှိပါသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းမီတာသည် tri-ဝင်ရိုးမီတာထက် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသော်လည်း မီတာသည် အကွက်၏အတိုင်းအတာတစ်ခုသာတိုင်းတာသောကြောင့် စမ်းသပ်မှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန် ပိုကြာပါသည်။ တိုင်းတာမှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန်အတွက် ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်း EMF မီတာကို စောင်းပြီး axis သုံးခုလုံးကို ဖွင့်ရပါမည်။ တစ်ဖက်တွင်၊ ဝင်ရိုးသုံးမီတာသည် ဝင်ရိုးသုံးခုလုံးကို တစ်ပြိုင်နက်တိုင်းတာသော်လည်း ပို၍စျေးကြီးသည်။ EMF မီတာသည် လျှပ်စစ်ဝါယာကြိုးများကဲ့သို့သော ရင်းမြစ်များမှ ထွက်လာသည့် AC လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများကို တိုင်းတာနိုင်ပြီး GAUSSMETERS/TESLAMETERS သို့မဟုတ် MAGNETOMETERS သည် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းရှိသည့် အရင်းအမြစ်များမှ ထုတ်လွှတ်သော DC အကွက်များကို တိုင်းတာသည်။ EMF မီတာအများစုကို US နှင့် Europe ပင်မလျှပ်စစ်ဓာတ်အား၏ကြိမ်နှုန်းနှင့်သက်ဆိုင်သော 50 နှင့် 60 Hz အလှည့်ကျအကွက်များကိုတိုင်းတာရန် ချိန်ညှိထားသည်။ အနိမ့်ဆုံး 20 Hz အထိ လှည့်ကွက်များကို တိုင်းတာနိုင်သော အခြားမီတာများလည်း ရှိပါသည်။ EMF တိုင်းတာမှုများသည် ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု စောင့်ကြည့်ခြင်း၏ ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးမှသာလျှင် broadband ဖြစ်နိုင်သည်။ CAPACITANCE METER သည် discrete capacitors အများစု၏ capacitance ကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ အချို့မီတာများသည် capacitance ကိုသာပြသကြပြီး အချို့မီတာများသည် ယိုစိမ့်မှု၊ ညီမျှသောစီးရီးခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကိုပြသသည်။ အဆင့်မြင့်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် တံတားပတ်လမ်းထဲသို့ ကာပတ်စီတာအောက်-စမ်းသပ်မှုထည့်သွင်းခြင်းကဲ့သို့သော နည်းစနစ်များကို အသုံးပြုသည်။ တံတားကို ဟန်ချက်ညီစေရန်အတွက် တံတားရှိ အခြားခြေထောက်များ၏ တန်ဖိုးများကို ကွဲပြားစေခြင်းဖြင့် အမည်မသိ capacitor ၏ တန်ဖိုးကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် ပိုမိုတိကျသေချာစေသည်။ တံတားသည် ဆက်တိုက်ခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ picofarads မှ farads အထိအကွာအဝေးတစ်ခုကျော် Capacitors များကိုတိုင်းတာနိုင်သည်။ Bridge circuit များသည် leakage current ကို မတိုင်းတာသော်လည်း DC ဘက်လိုက်ဗို့အားကို အသုံးချနိုင်ပြီး ယိုစိမ့်မှုကို တိုက်ရိုက်တိုင်းတာနိုင်သည်။ BRIDGE တူရိယာအများအပြားကို ကွန်ပျူတာများနှင့် ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ဖတ်ရှုမှုများကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် သို့မဟုတ် တံတားကို ပြင်ပတွင် ထိန်းချုပ်ရန် ဒေတာဖလှယ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ ထိုသို့သောတံတားတူရိယာများသည် လျင်မြန်သောထုတ်လုပ်မှုနှင့် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် စမ်းသပ်မှုများကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် သွား/သွားစမ်းသပ်ခြင်းများကို ပေးပါသည်။ သို့တိုင်၊ အခြားစမ်းသပ်ကိရိယာ၊ CLAMP METER သည် ကလစ်အမျိုးအစား လက်ရှိမီတာနှင့် voltmeter တို့ကို ပေါင်းစပ်ထားသော လျှပ်စစ်စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Clamp Meter ၏ ခေတ်မီဗားရှင်းအများစုသည် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ကုပ်မီတာများသည် Digital Multimeter ၏ အခြေခံလုပ်ဆောင်ချက် အများစုတွင် ပါ၀င်သော်လည်း ထုတ်ကုန်တွင် တည်ဆောက်ထားသော လက်ရှိ transformer ၏ ထပ်လောင်းအင်္ဂါရပ်ဖြင့် ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ac လျှပ်စီးကြောင်းကို သယ်ဆောင်သည့် စပယ်ယာတစ်ဝိုက်တွင် တူရိယာ၏ “မေးရိုး” ကို ကုပ်လိုက်သောအခါ၊ ထိုလျှပ်စီးကြောင်းကို ပါဝါထရန်စဖော်မာ၏ သံအူတိုင်နှင့် ဆင်တူသော မေးရိုးများမှတဆင့် ချိတ်ဆက်ကာ မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုအစွန်းတစ်ဖက်တွင် ချိတ်ဆက်ထားသည့် ဒုတိယအကွေ့အကောက်တစ်ခုအဖြစ်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ Transformer နှင့် များစွာတူသော လည်ပတ်မှုနိယာမ။ အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များ အရေအတွက်နှင့် အူတိုင်ပတ်ပတ်လည်တွင် ပတ်ထားသော ပင်မအကွေ့အကောက်အရေအတွက်နှင့် အချိုးအစားကြောင့် ပိုမိုသေးငယ်သော လျှပ်စီးကြောင်းကို မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုသို့ ပေးပို့သည်။ ပင်မအား မေးရိုးကို ကုပ်ထားသော စပယ်ယာတစ်ခုဖြင့် ကိုယ်စားပြုသည်။ အလယ်တန်းတွင် အကွေ့အကောက်များ 1000 ပါပါက၊ အလယ်တန်းလျှပ်စီးကြောင်းသည် ပင်မတွင်စီးဆင်းနေသော လျှပ်စီးကြောင်း 1/1000 သို့မဟုတ် ဤအခြေအနေတွင် စပယ်ယာကို တိုင်းတာသည်။ ထို့ကြောင့် တိုင်းတာနေသော conductor မှ 1 amps သည် meter ၏ input တွင် 0.001 amps လျှပ်စီးကြောင်းကို ထုတ်ပေးမည်ဖြစ်ပါသည်။ ကုပ်မီတာများဖြင့် အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များတွင် အလှည့်အပြောင်းအရေအတွက်ကို တိုးမြှင့်ခြင်းဖြင့် ပိုမိုကြီးမားသော ရေစီးကြောင်းများကို အလွယ်တကူ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏စမ်းသပ်ကိရိယာအများစုကဲ့သို့ပင်၊ အဆင့်မြင့်ကုပ်မီတာများသည် သစ်ခုတ်ခြင်းစွမ်းရည်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။ မြေကြီးလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် မြေဆီလွှာခံနိုင်ရည်အား စမ်းသပ်ရန်အတွက် မြေပြင်ခုခံမှုစမ်းသပ်ကိရိယာများကို အသုံးပြုသည်။ တူရိယာလိုအပ်ချက်များသည် အသုံးချမှုအကွာအဝေးပေါ် မူတည်သည်။ ခေတ်မီမြေပြင်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် မြေပြင်ကွင်းပတ်စစ်ဆေးခြင်းကို ရိုးရှင်းစေပြီး ယိုစိမ့်ခြင်းမရှိသော လက်ရှိတိုင်းတာမှုများကို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့ရောင်းချသည့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများထဲတွင် OSCILLOSCOPES သည် အသုံးများဆုံးကိရိယာများထဲမှတစ်ခုဖြစ်သည်ကို သံသယမရှိပါ ။ OSCILLOGRAPH ဟုလည်း ခေါ်သော Oscilloscope သည် အချိန်၏ လုပ်ဆောင်မှုအဖြစ် တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော အချက်ပြမှုများ၏ နှစ်ဘက်မြင် ကွက်ကွက်တစ်ခုအဖြစ် အဆက်မပြတ် ပြောင်းလဲနေသော အချက်ပြဗို့အားများကို စောင့်ကြည့်ခွင့်ပြုသည့် အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်ကိရိယာ အမျိုးအစားဖြစ်သည်။ အသံနှင့် တုန်ခါမှုကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်မဟုတ်သော အချက်ပြမှုများကို ဗို့အားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်ပြီး oscilloscopes တွင် ပြသနိုင်သည်။ Oscilloscopes များသည် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်အချက်ပြပြောင်းလဲမှုကို စောင့်ကြည့်ရန်၊ ဗို့အားနှင့် အချိန်တို့သည် ချိန်ကိုက်သည့်စကေးနှင့် ဆက်တိုက်ဂရပ်ဖစ်သည့် ပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုကို ဖော်ပြသည်။ လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်ကို စူးစမ်းလေ့လာခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် ကျယ်ဝန်းမှု၊ ကြိမ်နှုန်း၊ အချိန်ကြားကာလ၊ မြင့်တက်ချိန်နှင့် ပုံပျက်ခြင်းကဲ့သို့သော ဂုဏ်သတ္တိများကို ကျွန်ုပ်တို့အား ဖော်ပြသည်။ Oscilloscopes များကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် စဉ်ဆက်မပြတ် ပုံသဏ္ဍာန်အဖြစ် မှတ်သားနိုင်သည်။ oscilloscope အများအပြားတွင် တစ်ခုတည်းသောဖြစ်ရပ်များကို တူရိယာမှဖမ်းယူနိုင်ပြီး အချိန်အတော်ကြာအောင်ပြသနိုင်စေသည့် သိုလှောင်မှုလုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသည်။ ယင်းက ကျွန်ုပ်တို့ကို တိုက်ရိုက်မြင်နိုင်လောက်အောင် မြန်ဆန်လွန်းသော အဖြစ်အပျက်များကို ကြည့်ရှုနိုင်စေပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များသည် ပေါ့ပါးပြီး ကျစ်လစ်ပြီး သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော တူရိယာများဖြစ်သည်။ လယ်ကွင်းဝန်ဆောင်မှုအပလီကေးရှင်းများအတွက် သေးငယ်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး တူရိယာများလည်း ရှိပါသည်။ ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် oscilloscopes များသည် ယေဘုယျအားဖြင့် ခုံတန်းလျားပေါ်ရှိ ကိရိယာများဖြစ်သည်။ oscilloscopes နှင့်အသုံးပြုရန်အတွက် ကျယ်ပြန့်သော probes နှင့် input cable များရှိပါသည်။ သင့်အပလီကေးရှင်းတွင် မည်သည့်အရာကိုအသုံးပြုရမည်နှင့်ပတ်သက်၍ အကြံဉာဏ်များလိုအပ်ပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုနှစ်ခုပါရှိသော Oscilloscope ကို dual-trace oscilloscopes ဟုခေါ်သည်။ single-beam CRT ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းတို့သည် သွင်းအားများကို ချဲ့ထွင်ကာ လမ်းကြောင်းနှစ်ခုကို တစ်ပြိုင်နက် ပြသရန် လုံလောက်သော မြန်ဆန်စွာ ကူးပြောင်းလေ့ရှိသည်။ နောက်ထပ်ခြေရာများပါရှိသော oscilloscopes များလည်းရှိပါသည်။ သွင်းအားစု လေးခုသည် ဤအရာများကြားတွင် အဖြစ်များသည်။ အချို့သော ခြေရာကောက် အများအပြားရှိသော oscilloscopes များသည် ပြင်ပအစပျိုးထည့်သွင်းမှုကို စိတ်ကြိုက်ရွေးချယ်နိုင်သော ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုအဖြစ် အသုံးပြုကြပြီး အချို့တွင် ထိန်းချုပ်မှုအနည်းငယ်သာရှိသော တတိယနှင့် စတုတ္ထချန်နယ်များရှိသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များတွင် ဗို့အားများအတွက် input အများအပြားပါရှိသောကြောင့် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မတူညီသောဗို့အားနှင့် အခြားတစ်ခုအား ပုံဆွဲရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။ diodes ကဲ့သို့သော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် IV မျဉ်းကွေးများ (လက်ရှိ နှင့် ဗို့အား လက္ခဏာများ) ကို ပုံဖော်ရန်အတွက် ဥပမာအားဖြင့် ၎င်းကို အသုံးပြုသည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများနှင့် မြန်ဆန်သော ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြမှုများဖြင့် ဒေါင်လိုက်အသံချဲ့စက်များ၏ bandwidth နှင့် sampling rate သည် လုံလောက်စွာမြင့်မားရပါမည်။ ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက်အတွက် အနည်းဆုံး 100 MHz bandwidth ကိုအသုံးပြုခြင်းသည် များသောအားဖြင့် လုံလောက်ပါသည်။ များစွာနိမ့်သော bandwidth သည် audio-frequency application များအတွက်သာလုံလောက်သည်။ ဖယ်ရှားခြင်း၏ အသုံးဝင်သောအကွာအဝေးသည် သင့်လျော်သော အစပျိုးခြင်းနှင့် နှောင့်နှေးမှုတို့ဖြင့် တစ်စက္ကန့်မှ 100 နာနိုစက္ကန့်အထိဖြစ်သည်။ တည်ငြိမ်သော ဖန်သားပြင်အတွက် ကောင်းမွန်စွာ ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော၊ တည်ငြိမ်သော၊ အစပျိုးဆားကစ်တစ်ခု လိုအပ်ပါသည်။ ကောင်းသော oscilloscopes များအတွက် trigger circuit ၏ အရည်အသွေးသည် အဓိကဖြစ်သည်။ နောက်ထပ်အဓိကသော့ရွေးချယ်မှုစံနှုန်းမှာ နမူနာမှတ်ဉာဏ်အတိမ်အနက်နှင့် နမူနာနှုန်းဖြစ်သည်။ အခြေခံအဆင့် ခေတ်မီ DSO များသည် ချန်နယ်တစ်ခုလျှင် နမူနာမှတ်ဉာဏ် 1MB သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပို၍ ရှိသည်။ မကြာခဏဆိုသလို ဤနမူနာမှတ်ဉာဏ်ကို ချန်နယ်များကြားတွင် မျှဝေလေ့ရှိပြီး တစ်ခါတစ်ရံတွင် နမူနာနှုန်းနည်းပါးသော နှုန်းထားများဖြင့်သာ အပြည့်အဝရရှိနိုင်သည်။ အမြင့်ဆုံးနမူနာနှုန်းထားတွင် မမ်မိုရီကို 10 KB အနည်းငယ်သာ ကန့်သတ်ထားနိုင်သည်။ ခေတ်မီ ''အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ'' နမူနာနှုန်း DSO သည် ပုံမှန်အားဖြင့် နမူနာနှုန်းတွင် ထည့်သွင်းမှုနှုန်း၏ 5-10 ဆ ရှိသည်။ ထို့ကြောင့် 100 MHz bandwidth DSO သည် 500 Ms/s - 1 Gs/s နမူနာနှုန်း ရှိမည်ဖြစ်သည်။ အလွန်များပြားသောနမူနာနှုန်းထားများသည် တစ်ခါတစ်ရံ ဒစ်ဂျစ်တယ်နယ်ပယ်များ၏ ပထမမျိုးဆက်တွင် တစ်ခါတစ်ရံတွင်ပါရှိသော မှားယွင်းသောအချက်ပြမှုများကို သိသိသာသာ ဖယ်ရှားပစ်လိုက်ပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes အများစုသည် ပြင်ပဆော့ဖ်ဝဲလ်မှ အဝေးထိန်းကိရိယာထိန်းချုပ်မှုကို ခွင့်ပြုရန် GPIB၊ Ethernet၊ အမှတ်စဉ်အပေါက်နှင့် USB ကဲ့သို့သော ပြင်ပအင်တာဖေ့စ်တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော ဘတ်စ်ကားများ သို့မဟုတ် ဘတ်စ်ကားများကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ဤသည်မှာ မတူညီသော oscilloscope အမျိုးအစားများစာရင်းဖြစ်သည်။ CATHODE RAY OSCILLOSCOPE DUAL-BEAM OSCILLOSCOPE ANALOG STORAGE OSCILLOSCOPE ဒစ်ဂျစ်တယ် OSCILLOSCOPES ရောနှော-သင်္ကေတ OSCILLOSCOPES လက်ကိုင် OSCILLOSCOPES PC-based OSCILLOSCOPES LOGIC ANALYZER သည် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ် သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်ပတ်လမ်းမှ အချက်ပြများစွာကို ဖမ်းယူပြသပေးသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ဖမ်းယူထားသောဒေတာကို အချိန်ကိုက်ဇယားများ၊ ပရိုတိုကောကုဒ်များ၊ ပြည်နယ်စက်ခြေရာကောက်များ၊ စုစည်းမှုဘာသာစကားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ Logic Analyzer များသည် အဆင့်မြင့်သော အစပျိုးနိုင်စွမ်းများ ရှိပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ရှိ အချက်ပြများစွာကြား အချိန်ကိုက်ဆက်ဆံရေးကို အသုံးပြုသူမှ ကြည့်ရှုရန် လိုအပ်သောအခါတွင် အသုံးဝင်ပါသည်။ MODULAR LOGIC ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်နှင့် ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု မော်ဂျူးများ နှစ်ခုလုံး ပါဝင်သည်။ ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်တွင် မျက်နှာပြင်၊ ထိန်းချုပ်မှုများ၊ ထိန်းချုပ်သည့် ကွန်ပျူတာနှင့် ဒေတာဖမ်းယူသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲကို တပ်ဆင်ထားသည့် အပေါက်များစွာပါရှိသည်။ မော်ဂျူးတစ်ခုစီတွင် သီးခြားချန်နယ်အရေအတွက်တစ်ခုရှိပြီး အလွန်မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်သည်။ မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်မှုနှင့် မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ ယေဘုယျအားဖြင့် ပိုမိုမြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်သည် ၎င်းတို့ကို ပိုမိုစျေးကြီးစေသည်။ အလွန်အဆင့်မြင့်သော မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများအတွက်၊ အသုံးပြုသူများသည် ၎င်းတို့၏ကိုယ်ပိုင်အိမ်ရှင် PC ပေးဆောင်ရန် သို့မဟုတ် စနစ်နှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော မြှုပ်သွင်းထိန်းချုပ်ကိရိယာကို ဝယ်ယူရန် လိုအပ်နိုင်သည်။ သယ်ယူရလွယ်ကူသော ယုတ္တိဗေဒဆိုင်ရာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စက်ရုံတွင် ထည့်သွင်းထားသော ရွေးချယ်စရာများနှင့်အတူ အရာအားလုံးကို အထုပ်တစ်ခုထဲသို့ ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ၎င်းတို့သည် ယေဘုယျအားဖြင့် မော်ဂျူလာများထက် စွမ်းဆောင်ရည်နိမ့်သော်လည်း ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက် အမှားရှာပြင်ခြင်းအတွက် စျေးသက်သာသော တိုင်းတာရေးကိရိယာများဖြစ်သည်။ PC-based LOGIC ANALYZERS တွင်၊ ဟာ့ဒ်ဝဲသည် USB သို့မဟုတ် Ethernet ချိတ်ဆက်မှုမှတဆင့် ကွန်ပျူတာသို့ ချိတ်ဆက်ပြီး ဖမ်းယူထားသော အချက်ပြမှုများကို ကွန်ပျူတာပေါ်ရှိ ဆော့ဖ်ဝဲသို့ ပြန်လည်ပေးပို့သည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် များစွာသေးငယ်ပြီး စျေးနည်းသောကြောင့် ၎င်းတို့သည် ကိုယ်ပိုင်ကွန်ပျူတာ၏ရှိပြီးသားကီးဘုတ်၊ မျက်နှာပြင်နှင့် CPU ကိုအသုံးပြုသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသော ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်ရပ်များ၏ အစီအစဥ်ပေါ်တွင် အစပျိုးနိုင်ပြီး စမ်းသပ်ဆဲစနစ်များမှ ဒစ်ဂျစ်တယ်ဒေတာအများအပြားကို ဖမ်းယူနိုင်သည်။ ယနေ့ခေတ် အထူးပြုချိတ်ဆက်ကိရိယာများကို အသုံးပြုနေပါသည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်းများ၏ ဆင့်ကဲပြောင်းလဲမှုသည် သုံးစွဲသူအများအပြားကို လွတ်လပ်ခွင့်ပေးသည့် ရောင်းချသူအများအပြားကို ပံ့ပိုးပေးသည့် ဘုံခြေရာကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်- Connectorless နည်းပညာသည် Compression Probing ကဲ့သို့သော ရောင်းချသူအလိုက် ကုန်သွယ်မှုအမည်များအဖြစ် ကမ်းလှမ်းထားသည့် Connectorless နည်းပညာ၊ နူးညံ့သောထိတွေ့မှု; D-Max ကို အသုံးပြုနေပါသည်။ ဤ probe များသည် probe နှင့် circuit board အကြား တာရှည်ခံ၊ ယုံကြည်စိတ်ချရသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စစ်ချိတ်ဆက်မှုကို ပေးပါသည်။ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အကွာအတွင်း အဝင်အချက်ပြလှိုင်းနှင့် ကြိမ်နှုန်း၏ပြင်းအားကို တိုင်းတာသည်။ အဓိကအသုံးပြုသည်မှာ အချက်ပြလှိုင်းများ၏ စွမ်းအားကို တိုင်းတာရန်ဖြစ်သည်။ optical နှင့် acoustical spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများလည်းရှိပါသည်၊ သို့သော် ဤနေရာတွင် လျှပ်စစ်ထည့်သွင်းမှုအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာပြီး ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့် အီလက်ထရွန်နစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာများကိုသာ ဆွေးနွေးပါမည်။ လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများမှရရှိသော spectra သည် ကျွန်ုပ်တို့အား ကြိမ်နှုန်း၊ ပါဝါ၊ ဟာမိုနီများ၊ လှိုင်းနှုန်း… အစရှိသည်တို့နှင့်ပတ်သက်သော အချက်အလက်များကို ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကို အလျားလိုက်ဝင်ရိုးနှင့် ဒေါင်လိုက်ရှိ signal amplitude တွင် ပြသထားသည်။ ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်း၊ RF နှင့် အသံအချက်ပြလှိုင်းများ၏ လှိုင်းနှုန်းစဉ်များကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်အတွက် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြသည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုကြည့်ခြင်းအားဖြင့် signal ၏ element များနှင့်၎င်းတို့ကိုထုတ်လုပ်သည့် circuit ၏စွမ်းဆောင်ရည်ကိုဖော်ပြနိုင်သည်။ Spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အတိုင်းအတာများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုရရှိရန်အသုံးပြုသည့်နည်းလမ်းများကိုကြည့်ခြင်းဖြင့် spectrum analyzer အမျိုးအစားများကို အမျိုးအစားခွဲနိုင်သည်။ - SWEPT-TUNED SPECTRUM Analyzer သည် input signal spectrum (ဗို့အားထိန်းချုပ်ထားသော oscillator နှင့် mixer ကိုအသုံးပြု၍) band-pass filter ၏ အလယ်ကြိမ်နှုန်းသို့ input signal spectrum ၏ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုကို down-သို့ပြောင်းရန် superheterodyne receiver ကိုအသုံးပြုသည်။ superheterodyne ဗိသုကာဖြင့်၊ ဗို့အား-ထိန်းချုပ်ထားသော oscillator သည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အဝကို အခွင့်ကောင်းယူပြီး ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးများမှတဆင့် ဖြတ်တောက်သည်။ Swept-tuned spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ရေဒီယိုလက်ခံစက်များမှ ဆင်းသက်သည်။ ထို့ကြောင့် ပွတ်သပ်ညှိပေးသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ချိန်ညှိထားသော-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (TRF ရေဒီယိုနှင့် တူညီသော) သို့မဟုတ် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများဖြစ်သည်။ အမှန်တော့၊ ၎င်းတို့၏ အရိုးရှင်းဆုံးပုံစံဖြင့်၊ သင်သည် အလိုအလျောက် ချိန်ညှိထားသော (swept) ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးရှိသော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု ဗို့မီတာတစ်ခုအဖြစ် swept-tuned spectrum analyzer ကို စဉ်းစားနိုင်သည်။ ၎င်းသည် sine wave တစ်ခု၏ rms တန်ဖိုးကိုပြသရန်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်ထားသော၊ အထွတ်အထိပ်တုံ့ပြန်သည့် voltmeter ကို ချိန်ညှိပေးသည့် ပမာဏဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသောအချက်ပြမှုတစ်ခုအဖြစ် ပါဝင်သည့် ကြိမ်နှုန်းအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုချင်းစီကို ပြသနိုင်သည်။ သို့သော် ၎င်းသည် အဆင့်အချက်အလက်ကို မပေးဆောင်ဘဲ ပြင်းအားအချက်အလက်ကိုသာ ပေးသည်။ ခေတ်မီ swept-tuned ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (အထူးသဖြင့် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ) သည် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည့် တိကျသောကိရိယာများဖြစ်သည်။ သို့သော်၊ ၎င်းတို့သည် ပေးထားသည့် အတိုင်းအတာတစ်ခုအတွင်း ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် မအကဲဖြတ်နိုင်သောကြောင့် တည်ငြိမ်သောအခြေအနေ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာရန် ၎င်းတို့ကို အဓိကအသုံးပြုပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် အကဲဖြတ်နိုင်စွမ်းသည် အချိန်နှင့်တပြေးညီ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသာ ဖြစ်နိုင်သည်။ - အချိန်နှင့်တပြေးညီ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည်- FFT SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် လှိုင်းပုံစံတစ်ခုအား ၎င်း၏ကြိမ်နှုန်း spectrum ၏အစိတ်အပိုင်းများအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပေးသည့် သင်္ချာလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုဖြစ်သည့် discrete Fourier transform (DFT) ကို တွက်ချက်သည်။ Fourier သို့မဟုတ် FFT spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် အခြားအချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု အကောင်အထည်ဖော်မှုဖြစ်သည်။ Fourier ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် input signal ကိုနမူနာယူရန်နှင့်၎င်းကိုကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ပြောင်းရန်အတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းကိုအသုံးပြုသည်။ ဤပြောင်းလဲခြင်းအား Fast Fourier Transform (FFT) ကို အသုံးပြု၍ လုပ်ဆောင်ပါသည်။ FFT သည် အချိန်ဒိုမိန်းမှ အချက်အလက်များကို ကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ ပြောင်းလဲရန်အတွက် အသုံးပြုသည့် Discrete Fourier Transform ၏ အကောင်အထည်ဖော်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ အခြားအချိန်နှင့်တပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ အမျိုးအစားဖြစ်သည့် PARALLEL FILTER ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မတူညီသော bandpass ကြိမ်နှုန်းဖြင့် တစ်ခုချင်းစီကို bandpass filter အများအပြားကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ filter တစ်ခုစီသည် input နှင့် အချိန်တိုင်း ချိတ်ဆက်နေပါသည်။ ကနဦးဖြေရှင်းသည့်အချိန်ပြီးနောက်၊ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏တိုင်းတာမှုအကွာအဝေးအတွင်း အချက်ပြမှုများအားလုံးကို ချက်ချင်းသိရှိနိုင်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ parallel-filter analyzer သည် real-time signal analysis ကို ပေးသည်။ Parallel-filter analyzer သည် မြန်ဆန်သည်၊ ၎င်းသည် ယာယီနှင့် အချိန်-မူကွဲအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာသည်။ သို့သော်၊ မျဉ်းပြိုင်-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏ ကြိမ်နှုန်းကြည်လင်ပြတ်သားမှုသည် လှိုင်းဖြတ်ထားသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုထက် များစွာနိမ့်ကျသည်၊ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် ကြည်လင်ပြတ်သားမှုကို bandpass filter များ၏ အကျယ်အားဖြင့် ဆုံးဖြတ်ထားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးထက် ကောင်းမွန်သော ကြည်လင်ပြတ်သားမှုရရှိရန်၊ ၎င်းကို ကုန်ကျစရိတ်များစွာနှင့် ရှုပ်ထွေးစေရန်အတွက် တစ်ဦးချင်းစီ filter များစွာ လိုအပ်ပါသည်။ ထို့ကြောင့် စျေးကွက်ရှိ အရိုးရှင်းဆုံးအရာများမှအပ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုသည် ဈေးကြီးသည်။ - Vector SIGNAL ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု (VSA) : ယခင်က၊ swept-tuned နှင့် superheterodyne spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အသံ၊ မိုက်ခရိုဝေ့မှ တဆင့် မီလီမီတာ ကြိမ်နှုန်းအထိ ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများကို လွှမ်းခြုံထားသည်။ ထို့အပြင်၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်း (DSP) အရှိန်အဟုန်ပြင်းစွာ မြန်ဆန်သော Fourier အသွင်ပြောင်း (FFT) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြင့်မားသောကြည်လင်ပြတ်သားမှုရောင်စဉ်နှင့် ကွန်ရက်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပံ့ပိုးပေးခဲ့သော်လည်း analog-မှ-ဒစ်ဂျစ်တယ်ပြောင်းလဲခြင်းနှင့် အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းနည်းပညာများ၏ ကန့်သတ်ချက်များကြောင့် ကြိမ်နှုန်းနည်းပါးသည်။ ယနေ့ခေတ်၏ ကျယ်ပြန့်သော ဘန်းဝဒ်၊ vector-modulated၊ အချိန်-ကွဲပြားသည့် အချက်ပြမှုများသည် FFT ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အခြား DSP နည်းပညာများ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်မှုများမှ များစွာအကျိုးရှိသည်။ Vector signal ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြန်နှုန်းမြင့် ADC နှင့် အခြားသော DSP နည်းပညာများနှင့် ပေါင်းစပ်ကာ လျင်မြန်သော ပုံရိပ်ပြတ်သားမှု ရောင်စဉ်တိုင်းတာမှုများ၊ demodulation နှင့် အဆင့်မြင့် အချိန်ဒိုမိန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပေးဆောင်သည်။ VSA သည် ဆက်သွယ်ရေး၊ ဗီဒီယို၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဆိုနာ နှင့် အာထရာဆောင်း ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း အပလီကေးရှင်းများတွင် အသုံးပြုသည့် ပေါက်ကွဲမှု၊ ယာယီ သို့မဟုတ် ပြုပြင်ထားသော အချက်ပြများကဲ့သို့သော ရှုပ်ထွေးသော အချက်ပြမှုများကို ပုံဖော်ရန်အတွက် အထူးအသုံးဝင်သည်။ ပုံစံအချက်များအရ၊ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများကို ခုံတန်းရှည်၊ သယ်ယူရလွယ်ကူသော၊ လက်ကိုင်နှင့် ကွန်ရက်များအဖြစ် အုပ်စုဖွဲ့ထားသည်။ Benchtop မော်ဒယ်များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းပတ်ဝန်းကျင် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုဧရိယာတွင်ကဲ့သို့ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအား AC ပါဝါသို့ ပလပ်ထိုးနိုင်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်သည်။ Bench top spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် ခရီးဆောင် သို့မဟုတ် လက်ကိုင်ဗားရှင်းများထက် ပိုမိုကောင်းမွန်သော စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သတ်မှတ်ချက်များကို ပေးဆောင်ပါသည်။ သို့သော် ၎င်းတို့သည် ယေဘူယျအားဖြင့် ပိုလေးပြီး အအေးခံရန်အတွက် ပန်ကာများစွာရှိသည်။ အချို့သော BENCHTOP SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပင်မပလပ်ပေါက်မှ ဝေးရာသို့ အသုံးပြုနိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီထုပ်များကို ပေးဆောင်သည်။ အဲဒါတွေကို အိတ်ဆောင်ရောင်စဉ် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအဖြစ် ရည်ညွှန်းပါတယ်။ အိတ်ဆောင်မော်ဒယ်များသည် တိုင်းတာမှုများပြုလုပ်ရန် သို့မဟုတ် အသုံးပြုနေစဉ်အတွင်းသယ်ဆောင်ရန် spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို အပြင်သို့ထုတ်ရန်လိုအပ်သည့်အပလီကေးရှင်းများအတွက်အသုံးဝင်သည်။ သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာသည် အသုံးပြုသူအား ပါဝါပလပ်ပေါက်များမရှိသော နေရာများတွင် အလုပ်လုပ်နိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး လုပ်ဆောင်ချက်ကို ပေးစွမ်းနိုင်မည်ဖြစ်ပြီး တောက်ပသောနေရောင်၊ အမှောင် သို့မဟုတ် ဖုန်ထူသောအခြေအနေများတွင် စခရင်ကို အလင်းအမှောင်တွင် ဖတ်ရှုနိုင်စေရန် ရှင်းလင်းစွာကြည့်ရှုနိုင်သော မျက်နှာပြင်ပြသမှု။ လက်ကိုင်ရောင်စဉ်ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာစက်များသည် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာသည် အလွန်ပေါ့ပါးပြီး သေးငယ်ရန် လိုအပ်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်ပါသည်။ လက်ကိုင်ပိုင်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပိုကြီးသောစနစ်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက အကန့်အသတ်ရှိသော စွမ်းရည်ကို ပေးဆောင်သည်။ Handheld Spectrum Analyzer များ၏ အားသာချက်များမှာ အသုံးပြုသူအား အပြင်သို့ လွတ်လွတ်လပ်လပ် ရွေ့လျားနိုင်စေရန်၊ အလွန်သေးငယ်သော အရွယ်အစားနှင့် ပေါ့ပါးသော အလေးချိန်တို့ရှိနေစဉ် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသုံးစွဲမှု အလွန်နည်းပါးသော၊ ဘက်ထရီပါဝါဖြင့် လုပ်ဆောင်မှုဖြစ်သည်။ နောက်ဆုံးတွင်၊ NETWORKED SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မျက်နှာပြင်မပါဝင်ဘဲ ၎င်းတို့သည် ပထဝီဝင်ဆိုင်ရာ ဖြန့်ဝေထားသော ရောင်စဉ်စောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဆိုင်ရာ အက်ပ်လီကေးရှင်းအသစ်ကို အသုံးပြုနိုင်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ အဓိက ရည်ညွှန်းချက်မှာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအား ကွန်ရက်တစ်ခုသို့ ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ကွန်ရက်တစ်ခုရှိ ယင်းကိရိယာများကို စောင့်ကြည့်နိုင်မှုဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများအပြားတွင် ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် Ethernet port တစ်ခုရှိသော်လည်း၊ ၎င်းတို့သည် ပုံမှန်အားဖြင့် ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းမှုယန္တရားများမရှိ၍ ထိုသို့သောဖြန့်ဝေမှုပုံစံတွင် အသုံးပြုရန် အလွန်ကြီးမားပြီး/သို့မဟုတ် ဈေးကြီးသည်။ ထိုကိရိယာများ၏ ဖြန့်ဝေမှုသဘောသဘာဝသည် ထုတ်လွှင့်သည့်နေရာများ၏ ပထဝီဝင်တည်နေရာ၊ ဒိုင်နမစ်ရောင်စဉ်ဝင်ရောက်ခြင်းအတွက် ရောင်စဉ်တန်းစောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် အခြားထိုကဲ့သို့သော အပလီကေးရှင်းများစွာကို လုပ်ဆောင်ပေးသည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ကွန်ရက်တစ်လျှောက်တွင် ဒေတာဖမ်းယူမှုများကို တစ်ပြိုင်တည်းလုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ကုန်ကျစရိတ်သက်သာစွာဖြင့် ကွန်ရက်ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းခြင်းကို ဖွင့်နိုင်သည်။ PROTOCOL ANALYZER သည် ဆက်သွယ်ရေးလမ်းကြောင်းတစ်ခုမှ အချက်ပြများနှင့် ဒေတာလမ်းကြောင်းများကို ဖမ်းယူ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့်/သို့မဟုတ် ဆော့ဖ်ဝဲကို ပေါင်းစပ်ထားသည့် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းအတွက် အများအားဖြင့် အသုံးပြုကြသည်။ ၎င်းတို့သည် ကွန်ရက်ကို စောင့်ကြည့်ရန်နှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ဆောင်ချက်များကို အရှိန်မြှင့်ရန် အဓိက စွမ်းဆောင်ရည် အညွှန်းများကို တွက်ချက်ရန် ကွန်ရက်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ NETWORK PROTOCOL ANALYZER သည် ကွန်ရက်စီမံခန့်ခွဲသူ၏ ကိရိယာအစုံ၏ အရေးကြီးသော အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကွန်ရက်ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို ကွန်ရက်ဆက်သွယ်ရေး၏ ကျန်းမာရေးကို စောင့်ကြည့်ရန် အသုံးပြုသည်။ ကွန်ရက်စက်ပစ္စည်းတစ်ခုသည် အချို့သောနည်းလမ်းဖြင့် အဘယ်ကြောင့်လုပ်ဆောင်သည်ကို သိရှိရန်၊ စီမံခန့်ခွဲသူများသည် အသွားအလာများကို ရှူရှိုက်ရန်နှင့် ဝါယာကြိုးတစ်လျှောက်ဖြတ်သန်းသွားသော ဒေတာနှင့် ပရိုတိုကောများကို ဖော်ထုတ်ရန် ပရိုတိုကောခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ Network protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အသုံးပြုသည်။ - ဖြေရှင်းရခက်သော ပြဿနာများကို ဖြေရှင်းပါ။ - အန္တရာယ်ရှိသောဆော့ဖ်ဝဲ / malware ကိုရှာဖွေဖော်ထုတ်ပါ။ ကျူးကျော်ဝင်ရောက်မှုကို ထောက်လှမ်းခြင်းစနစ် သို့မဟုတ် ပျားရည်အိုးဖြင့် လုပ်ဆောင်ပါ။ - အခြေခံအသွားအလာပုံစံများနှင့် ကွန်ရက်အသုံးချမှုမက်ထရစ်များကဲ့သို့သော အချက်အလက်များကို စုဆောင်းပါ။ - အသုံးမပြုသော ပရိုတိုကောများကို ကွန်ရက်မှ ဖယ်ရှားနိုင်စေရန် ခွဲခြားသတ်မှတ်ပါ။ - ထိုးဖောက်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် traffic ကိုဖန်တီးပါ။ - လမ်းကြောင်းပေါ်တွင် ခိုးနားထောင်ခြင်း (ဥပမာ၊ ခွင့်ပြုချက်မရှိဘဲ လက်ငင်းစာတိုပေးပို့ခြင်း အသွားအလာ သို့မဟုတ် ကြိုးမဲ့ဝင်ရောက်ခွင့်အချက်များကို ရှာဖွေပါ) TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (TDR) သည် အချိန်-ဒိုမိန်းရောင်ပြန်ဟပ်မှုကို အသုံးပြုသည့် သတ္တုကြိုးများဖြစ်သည့် လိမ်တွဲဝိုင်ယာကြိုးများနှင့် တွဲဆက်ကေဘယ်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ စသည်တို့ကဲ့သို့ သတ္တုကြိုးများအတွင်း ချို့ယွင်းချက်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန်နှင့် ရှာဖွေရန် အသုံးပြုသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Time-Domain Reflectometers များသည် conductor တစ်လျှောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို တိုင်းတာသည်။ ၎င်းတို့ကို တိုင်းတာရန်အတွက် TDR သည် conductor ပေါ်သို့ အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုကို ထုတ်လွှင့်ပြီး ၎င်း၏ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ကြည့်ရှုသည်။ conductor သည် ယူနီဖောင်း impedance ရှိပြီး ကောင်းမွန်စွာ ရပ်စဲပါက၊ ထို့နောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှု မရှိတော့ဘဲ ကျန်ရှိနေသော အဖြစ်အပျက် signal ကို အဆုံးစွန်ထိ စုပ်ယူသွားပါမည်။ သို့သော်၊ တစ်နေရာရာတွင် impedance ကွဲလွဲမှုရှိပါက၊ အချို့သော အဖြစ်အပျက် signal ကို အရင်းအမြစ်သို့ ပြန်ပြောင်းပါမည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများသည် အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုနှင့် တူညီသောပုံသဏ္ဍာန်ရှိမည်ဖြစ်သော်လည်း ၎င်းတို့၏လက္ခဏာနှင့် ပြင်းအားသည် impedance အဆင့်ပြောင်းလဲမှုအပေါ် မူတည်သည်။ impedance တွင် ခြေလှမ်းတိုးလာပါက၊ reflection သည် အဖြစ်အပျက် signal နှင့် တူညီသော လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်ပြီး impedance တွင် ခြေလှမ်းလျော့သွားပါက၊ reflection သည် ဆန့်ကျင်ဘက်လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်သည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို Time-Domain Reflectometer ၏ အထွက်/အဝင်တွင် တိုင်းတာပြီး အချိန်၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ပြသသည်။ တနည်းအားဖြင့်၊ ဖန်သားပြင်သည် ပေးထားသော ဂီယာကြားခံတစ်ခုအတွက် အချက်ပြပျံ့နှံ့မှု၏အမြန်နှုန်းသည် ကိန်းသေနီးပါးဖြစ်နေသောကြောင့် ကေဘယ်အလျား၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ထုတ်လွှင့်မှုနှင့် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ပြသနိုင်သည်။ TDR များကို cable impedances နှင့် lengths ၊ connector နှင့် splice ဆုံးရှုံးမှုများနှင့် တည်နေရာများကို ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ TDR impedance တိုင်းတာမှုများသည် ဒီဇိုင်နာများအား စနစ်အချင်းချင်းချိတ်ဆက်မှုများ၏ အချက်ပြခိုင်မာမှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို လုပ်ဆောင်ရန်နှင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိကျစွာခန့်မှန်းရန် အခွင့်အရေးပေးပါသည်။ TDR တိုင်းတာမှုများကို board characterization လုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုပါသည်။ ဆားကစ်ဘုတ်ဒီဇိုင်နာသည် ဘုတ်ခြေရာများ၏ လက္ခဏာရပ်များကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်၊ ဘုတ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် တိကျသောမော်ဒယ်များကို တွက်ချက်နိုင်ပြီး ဘုတ်၏စွမ်းဆောင်ရည်ကို ပိုမိုတိကျစွာ ခန့်မှန်းနိုင်သည်။ time-domain reflectometers အတွက် အသုံးချသည့် အခြားနယ်ပယ်များစွာရှိပါသည်။ SEMICONDUCTOR CURVE TRACER သည် diodes၊ transistors နှင့် thyristors ကဲ့သို့သော discrete semiconductor ကိရိယာများ၏ ဝိသေသလက္ခဏာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကိရိယာသည် oscilloscope ပေါ်တွင် အခြေခံထားသော်လည်း စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် စက်ပစ္စည်းကို လှုံ့ဆော်ရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည့် ဗို့အားနှင့် လက်ရှိအရင်းအမြစ်များပါရှိသည်။ သုတ်သင်ဗို့အားကို စမ်းသပ်နေသည့် စက်ပစ္စည်း၏ terminal နှစ်ခုတွင် သက်ရောက်ပြီး ဗို့အားတစ်ခုစီတွင် စီးဆင်းရန် စက်ခွင့်ပြုသည့် လျှပ်စီးကြောင်းပမာဏကို တိုင်းတာသည်။ VI (ဗို့အားနှင့် လျှပ်စီးကြောင်း) ဟုခေါ်သော ဂရပ်ကို oscilloscope မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ပြသထားသည်။ ဖွဲ့စည်းမှုတွင် ထည့်သွင်းထားသော အမြင့်ဆုံးဗို့အား၊ အသုံးချဗို့အား၏ ဝင်ရိုးစွန်း (အပြုသဘောနှင့် အနုတ်သဘောဝင်ရိုးစွန်းနှစ်ခုစလုံး၏ အလိုအလျောက် အသုံးချမှုအပါအဝင်) နှင့် စက်ပစ္စည်းနှင့်အတူ အတွဲလိုက်ထည့်သွင်းထားသော ခံနိုင်ရည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ diodes ကဲ့သို့သော terminal devices နှစ်ခုအတွက်၊ ၎င်းသည် ကိရိယာကို အပြည့်အဝ သတ်မှတ်ရန် လုံလောက်ပါသည်။ မျဉ်းကွေးခြေရာခံသည် diode ၏ရှေ့ဆက်ဗို့အား၊ ပြောင်းပြန်ယိုစိမ့်နေသောလျှပ်စီးကြောင်း၊ ပြောင်းပြန်ပြိုကွဲဗို့အား၊ စသည်တို့ကဲ့သို့သော စိတ်ဝင်စားဖွယ်ကောင်းသောဘောင်များကို ပြသနိုင်သည်။ ထရန်စစ္စတာနှင့် FET ကဲ့သို့သော ဂိတ်သုံး စက်ပစ္စည်းများသည် Base သို့မဟုတ် Gate terminal ကဲ့သို့သော စမ်းသပ်ထားသည့် စက်၏ ထိန်းချုပ်မှုဂိတ်သို့ ချိတ်ဆက်မှုကိုလည်း အသုံးပြုပါသည်။ ထရန်စစ္စတာများနှင့် အခြားလက်ရှိအခြေခံစက်ပစ္စည်းများအတွက်၊ အခြေခံ သို့မဟုတ် အခြားထိန်းချုပ်ရေးဂိတ်လျှပ်စီးကြောင်းကို အဆင့်မြှင့်ထားသည်။ Field Effect Transistors (FETs) အတွက် stepped voltage အစား stepped voltage ကို အသုံးပြုပါသည်။ configured main terminal voltages များ၏ ဗို့အားကို ဖြတ်၍ control signal ၏ ဗို့အားအဆင့်တိုင်းအတွက်၊ VI curves အုပ်စုကို အလိုအလျောက်ထုတ်ပေးပါသည်။ ဤမျဉ်းကွေးအုပ်စုများသည် ထရန်စစ္စတာ၏ အမြတ် သို့မဟုတ် thyristor သို့မဟုတ် TRIAC ၏ အစပျိုးဗို့အားကို ဆုံးဖြတ်ရန် အလွန်လွယ်ကူစေသည်။ ခေတ်မီ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ မျဉ်းကွေး ခြေရာခံများသည် အလိုလိုသိနိုင်သော Windows အခြေပြု အသုံးပြုသူ အင်တာဖေ့စ်များ၊ IV၊ CV နှင့် pulse မျိုးဆက်နှင့် pulse IV၊ နည်းပညာတိုင်းအတွက် ပါဝင်သော အပလီကေးရှင်း စာကြည့်တိုက်များ အစရှိသည့် ဆွဲဆောင်မှုများစွာကို ပေးဆောင်ပါသည်။ Phase လှည့်ခြင်းစမ်းသပ်ခြင်း/ညွှန်ပြခြင်း- ဤအရာများသည် အဆင့်သုံးဆင့်စနစ်များနှင့် အဖွင့်/အားလျော့သည့်အဆင့်များတွင် အဆင့်အစီအစဥ်ကိုခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် ကျစ်လစ်ပြီး အကြမ်းခံသောစမ်းသပ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့သည် လည်ပတ်နေသော စက်များ၊ မော်တာများ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် generator output ကို စစ်ဆေးခြင်းအတွက် စံပြဖြစ်သည်။ အပလီကေးရှင်းများထဲတွင် သင့်လျော်သော အဆင့်အစီအမံများကို ဖော်ထုတ်ခြင်း၊ ပျောက်ဆုံးနေသော ဝါယာကြိုးအဆင့်များကို ရှာဖွေခြင်း၊ စက်လည်ပတ်ခြင်းအတွက် သင့်လျော်သောချိတ်ဆက်မှုများကို ဆုံးဖြတ်ခြင်း၊ တိုက်ရိုက်ပတ်လမ်းများကို ထောက်လှမ်းခြင်းတို့ဖြစ်သည်။ FREQUENCY CountER သည် ကြိမ်နှုန်းတိုင်းတာရန်အတွက် အသုံးပြုသော စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း ဖြစ်ပွားသည့် ဖြစ်ရပ်အရေအတွက်ကို စုဆောင်းသည့် ကောင်တာကို အသုံးပြုသည်။ ရေတွက်ရမည့် အဖြစ်အပျက်သည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပုံစံဖြစ်ပြီး၊ ကိရိယာနှင့် ရိုးရှင်းသော ချိတ်ဆက်မှုသည် လိုအပ်သည်။ ပိုများသော ရှုပ်ထွေးမှုရှိသော အချက်ပြများသည် ၎င်းတို့ကို ရေတွက်ရန် သင့်လျော်စေရန် အချို့သော အေးစက်မှုများ လိုအပ်နိုင်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာအများစုတွင် အသံချဲ့စက်၊ စစ်ထုတ်ခြင်းနှင့် ပုံသွင်းသည့် ဆားကစ်ပုံစံအချို့ရှိသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်မှု၊ အာရုံခံနိုင်စွမ်းထိန်းချုပ်မှုနှင့် hysteresis တို့သည် စွမ်းဆောင်ရည်ကိုမြှင့်တင်ရန် အခြားသောနည်းပညာများဖြစ်သည်။ သဘာဝတွင် မွေးရာပါ အီလက်ထရွန်းနစ်မဟုတ်သော အခြားအချိန်အပိုင်းအခြားအလိုက် ဖြစ်ရပ်များကို transducers များအသုံးပြု၍ ပြောင်းလဲရန် လိုအပ်ပါသည်။ RF ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းနိမ့်သော ကောင်တာများကဲ့သို့ တူညီသောမူများကို လုပ်ဆောင်သည်။ မလျှံမီ အပိုင်းအခြား ပိုများသည်။ အလွန်မြင့်မားသော မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းများအတွက်၊ ဒီဇိုင်းများစွာသည် ပုံမှန်ဒစ်ဂျစ်တယ်ဆားကစ်များလည်ပတ်နိုင်သည့်အချက်ဆီသို့ အချက်ပြကြိမ်နှုန်းကို လျှော့ချရန်အတွက် မြန်နှုန်းမြင့် ကြိုတင်စကေးကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းများကို 100 GHz နီးပါးအထိ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ဤမြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများအထက်တွင် တိုင်းတာရမည့် signal ကို local oscillator မှ signal နှင့် mixer တွင် ပေါင်းစပ်ထားပြီး၊ တိုက်ရိုက်တိုင်းတာရန်အတွက် လုံလောက်သောနည်းသော ကွာခြားမှုကြိမ်နှုန်းဖြင့် signal ကိုထုတ်ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများတွင် လူကြိုက်များသော အင်တာဖေ့စ်များသည် RS232၊ USB၊ GPIB နှင့် Ethernet တို့သည် အခြားသော ခေတ်မီကိရိယာများနှင့် ဆင်တူသည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များ ပေးပို့ခြင်းအပြင်၊ အသုံးပြုသူသတ်မှတ်ထားသော အတိုင်းအတာကန့်သတ်ချက်ထက်ကျော်လွန်သည့်အခါ ကောင်တာတစ်ခုမှ သုံးစွဲသူအား အသိပေးနိုင်သည်။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com For other similar equipment, please visit our equipment website: http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Rapid Prototyping, Desktop Manufacturing, Additive Manufacturing, FDM

    Rapid Prototyping, Desktop Manufacturing, Additive Manufacturing, Stereolithography, Polyjet, Fused Deposition Modeling, Selective Laser Sintering, FDM, SLS Additive နှင့် Rapid Manufacturing မကြာသေးမီနှစ်များအတွင်း၊ အလျင်အမြန်ထုတ်လုပ်ခြင်း သို့မဟုတ် လျင်မြန်သော PROTOTYPING အတွက် ဝယ်လိုအား တိုးလာသည်ကို ကျွန်ုပ်တို့တွေ့မြင်ရပါသည်။ ဤလုပ်ငန်းစဉ်ကို DESKTOP ထုတ်လုပ်ရေး သို့မဟုတ် အခမဲ့ပုံစံ ဖန်တီးမှုဟုလည်း ခေါ်နိုင်သည်။ အခြေခံအားဖြင့် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ ခိုင်မာသော ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာပုံစံကို သုံးဖက်မြင် CAD ပုံဆွဲမှ တိုက်ရိုက်ပြုလုပ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် အစိတ်အပိုင်းများကို အလွှာလိုက်တည်ဆောက်သည့် ဤနည်းပညာအမျိုးမျိုးအတွက် ပေါင်းထည့်ထုတ်လုပ်ခြင်းဟူသော ဝေါဟာရကို အသုံးပြုပါသည်။ ပေါင်းစပ်ကွန်ပြူတာ-မောင်းနှင်သော ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့် ဆော့ဖ်ဝဲလ်ကို အသုံးပြု၍ ပေါင်းစည်းထုတ်လုပ်ခြင်းကို လုပ်ဆောင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ လျင်မြန်သော ပုံတူပုံစံနှင့် ထုတ်လုပ်မှုနည်းပညာများမှာ STEREOLITHOGRAPHY၊ POLYJET၊ FUSED-DEPOSITION MODELING၊ SELECTIVE LASER SINTERING၊ ELECTRON BEAM အရည်ပျော်ခြင်း၊ သုံးဖက်မြင်ပုံနှိပ်ခြင်း၊ တိုက်ရိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်း၊ မြန်ဆန်သောကိရိယာများ။ ဤနေရာကိုနှိပ်ရန် အကြံပြုလိုပါသည်။AGS-TECH Inc. မှ ထပ်လောင်းထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် လျင်မြန်သောကုန်ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်များ၏ ဇယားကွက်ပုံများကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ ၎င်းသည် သင့်အား အောက်တွင် ကျွန်ုပ်တို့ ပေးဆောင်နေသော အချက်အလက်များကို ပိုမိုနားလည်ရန် ကူညီပေးပါမည်။ လျင်မြန်သော နမူနာပုံစံကို ကျွန်ုပ်တို့အား ပံ့ပိုးပေးသည်- 1.) အယူအဆဆိုင်ရာ ထုတ်ကုန်ဒီဇိုင်းကို 3D / CAD စနစ်ဖြင့် မော်နီတာတစ်ခုပေါ်တွင် မတူညီသောထောင့်များမှ ကြည့်ရှုသည်။ 2.) သတ္တုမဟုတ်သော သတ္တုနှင့် သတ္ထုပစ္စည်းများမှ ရှေ့ပြေးပုံစံများကို လုပ်ငန်းဆိုင်ရာ၊ နည်းပညာနှင့် အလှအပဆိုင်ရာ ရှုထောင့်များမှ ထုတ်လုပ်ပြီး လေ့လာသည်။ 3.) အချိန်တိုအတွင်း ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသော ပုံတူရိုက်ခြင်းကို ပြီးမြောက်အောင်မြင်ပါသည်။ ပေါင်းထည့်ခြင်းလုပ်ငန်းသည် အချပ်တစ်ခုချင်းစီ၏အပေါ်တွင် အစီအမံများဖြင့် ပေါင်းစည်းခြင်းဖြင့် ပေါင်မုန့်တစ်လုံးတည်ဆောက်ခြင်းနှင့် ဆင်တူနိုင်သည်။ တစ်နည်းဆိုရသော် ထုတ်ကုန်ကို အချပ်လိုက် အချပ်လိုက်၊ သို့မဟုတ် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု အလွှာလိုက် အလွှာလိုက် ထုတ်လုပ်သည်။ အစိတ်အပိုင်းအများစုကို နာရီပိုင်းအတွင်း ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ အစိတ်အပိုင်းများ အလွန်လျင်မြန်စွာ လိုအပ်ပါက သို့မဟုတ် လိုအပ်သော ပမာဏနည်းပါးပြီး မှိုပြုလုပ်ခြင်းနှင့် ကိရိယာတန်ဆာပလာများ စျေးကြီးပြီး အချိန်ကုန်ပါက နည်းပညာသည် ကောင်းမွန်ပါသည်။ သို့သော် စျေးကြီးသော ကုန်ကြမ်းများကြောင့် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ ကုန်ကျစရိတ်သည် စျေးကြီးသည်။ • STEREOLITHOGRAPHY : STL ဟုလည်း အတိုကောက်ခေါ်သည့် ဤနည်းပညာသည် ၎င်းတွင် လေဆာရောင်ခြည်ကို အာရုံစိုက်ခြင်းဖြင့် အရည် photopolymer ကို တိကျသောပုံသဏ္ဍာန်အဖြစ်သို့ ကုသခြင်းနှင့် မာကျောခြင်းအပေါ် အခြေခံထားသည်။ လေဆာသည် ပိုလီမာကို ပြုပြင်ပေးကာ ကုသပေးသည်။ photopolymer အရောအနှော၏ မျက်နှာပြင်တစ်လျှောက် ပရိုဂရမ်ပုံသဏ္ဍာန်အတိုင်း UV လေဆာရောင်ခြည်ကို စကင်န်ဖတ်ခြင်းဖြင့် အစိတ်အပိုင်းကို အောက်ခြေမှ အပေါ်ဘက်အထိ တစ်ခုချင်းစီ၏ အပေါ်မှ အချပ်လိုက်ဖြင့် ထုတ်ပေးပါသည်။ လေဆာအစက်အပြောက်ကို စကင်န်ဖတ်ခြင်းသည် စနစ်တွင်ထည့်သွင်းထားသော ဂျီသြမေတြီများရရှိရန် အကြိမ်များစွာ ထပ်ခါတလဲလဲ ပြုလုပ်သည်။ အစိတ်အပိုင်းကို အပြီးအပိုင် ထုတ်လုပ်ပြီးနောက်၊ ၎င်းကို ပလက်ဖောင်းပေါ်မှ ဖယ်ရှားပြီး ultrasonic ဖြင့် သန့်စင်ကာ အရက်သေစာဖြင့် ရေချိုးပေးသည်။ ထို့နောက်၊ ပေါ်လီမာသည် အပြည့်အဝပျောက်ကင်းပြီး မာကျောကြောင်းသေချာစေရန် ၎င်းကို ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်ဖြင့် နာရီအနည်းငယ်ကြာအောင် ထိတွေ့ပါ။ လုပ်ငန်းစဉ်ကို အကျဉ်းချုပ်ရန်၊ photopolymer အရောအနှောထဲသို့ နှစ်ပြီး ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်ကို servo-control စနစ်ဖြင့် ထိန်းချုပ်ကာ အစိတ်အပိုင်းကို tp ပုံသဏ္ဍာန်အတိုင်း ရွှေ့ကာ အပိုင်းကို အလွှာအလိုက် ပေါ်လီမာအလွှာကို ဓာတ်ပုံရိုက်ခြင်းဖြင့် ရရှိသည်။ ထုတ်လုပ်သည့်အပိုင်း၏ အမြင့်ဆုံးအတိုင်းအတာကို stereolithography ပစ္စည်းများဖြင့် ဆုံးဖြတ်ပါသည်။ • POLYJET : inkjet ပရင့်ထုတ်ခြင်းကဲ့သို့ပင်၊ polyjet တွင် ကျွန်ုပ်တို့တွင် photopolymer ကို build tray တွင်ထည့်ထားသော print head ရှစ်ခုရှိသည်။ ဂျက်လေယာဉ်များဘေးတွင် ထားရှိသော ခရမ်းလွန်ရောင်ခြည်သည် အလွှာတစ်ခုစီကို ချက်ချင်းပျောက်ကင်းစေပြီး မာကျောစေသည်။ ပစ္စည်းနှစ်ခုကို polyjet တွင်အသုံးပြုသည်။ ပထမဆုံး ပစ္စည်းက တကယ့်မော်ဒယ်ကို ထုတ်လုပ်ဖို့ပါ။ ဒုတိယပစ္စည်းဖြစ်သော ဂျယ်ကဲ့သို့သောအစေးကို အထောက်အပံ့အတွက် အသုံးပြုသည်။ ဤပစ္စည်းနှစ်မျိုးလုံးကို အလွှာတစ်ခုပြီးတစ်ခု စုဆောင်းပြီး တစ်ပြိုင်နက် ပျောက်ကင်းစေသည်။ မော်ဒယ်ပြီးစီးပြီးနောက်၊ အထောက်အပံ့ပစ္စည်းကို ရေပျော်ရည်ဖြင့် ဖယ်ရှားသည်။ အသုံးပြုထားသော resins များသည် stereolithography (STL) နှင့် ဆင်တူသည်။ Polyjet သည် stereolithography ထက် အောက်ပါ အားသာချက်များ ရှိသည်- 1.) သန့်ရှင်းရေး အစိတ်အပိုင်းများ မလိုအပ်ပါ။ 2.) Postprocess curing ပြုလုပ်ရန် မလိုအပ်ပါ 3.) သေးငယ်သော အလွှာအထူများ ဖြစ်နိုင်သောကြောင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် ပိုမိုကောင်းမွန်သော ကြည်လင်ပြတ်သားမှုကို ရရှိပြီး ပိုမိုသေးငယ်သော အစိတ်အပိုင်းများကို ထုတ်လုပ်နိုင်ပါသည်။ • FUSED DEPOSITION MODELING : FDM ဟုလည်း အတိုကောက်ခေါ်သည်၊ ဤနည်းလမ်းတွင် စက်ရုပ်-ထိန်းချုပ်ထားသော extruder ဦးခေါင်းသည် စားပွဲတစ်ခုပေါ်မှ မူအရ လမ်းကြောင်းနှစ်ခုဖြင့် ရွေ့လျားသည်။ ကြိုးကို လိုအပ်သလို လျှော့ချပြီး မြှင့်ပါ။ ဦးခေါင်းပေါ်ရှိ အပူပေးသေတ္တာ၏ ထွက်ပေါက်မှ သာမိုပလတ်စတစ်ကြိုးကို ထုတ်ယူပြီး ကနဦးအလွှာကို ရေမြှုပ်ဖောင်ဒေးရှင်းပေါ်တွင် တင်ထားသည်။ ကြိုတင်သတ်မှတ်ထားသောလမ်းကြောင်းအတိုင်းလိုက်သော extruder ဦးခေါင်းဖြင့် ၎င်းကိုလုပ်ဆောင်သည်။ ကနဦးအလွှာပြီးနောက်၊ ဇယားကို နှိမ့်လိုက်ပြီး နောက်ဆက်တွဲအလွှာများကို တစ်ခုနှင့်တစ်ခုအပေါ်ထပ်တွင် ထားရှိသည်။ တစ်ခါတစ်ရံတွင် ရှုပ်ထွေးသောအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုကို ထုတ်လုပ်သည့်အခါတွင် အပ်နှံမှုအချို့ကို ဦးတည်သွားစေရန်အတွက် ပံ့ပိုးမှုတည်ဆောက်ပုံများ လိုအပ်ပါသည်။ ဤကိစ္စများတွင်၊ အထောက်အပံ့ပစ္စည်းကို အလွှာတစ်ခုပေါ်ရှိ အမျှင်မျှင်၏သိပ်သည်းသောအကွာအဝေးဖြင့် ထုလုပ်ထားသောကြောင့် ၎င်းသည် မော်ဒယ်ပစ္စည်းထက် အားနည်းသွားစေရန်။ အဆိုပါ အထောက်အပံ့ အဆောက်အဦများသည် အစိတ်အပိုင်း ပြီးစီးပြီးနောက် နောက်ပိုင်းတွင် ဖျက်သိမ်းခြင်း သို့မဟုတ် ပြိုကွဲသွားနိုင်သည်။ extruder die dimensions သည် extruded layer ၏ အထူကို ဆုံးဖြတ်သည်။ FDM လုပ်ငန်းစဉ်သည် အပြင်ပိုင်းလေယာဉ်များပေါ်တွင် အဆင့်လိုက်မျက်နှာပြင်များဖြင့် အစိတ်အပိုင်းများကို ထုတ်လုပ်သည်။ ဤကြမ်းတမ်းမှုကို လက်မခံနိုင်ပါက ဓာတုအငွေ့များကို ပွတ်တိုက်ခြင်း သို့မဟုတ် အပူပေးကိရိယာကို ချောမွေ့စေရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။ ဤအဆင့်များကို ဖယ်ရှားရန်နှင့် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်သော ဂျီဩမေတြီခံနိုင်ရည်များရရှိရန် ပွတ်ဆေးဖယောင်းကိုပင် အပေါ်ယံပစ္စည်းအဖြစ် ရရှိနိုင်သည်။ • SELECTIVE လေဆာ SINTERING : SLS အဖြစ်လည်းရည်ညွှန်းသည်၊ လုပ်ငန်းစဉ်သည် ပေါ်လီမာ၊ ကြွေထည် သို့မဟုတ် သတ္တုမှုန့်များကို အရာဝတ္တုတစ်ခုထဲသို့ ရွေးချယ်စွာ ရောနှောခြင်းအပေါ် အခြေခံသည်။ စီမံဆောင်ရွက်သည့်အခန်း၏အောက်ခြေတွင် ဆလင်ဒါနှစ်ခုပါဝင်သည်- တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းတည်ဆောက်သောဆလင်ဒါနှင့် အမှုန့်-အစာဆလင်ဒါတစ်ခုရှိသည်။ ယခင်ကို ကြိတ်စက်ယန္တရားဖြင့် အစိတ်အပိုင်းတည်ဆောက်မှုဆလင်ဒါသို့ အမှုန့်များ ထောက်ပံ့ပေးရန်အတွက် ယခင်ကို သန့်စင်ထားသော အစိတ်အပိုင်းကို ဖွဲ့စည်းသည့်နေရာသို့ ဖြည်းဖြည်းချင်း လျှော့ချပြီး နောက်တစ်ခုအား ကြိတ်စက်ဖြင့် တည်ဆောက်သည်။ ပထမဦးစွာ ပါးလွှာသောအမှုန့်ကို အစိတ်အပိုင်းတည်ဆောက်မှုဆလင်ဒါတွင် ထားရှိပြီး၊ ထို့နောက် အလွှာတစ်ခုပေါ်တွင် လေဆာရောင်ခြည်ကို အာရုံပြုကာ သီးခြားအပိုင်းတစ်ခုကို ခြေရာခံကာ အရည်ပျော်ခြင်း/သန့်စင်ခြင်းတို့ကို ပြုလုပ်ပြီးနောက် အစိုင်အခဲအဖြစ်သို့ ပြန်လည်ခိုင်မာသွားစေသည်။ အမှုန့်သည် လေဆာရောင်ခြည်ဖြင့် မထိမှန်သောနေရာများတွင် လျော့ရဲနေသော်လည်း အစိုင်အခဲအပိုင်းကို ထောက်ပံ့ပေးနေဆဲဖြစ်သည်။ ထို့နောက် အမှုန့်ကို အခြားအလွှာကို အပ်နှံပြီး အစိတ်အပိုင်းကို ရရှိရန် အကြိမ်များစွာ ထပ်ခါထပ်ခါ ပြုလုပ်ပါ။ အဆုံးတွင် ဆပ်ပြာမှုန့် အမှုန်အမွှားများကို ဖယ်ထုတ်ပစ်လိုက်သည်။ ၎င်းတို့အားလုံးကို 3D CAD ပရိုဂရမ်မှ ထုတ်လုပ်သည့် ညွှန်ကြားချက်များကို အသုံးပြု၍ လုပ်ငန်းစဉ်ထိန်းချုပ်သည့် ကွန်ပျူတာဖြင့် လုပ်ဆောင်သည်။ ပိုလီမာများ (ဥပမာ ABS၊ PVC၊ polyester)၊ ဖယောင်း၊ သတ္တုများနှင့် ကြွေထည်ပစ္စည်းများကို သင့်လျော်သော ပိုလီမာ binders များဖြင့် အပ်နှံနိုင်ပါသည်။ • ELECTRON-BEAM MELTING : ရွေးချယ်ထားသော လေဆာဖြတ်ခြင်းနှင့် ဆင်တူသော်လည်း လေဟာနယ်တွင် ရှေ့ပြေးပုံစံများပြုလုပ်ရန် အီလက်ထရွန်ရောင်ခြည်ကို အသုံးပြု၍ တိုက်တေနီယမ် သို့မဟုတ် ကိုဘော့ခရမ်အမှုန့်များကို အရည်ပျော်စေရန်။ သံမဏိများ၊ အလူမီနီယမ်နှင့် ကြေးနီသတ္တုစပ်များပေါ်တွင် ဤလုပ်ငန်းစဉ်ကို လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် အချို့သောတိုးတက်မှုများ ပြုလုပ်ထားပါသည်။ ထုတ်လုပ်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများ၏ ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုကို တိုးမြှင့်ရန် လိုအပ်ပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် အစိတ်အပိုင်းများ ထုတ်လုပ်ရန်အတွက် နောက်ဆက်တွဲ လုပ်ငန်းစဉ်အဖြစ် ပူပြင်းသော isostatic နှိပ်ခြင်းကို အသုံးပြုပါသည်။ • သုံးဖက်မြင်ပုံနှိပ်ခြင်း- 3DP ကိုလည်း ရည်ညွှန်းဖော်ပြသည်၊ ဤနည်းပညာတွင် ပရင့်ခေါင်းသည် သတ္တုမဟုတ်သော သို့မဟုတ် သတ္တုမဟုတ်သော အမှုန့်၏အလွှာတစ်ခုပေါ်သို့ inorganic binder ကို အပ်နှံသည်။ အမှုန့်တင်ဆောင်လာသော ပစ္စတင်တစ်လုံးကို ဖြည်းဖြည်းချင်းလျှော့ချပြီး အဆင့်တစ်ဆင့်တိုင်းတွင် binder ကို layer အလွှာအလိုက် အလွှာအလိုက် စုစည်းထားပြီး binder ဖြင့် ပေါင်းစပ်ထားသည်။ အသုံးပြုသော အမှုန့်များသည် ပိုလီမာများနှင့် အမျှင်များ၊ သဲ၊ သတ္တုများဖြစ်သည်။ မတူညီသော binder ခေါင်းများကို တစ်ပြိုင်နက်အသုံးပြုကာ မတူညီသောအရောင် binders များကို ကျွန်ုပ်တို့သည် အမျိုးမျိုးသောအရောင်များကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ လုပ်ငန်းစဉ်သည် inkjet ပုံနှိပ်ခြင်းနှင့်ဆင်တူသော်လည်း ရောင်စုံစာရွက်ကိုရရှိမည့်အစား ရောင်စုံသုံးဘက်မြင်အရာဝတ္ထုတစ်ခုကို ကျွန်ုပ်တို့ရရှိမည်ဖြစ်သည်။ ထုတ်လုပ်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများသည် ချွေးပေါက်များဖြစ်နိုင်ပြီး ၎င်း၏သိပ်သည်းမှုနှင့် ခိုင်ခံ့မှုကို တိုးမြှင့်ရန်အတွက် သန့်စင်ခြင်းနှင့် သတ္တုတွင်းသို့ စိမ့်ဝင်မှု လိုအပ်နိုင်သည်။ Sintering သည် binder ကို လောင်ကျွမ်းစေပြီး သတ္တုမှုန့်များကို ပေါင်းစပ်ပေးသည်။ သံမဏိ၊ အလူမီနီယမ်၊ တိုက်တေနီယမ် အစရှိသော သတ္တုများကို အစိတ်အပိုင်းများပြုလုပ်ရန်နှင့် ကြေးနီနှင့် ကြေးဝါတို့ကို မကြာခဏ စိမ့်ဝင်မှုဆိုင်ရာပစ္စည်းများအဖြစ် အသုံးပြုနိုင်သည်။ ဤနည်းပညာ၏ လှပမှုသည် ရှုပ်ထွေးပြီး ရွေ့လျားနေသော ပရိဘောဂများကိုပင် လျှင်မြန်စွာ ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ ဥပမာအားဖြင့် ဂီယာတပ်ဆင်မှုတစ်ခု၊ ကိရိယာတစ်ခုအနေဖြင့် လိမ်ဖဲ့ခြင်းကို ပြုလုပ်နိုင်ပြီး ရွေ့လျားခြင်းနှင့် အလှည့်အပြောင်းအပိုင်းများကို အသုံးပြုရန် အသင့်ရှိမည်ဖြစ်သည်။ စည်းဝေးပွဲ၏ မတူညီသော အစိတ်အပိုင်းများကို မတူညီသောအရောင်များဖြင့် တစ်ကြိမ်တည်းဖြင့် ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဘရိုရှာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။သတ္တု 3D ပရင့်ထုတ်ခြင်း အခြေခံများ • တိုက်ရိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် လျင်မြန်သောကိရိယာများ- ဒီဇိုင်းအကဲဖြတ်ခြင်းအပြင်၊ ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းတွင် ကျွန်ုပ်တို့သည် ထုတ်ကုန်များကို တိုက်ရိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်း သို့မဟုတ် ထုတ်ကုန်များတွင် တိုက်ရိုက်အသုံးချရန်အတွက် လျင်မြန်သောပုံတူပုံစံကို အသုံးပြုပါသည်။ တစ်နည်းဆိုရသော် လျင်မြန်သော ပုံတူပုံစံကို သမားရိုးကျ လုပ်ငန်းစဉ်များတွင် ထည့်သွင်းနိုင်ပြီး ၎င်းတို့ကို ပိုမိုကောင်းမွန်ပြီး ပြိုင်ဆိုင်နိုင်စေပါသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ လျင်မြန်သော ပုံတူရိုက်ခြင်းသည် ပုံစံများနှင့် မှိုများကို ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ လျင်မြန်သော ပုံတူရိုက်ခြင်းလုပ်ငန်းများဖြင့် ဖန်တီးထားသော ပေါ်လီမာအရည်ပျော်ခြင်းနှင့် လောင်ကျွမ်းခြင်းပုံစံများကို ရင်းနှီးမြှုပ်နှံမှုပုံသွင်းခြင်းနှင့် ရင်းနှီးမြှပ်နှံရန်အတွက် စုစည်းနိုင်ပါသည်။ ဖော်ပြရမည့် နောက်ထပ်ဥပမာတစ်ခုမှာ ကြွေထည်သွန်းလုပ်ခြင်းအခွံကိုထုတ်လုပ်ရန် 3DP ကိုအသုံးပြုပြီး shell Casting လုပ်ဆောင်မှုများအတွက် ၎င်းကိုအသုံးပြုခြင်းဖြစ်သည်။ ဆေးထိုးမှိုများနှင့် မှိုထည့်သွင်းမှုများကိုပင် လျင်မြန်စွာ ပုံတူရိုက်ခြင်းဖြင့် ထုတ်လုပ်နိုင်ပြီး မှိုပြုလုပ်ရာတွင် ရက်သတ္တပတ်များစွာ သို့မဟုတ် လပေါင်းများစွာ ကြာမြင့်နိုင်သည်။ လိုချင်သောအပိုင်း၏ CAD ဖိုင်ကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့်သာ ဆော့ဖ်ဝဲလ်ကို အသုံးပြု၍ tool geometry ကို ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ ဤသည်မှာ ကျွန်ုပ်တို့၏ရေပန်းစားသော လျင်မြန်သောကိရိယာသုံးနည်းအချို့ဖြစ်သည်။ RTV (Room-Temperature Vulcanizing) MOLDING / URETHANE CASTING : လျင်မြန်သော ပုံတူပုံစံကို အသုံးပြု၍ အလိုရှိသော အစိတ်အပိုင်း၏ ပုံစံကို ပြုလုပ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။ ထို့နောက် ဤပုံစံကို ခွဲထွက်အေးဂျင့်ဖြင့် ဖုံးအုပ်ထားပြီး မှိုတစ်ဝက်များထွက်လာစေရန် ပုံစံအပေါ်မှ RTV ရာဘာအရည်ကို လောင်းချသည်။ ထို့နောက် အဆိုပါမှိုတစ်ဝက်များကို ဆေးထိုးမှိုအရည် ယူရသိန်းအတွက် အသုံးပြုသည်။ မှိုသက်တမ်းသည် တိုတောင်းသည်၊ 0 သို့မဟုတ် 30 သံသရာကဲ့သို့သာဖြစ်သော်လည်း သေးငယ်သောအသုတ်ထုတ်လုပ်မှုအတွက် လုံလောက်ပါသည်။ ACES (Acetal Clear Epoxy Solid) INJECTION MOLDING - စတီရီအိုလစ်သရိုက်ရိုက်ခြင်းကဲ့သို့သော လျင်မြန်သောပုံတူပုံစံနည်းပညာများကို အသုံးပြု၍ ဆေးထိုးမှိုများကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ ဤမှိုများသည် epoxy၊ အလူမီနီယမ်ဖြည့်ထားသော epoxy သို့မဟုတ် သတ္တုများကဲ့သို့ ပစ္စည်းများဖြည့်သွင်းနိုင်စေရန် အဖွင့်အစွန်းရှိသော အခွံများဖြစ်သည်။ တစ်ဖန် မှို၏သက်တမ်းသည် ဆယ်ဂဏန်း သို့မဟုတ် အများဆုံး ရာနှင့်ချီသော အစိတ်အပိုင်းများကို ကန့်သတ်ထားသည်။ ဖြန်းထားသော သတ္တုတူးလ်လုပ်ခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်- ကျွန်ုပ်တို့သည် လျင်မြန်သော ပုံတူဖော်နည်းကို အသုံးပြုပြီး ပုံစံတစ်ခု ပြုလုပ်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပုံစံမျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဇင့်-အလူမီနီယမ်အလွိုင်းကို ပက်ဖျန်းပြီး ဖုံးအုပ်ထားသည်။ ထို့နောက် သတ္တုအပေါ်ယံပိုင်းပုံစံကို ဓာတ်ဘူးအတွင်းထည့်ကာ epoxy သို့မဟုတ် အလူမီနီယမ်ဖြည့် epoxy ဖြင့် အိုးထဲထည့်ပါ။ နောက်ဆုံးတွင် ၎င်းကိုဖယ်ရှားပြီး ထိုမှိုနှစ်ခြမ်းကိုထုတ်လုပ်ခြင်းဖြင့် ဆေးထိုးပုံသွင်းရန်အတွက် ပြီးပြည့်စုံသောမှိုကို ကျွန်ုပ်တို့ရရှိမည်ဖြစ်သည်။ ဤမှိုများသည် အသက်ပိုရှည်သည်၊ အချို့ကိစ္စများတွင် ပစ္စည်းနှင့် အပူချိန်ပေါ်မူတည်၍ ထောင်ပေါင်းများစွာသော အစိတ်အပိုင်းများကို ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ KEELTOOL လုပ်ငန်းစဉ်- ဤနည်းပညာသည် စက်ဝိုင်းအသက်ပေါင်း 100,000 မှ 10 သန်းအထိ မှိုများကို ထုတ်လုပ်ပေးနိုင်ပါသည်။ လျင်မြန်သော နမူနာပုံစံကို အသုံးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့သည် RTV ပုံစံခွက်ကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ နောက်မှိုကို A6 တူးလ်စတီးလ်မှုန့်၊ အဖြိုက်စတင်ကာဗိုက်၊ ပိုလီမာ binder နှင့် ကုသရန် ပါဝင်သော အရောအနှောများဖြင့် ဖြည့်ထားသည်။ ထို့နောက် ပိုလီမာကို လောင်ကျွမ်းစေပြီး သတ္တုမှုန့်များကို ပေါင်းစပ်ရန် ဤမှိုကို အပူပေးသည်။ နောက်ဆုံးအဆင့်မှိုထုတ်လုပ်ရန် ကြေးနီစိမ့်ဝင်မှုဖြစ်သည်။ လိုအပ်ပါက၊ စက်ပြုပြင်ခြင်းနှင့် ပွတ်ခြင်းကဲ့သို့သော ဆင့်ပွားလုပ်ဆောင်ချက်များကို ပိုမိုကောင်းမွန်သော ထုထည်တိကျမှုအတွက် ပုံစံခွက်ပေါ်တွင် လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ _cc781905-5cde-3194-bb3b-1358bad_ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • PCB, PCBA, Printed Circuit Board Assembly, Surface Mount Assembly, SMA

    PCB - PCBA - Printed Circuit Board Assembly - Rigid Flexible Multilayer - Surface Mount Assembly - SMA - AGS-TECH Inc. PCB & PCBA ထုတ်လုပ်မှုနှင့် စည်းဝေးပွဲ ငါတို့ကမ်းလှမ်းသည်: PCB- ပရင့်ထုတ်ထားသော Circuit Board PCBA- ပုံနှိပ်တိုက်နယ်ဘုတ်အဖွဲ့ စည်းဝေးပွဲ • အမျိုးအစားအားလုံး၏ Printed Circuit Board စည်းဝေးပွဲများ (PCB၊ တောင့်တင်းသော၊ ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်နှင့် multilayer) • သင့်လိုအပ်ချက်ပေါ်မူတည်၍ အလွှာများ သို့မဟုတ် PCBA တပ်ဆင်မှု အပြည့်အစုံ။ • Thru-Hole နှင့် Surface Mount Assembly (SMA) သင်၏ Gerber ဖိုင်များ၊ BOM၊ အစိတ်အပိုင်းသတ်မှတ်ချက်များကို ကျွန်ုပ်တို့ထံ ပေးပို့ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင်၏ PCB များနှင့် PCBA များကို အတိအကျ သတ်မှတ်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများကို အသုံးပြု၍ စုစည်းနိုင်သည် သို့မဟုတ် ကျွန်ုပ်တို့၏ ကိုက်ညီသော အခြားရွေးချယ်စရာများကို သင့်အား ပေးဆောင်နိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင်္ဘောတင် PCBs နှင့် PCBAs များကို အတွေ့အကြုံရှိထားပြီး electrostatic ထိခိုက်မှုမဖြစ်စေရန် ၎င်းတို့ကို antistatic အိတ်များဖြင့် သေချာထုပ်ပိုးထားမည်ဖြစ်ပါသည်။ လွန်ကဲသောပတ်ဝန်းကျင်များအတွက် ရည်ရွယ်သော PCB များသည် အစိတ်အပိုင်းများကို ဂဟေဆက်ပြီးနောက်တွင် နစ်မြုပ်ခြင်း သို့မဟုတ် ပက်ဖြန်းခြင်းဖြင့် အသုံးပြုသော တူညီသောအလွှာတစ်ခုပါရှိသည်။ ကုတ်အင်္ကျီသည် ညစ်ညမ်းမှုနှင့် ယိုစိမ့်သောရေစီးကြောင်းများ သို့မဟုတ် ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းကြောင့် တိုတောင်းခြင်းကို ကာကွယ်ပေးသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ပုံစံတူအင်္ကျီများသည် များသောအားဖြင့် ဆီလီကွန်ရော်ဘာ၊ polyurethane၊ acrylic သို့မဟုတ် epoxy ၏ အပျော့စားဖြေရှင်းနည်းများဖြစ်သည်။ အချို့သော အင်ဂျင်နီယာများသည် လေဟာနယ်ခန်းအတွင်း PCB ပေါ်သို့ ကြဲချသော ပလတ်စတစ်များဖြစ်သည်။ Safety Standard UL 796 သည် စက်ပစ္စည်းများ သို့မဟုတ် အသုံးအဆောင်များတွင် အစိတ်အပိုင်းများအဖြစ် အသုံးပြုရန်အတွက် ရိုက်နှိပ်ထားသော ဝါယာကြိုးဘုတ်များအတွက် အစိတ်အပိုင်းဘေးကင်းရေးလိုအပ်ချက်များကို အကျုံးဝင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏စစ်ဆေးမှုများသည် မီးလောင်လွယ်ခြင်း၊ အမြင့်ဆုံးလည်ပတ်မှုအပူချိန်၊ လျှပ်စစ်ခြေရာခံခြင်း၊ အပူဘက်ပြောင်းခြင်းနှင့် တိုက်ရိုက်လျှပ်စစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏ တိုက်ရိုက်ပံ့ပိုးမှုကဲ့သို့သော လက္ခဏာများကို ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာပါသည်။ PCB ဘုတ်များသည် အော်ဂဲနစ် သို့မဟုတ် သဘာဝမဲ့ အခြေခံပစ္စည်းများကို တစ်ခုတည်း သို့မဟုတ် အလွှာပေါင်းစုံ၊ တောင့်တင်းသော သို့မဟုတ် ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်ပုံစံဖြင့် အသုံးပြုနိုင်သည်။ ပတ်လမ်းတည်ဆောက်မှုတွင် ထွင်းထုခြင်း၊ တံဆိပ်တုံးထုခြင်း၊ ကြိုညှပ်ခြင်း၊ ရေဆွဲနှိပ်ခြင်း၊ ပေါင်းထည့်ခြင်းနှင့် ချထားသော စပယ်ယာနည်းပညာများ ပါဝင်နိုင်သည်။ ပုံနှိပ်ထားသော အစိတ်အပိုင်း အစိတ်အပိုင်းများကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ ပုံစံကန့်သတ်ချက်များ၊ အပူချိန်နှင့် အများဆုံးဂဟေကန့်သတ်ချက်များ၏ သင့်လျော်မှုအား သက်ဆိုင်ရာ ထုတ်ကုန်တည်ဆောက်မှုနှင့် လိုအပ်ချက်များနှင့်အညီ ဆုံးဖြတ်ရမည်။ နောက်ထပ်အချက်အလက်များ၊ ဒီဇိုင်းအကူအညီ၊ ရှေ့ပြေးပုံစံများနှင့် အစုလိုက်အပြုံလိုက် ထုတ်လုပ်မှုအတွက် ကျွန်ုပ်တို့ကို စောင့်ဆိုင်းမနေပါနှင့်။ လိုအပ်ပါက၊ တံဆိပ်ကပ်ခြင်း၊ ထုပ်ပိုးခြင်း၊ ပို့ဆောင်ခြင်း၊ တင်သွင်းခြင်းနှင့် အကောက်ခွန်၊ သိုလှောင်ခြင်းနှင့် ပေးပို့ခြင်းအားလုံးကို ဂရုစိုက်ပါမည်။ အောက်တွင် PCB နှင့် PCBA စည်းဝေးပွဲအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ သက်ဆိုင်ရာ ဘရိုရှာများနှင့် ကတ်တလောက်များကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်နိုင်ပါသည်။ တောင့်တင်းသော PCB ထုတ်လုပ်မှုအတွက် အထွေထွေ လုပ်ငန်းစဉ် စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သည်းခံနိုင်မှု အလူမီနီယမ် PCB ထုတ်လုပ်ခြင်းအတွက် အထွေထွေ လုပ်ငန်းစဉ် စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သည်းခံနိုင်မှု ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်နှင့် တောင့်တင်း-ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ် PCB ထုတ်လုပ်ခြင်းအတွက် အထွေထွေ လုပ်ငန်းစဉ် စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သည်းခံနိုင်မှု အထွေထွေ PCB Fabrication လုပ်ငန်းစဉ်များ Printed Circuit Board Assembly PCBA ထုတ်လုပ်မှု၏ အထွေထွေလုပ်ငန်းစဉ်အကျဉ်းချုပ် Printed Circuit Boards Manufacturing Plant ၏ ခြုံငုံသုံးသပ်ချက် သင်၏ PCB နှင့် PCBA စည်းဝေးပွဲပရောဂျက်များတွင် ကျွန်ုပ်တို့သုံးနိုင်သော ကျွန်ုပ်တို့၏ထုတ်ကုန်များ၏ နောက်ထပ်လက်ကမ်းစာစောင်အချို့- အမြန်အံဝင်သော terminals၊ USB plugs နှင့် sockets၊ micro pins နှင့် jacks နှင့် အခြားအရာများ ကဲ့သို့သော အမြန်-အံဝင်ခွင်ကျ terminal များနှင့် ဟာ့ဒ်ဝဲများအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ကတ်တလောက်ကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန်၊ ကျေးဇူးပြု၍ ဤနေရာကို နှိပ်ပါ Terminal Blocks နှင့် Connectors များ Terminal Blocks အထွေထွေ Catalog ပုံမှန်အပူစုပ်စက်များ Extruded အပူစုပ်ခွက် Easy Click အပူစုပ်စက်သည် PCB တပ်ဆင်ခြင်းများအတွက် ပြီးပြည့်စုံသော ထုတ်ကုန်တစ်ခုဖြစ်သည်။ အလယ်အလတ် - စွမ်းအားမြင့် အီလက်ထရွန်နစ်စနစ်များအတွက် Super Power အပူစုပ်ခွက် Super Fins များဖြင့် အပူစုပ်ခွက်များ LCD မော်ဂျူးများ Receptacles-Power Entry-Connectors Catalog ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ အင်ဂျင်နီယာနှင့် သုတေသနနှင့် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုစွမ်းရည်များကို ထုတ်လုပ်မှုလုပ်ငန်းများနှင့် လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းများအစား ကျွန်ုပ်တို့၏ အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ သုတေသနနှင့် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုစွမ်းရည်များကို စိတ်ဝင်စားပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့၏ အင်ဂျင်နီယာ site သို့လာရောက်လည်ပတ်ရန် သင့်အား ဖိတ်ခေါ်အပ်ပါသည်။http://www.ags-engineering.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Hole Saws & Hole Saw, Albuquerque USA, AGS-TECH Inc.

    High quality Hole Saws & Hole Saw for cutting different materials. We have hole saws made from various materials to cut wood, masonry, glass and more. အပေါက်စောများ ဆက်စပ်ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် အောက်ရှိ hole saw products_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d တွင် မီးမောင်းထိုးပြထားသည့် စာသားပေါ်တွင် ကျေးဇူးပြု၍ နှိပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့တွင် မည်သည့် application အတွက်မဆို သင့်လျော်သော ကျယ်ပြန့်သော အပေါက်များရှိသည်။ ကျယ်ပြန့်သော အပေါက်များ a ကျယ်ပြန့်သော အပေါက်များ ကွဲပြားခြားနားသောအတိုင်းအတာ၊ အပလီကေးရှင်းများနှင့် ပစ္စည်း၊ ဒီမှာ သူတို့အားလုံးကို တင်ပြဖို့ မဖြစ်နိုင်ပါဘူး။ သင်ရှာမတွေ့ပါက သို့မဟုတ် မည်သည့်အပေါက်မှ သင့်မျှော်မှန်းချက်များနှင့် လိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီမည်ကို မသေချာပါက၊ email သို့မဟုတ် ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဖုန်းဆက်ပါ သို့မှသာ သင့်အတွက် မည်သည့်ထုတ်ကုန်သည် သင့်အတွက် အသင့်တော်ဆုံးဖြစ်ကြောင်း ဆုံးဖြတ်နိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့ကို ဆက်သွယ်သောအခါ၊ ကျေးဇူးပြု၍ ကျေးဇူးပြု၍ သင်သိပါက သင့်လျှောက်လွှာ၊ အတိုင်းအတာ၊ ပစ္စည်းအဆင့်၊_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad_9b5-3194-bb3b-136bad_9b5-988 136bad5cf58d_finishing လိုအပ်ချက်များ၊ ထုပ်ပိုးခြင်းနှင့် တံဆိပ်ကပ်ခြင်း လိုအပ်ချက်များနှင့် သင်၏စီစဉ်ထားသော မှာယူမှု၏ သင်တန်းအရေအတွက်။ Bi-metal Hole Saws များ၊ Diamond Brazed Hole တွေ့တယ်။ Carbide Grit Hole Saws များ၊ HSS Hole Saws များ၊ သစ်သားထည်စော်များ စိန်တွင်း စောများ TCT Hole Saws HSS JetBroach Cutters TCT JetBroach Cutters ကာဗွန်သံမဏိအပေါက် Saws များ ချိန်ညှိနိုင်သော အပေါက်ဖြတ်စက် Diamond Core Drill Bits TCT Core Drill Bits များ ကြွေပြားနှင့် ဖန်ခွက်များ ကျွန်ုပ်တို့၏နည်းပညာဆိုင်ရာစွမ်းရည်များ and ကိုးကားလမ်းညွှန်ကိုဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ in ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ၊ သွားဘက်ဆိုင်ရာ၊ တိကျသောကိရိယာတန်ဆာပလာများ၊ သတ္တုထုထည်ပြုလုပ်ခြင်း၊ သေဆုံးဖွဲ့စည်းခြင်း နှင့် အခြားစက်မှုလုပ်ငန်းဆိုင်ရာအသုံးချမှုများတွင် အသုံးပြုသည့် အထူးသီးသန့်ဖြတ်တောက်ခြင်း၊ တူးဖော်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်းအတွက်၊ CLICK Product Finder-Locator Service ဖြတ်တောက်ခြင်း၊ တူးဖော်ခြင်း၊ ကြိတ်ခြင်း၊ ပွတ်ခြင်း၊ ပွတ်ခြင်း၊ တုံးခြင်းနှင့် ပုံသွင်းခြင်း ကိရိယာများ Menu သို့သွားရန် ဤနေရာကိုနှိပ်ပါ Ref. ကုဒ်- OICASOSTAR

  • Test Equipment for Cookware Testing

    Test Equipment for Cookware Testing, Cookware Tester, Cutlery Corrosion Resistance Tester, Strength Test Apparatus for Knives, Forks, Spatulas, Bending Strength Tester for Cookware Handles အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်သူများ အီလက်ထရွန်းနစ်စမ်းသပ်စက် ဟူသော အသုံးအနှုန်းဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ခြင်း၊ စစ်ဆေးခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအတွက် အဓိကအသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာများကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် လူကြိုက်အများဆုံးများကို ကမ်းလှမ်းသည်- ပါဝါထောက်ပံ့မှုများနှင့် အမှတ်အသားပေးစက်များ- ပါဝါထောက်ပံ့မှု၊ သင်္ကေတထုတ်ပေးသည့်စက်၊ ကြိမ်နှုန်းစံညှိကိရိယာ၊ လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ၊ PULSE GENERATOR၊ သင်္ကေတအင်ဂျယ်တာ မီတာများ- ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၊ LCR မီတာ၊ EMF မီတာ၊ စွမ်းရည်မြှင့်မီတာ၊ တံတားကိရိယာ၊ ကလစ်မီတာ၊ GAUSSMETER/TESLAMETER/ MAGNETOMETER၊ မြေပြင်ခုခံမှုမီတာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ- OSCILLOSCOPES၊ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ အလင်းတန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၊ Vector Signal Analyzer၊ TIME-DOMAIN ရောင်ပြန်ဟပ်စက်၊ SEMICONDUCTOR မျဉ်းကြောင်းခြေရာခံ၊ ကွန်ရက်ချိတ်ဆက်မှု ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာစက်၊ PHASETER အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com လုပ်ငန်းခွင်တစ်လျှောက် နေ့စဉ်အသုံးပြုနေသည့် ဤစက်ပစ္စည်းအချို့ကို အတိုချုပ်ပြောကြပါစို့။ တိုင်းတာမှုဆိုင်ရာရည်ရွယ်ချက်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့ပေးဆောင်သော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့မှုသည် သီးခြား၊ ခုံတန်းလျားနှင့် သီးခြားစက်ပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ချိန်ညှိနိုင်သော စည်းမျဉ်းသတ်မှတ်ထားသော လျှပ်စစ်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ၎င်းတို့၏ အထွက်တန်ဖိုးများကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းသည် အဝင်ဗို့အား သို့မဟုတ် ဝန်လျှပ်စီးကြောင်းတွင် ကွဲပြားမှုများရှိနေသော်လည်း ၎င်းတို့၏ အထွက်ဗို့အား (သို့) လျှပ်စီးကြောင်းအား ထိန်းထားနိုင်သောကြောင့် ရေပန်းအစားဆုံးအချို့ဖြစ်သည်။ သီးခြားပါဝါထောက်ပံ့မှုများတွင် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသွင်းအားစုများမှ လျှပ်စစ်ဖြင့် သီးခြားကင်းသော ပါဝါအထွက်များရှိသည်။ ၎င်းတို့၏ ပါဝါကူးပြောင်းမှုနည်းလမ်းပေါ်မူတည်၍ LINEAR နှင့် SWITCHING POWER SUPPLIES များရှိပါသည်။ linear power supply များသည် input power ကို linear regions တွင် အလုပ်လုပ်သော ၎င်းတို့၏ active power converting components များအားလုံးနှင့် တိုက်ရိုက် process လုပ်သည်၊၊ switching power supply တွင် components များသည် non-linear modes (transistor ကဲ့သို့သော transistor များကဲ့သို့) နှင့် power convert မလုပ်မီ AC သို့မဟုတ် DC pulses သို့ ပါဝါမပြောင်းပါ။ လုပ်ဆောင်နေသည်။ ပါဝါပြောင်းခြင်းများသည် ပုံမှန်အားဖြင့် linear ထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများထက် ပိုမိုထိရောက်မှုရှိပြီး ၎င်းတို့၏ အစိတ်အပိုင်းများသည် linear လည်ပတ်မှုဒေသများတွင် အသုံးပြုသည့်အချိန်တိုတောင်းသောကြောင့် ပါဝါလျော့နည်းသွားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ လျှောက်လွှာပေါ်မူတည်၍ DC သို့မဟုတ် AC ပါဝါကို အသုံးပြုသည်။ အခြားရေပန်းစားသော စက်ပစ္စည်းများမှာ RS232 သို့မဟုတ် GPIB ကဲ့သို့သော analog input သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်အင်တာဖေ့စ်မှတဆင့် ဗို့အား၊ လက်ရှိ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းကို အဝေးမှထိန်းချုပ်နိုင်သည့် ပရိုဂရမ်မာဘလက်ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့အများစုတွင် လုပ်ငန်းဆောင်ရွက်မှုများကို စောင့်ကြည့်ထိန်းချုပ်ရန် အဓိကကျသော မိုက်ခရိုကွန်ပြူတာတစ်ခုရှိသည်။ ထိုသို့သောတူရိယာများသည် အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းရည်ရွယ်ချက်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ အချို့သော အီလက်ထရွန်နစ် ပါဝါထောက်ပံ့ရေးပစ္စည်းများသည် ဝန်ပိုနေချိန်တွင် ဓာတ်အားဖြတ်တောက်မည့်အစား လက်ရှိကန့်သတ်ချက်ကို အသုံးပြုသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ် ကန့်သတ်ခြင်းကို ဓာတ်ခွဲခန်း ခုံတန်းလျား အမျိုးအစားတူရိယာများတွင် အသုံးများသည်။ SIGNAL GENERATORS များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းနှင့် စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် အသုံးများသော တူရိယာများဖြစ်ပြီး ထပ်ခါတလဲလဲ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ မဟုတ်သော analog သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ တနည်းအားဖြင့် ၎င်းတို့ကို လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်း ဂျင်နရေတာများဟုလည်း ခေါ်သည်။ Function ဂျင်နရေတာများသည် sine waves၊ step pulses၊ square & triangular နှင့် arbitrary waveforms ကဲ့သို့သော ရိုးရှင်းသော ထပ်တလဲလဲလှိုင်းပုံစံများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ Arbitrary waveform generators ဖြင့် အသုံးပြုသူသည် ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေး၊ တိကျမှုနှင့် အထွက်အဆင့် ကန့်သတ်ချက်များအတွင်း မတရားသော လှိုင်းပုံစံများကို ဖန်တီးနိုင်သည်။ ရိုးရှင်းသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုအတွက် ကန့်သတ်ထားသည့် လုပ်ဆောင်ချက် ဂျင်နရေတာများနှင့် မတူဘဲ၊ မတရားသော လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန် ဂျင်နရေတာသည် သုံးစွဲသူအား နည်းလမ်းအမျိုးမျိုးဖြင့် အရင်းအမြစ်လှိုင်းပုံစံကို သတ်မှတ်ရန် ခွင့်ပြုသည်။ RF နှင့် MICROWAVE SIGNAL GENERATORများကို ဆယ်လူလာဆက်သွယ်ရေး၊ WiFi၊ GPS၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဂြိုလ်တုဆက်သွယ်ရေးနှင့် ရေဒါများကဲ့သို့သော အက်ပ်များတွင် အစိတ်အပိုင်းများ၊ လက်ခံကိရိယာများနှင့် စနစ်များကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။ RF အချက်ပြမီးစက်များသည် ယေဘူယျအားဖြင့် အနည်းငယ် kHz မှ 6 GHz ကြားတွင် အလုပ်လုပ်ကြပြီး၊ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ် အချက်ပြမီးစက်များသည် 1 MHz ထက်နည်းသော အနည်းဆုံး 20 GHz နှင့် အထူးဟာ့ဒ်ဝဲကို အသုံးပြုထားသော ရာနှင့်ချီသော GHz အကွာအဝေးအထိ ပိုမိုကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းအတွင်း လုပ်ဆောင်နေပါသည်။ RF နှင့် microwave signal generator များကို analog သို့မဟုတ် vector signal generator များအဖြစ် ထပ်မံခွဲခြားနိုင်ပါသည်။ AUDIO-FREQUENCY SIGNAL GENERATORS များသည် အသံ-ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးနှင့် အထက်တွင် အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးပါသည်။ ၎င်းတို့တွင် အသံပစ္စည်းကိရိယာများ၏ ကြိမ်နှုန်းတုံ့ပြန်မှုကို စစ်ဆေးသည့် အီလက်ထရွန်းနစ်ဓာတ်ခွဲခန်းအက်ပ်များရှိသည်။ Vector SIGNAL GENERATORများ၊ တစ်ခါတစ်ရံ DIGITAL SIGNAL GENERATOR များဟုလည်း ရည်ညွှန်းပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ဖြင့် ပြုပြင်ထားသော ရေဒီယိုအချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်စွမ်းရှိသည်။ Vector signal generator များသည် GSM၊ W-CDMA (UMTS) နှင့် Wi-Fi (IEEE 802.11) ကဲ့သို့သော လုပ်ငန်းစံနှုန်းများအပေါ် အခြေခံ၍ အချက်ပြမှုများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည်။ LOGIC SIGNAL GENERATORများကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ပုံစံ ဂျင်နရေတာ ဟုခေါ်သည်။ ဤဂျင်နရေတာများသည် သမားရိုးကျဗို့အားအဆင့်ပုံစံဖြင့် logic 1s နှင့် 0s ဖြစ်သည့် logic signals အမျိုးအစားများကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ လော့ဂျစ်အချက်ပြမီးစက်များကို ဒစ်ဂျစ်တယ် ပေါင်းစပ်ဆားကစ်များနှင့် မြှုပ်သွင်းထားသော စနစ်များ၏ လုပ်ဆောင်မှုဆိုင်ရာ တရားဝင်အတည်ပြုခြင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် လှုံ့ဆော်မှုအရင်းအမြစ်များအဖြစ် အသုံးပြုပါသည်။ အထက်ဖော်ပြပါ စက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအသုံးပြုရန်အတွက်ဖြစ်သည်။ သို့သော် စိတ်ကြိုက် သီးခြားအက်ပ်လီကေးရှင်းများအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော အခြားသော signal generator များစွာရှိပါသည်။ SIGNAL INJECTOR သည် ဆားကစ်တစ်ခုအတွင်း အချက်ပြခြေရာခံခြင်းအတွက် အလွန်အသုံးဝင်ပြီး အမြန်ပြဿနာဖြေရှင်းရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ နည်းပညာရှင်များသည် ရေဒီယိုလက်ခံကိရိယာကဲ့သို့သော စက်ပစ္စည်းတစ်ခု၏ အမှားအယွင်းအဆင့်ကို လျှင်မြန်စွာ ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ signal injector ကို speaker output သို့ အသုံးချနိုင်ပြီး signal သည် ကြားနိုင်လျှင် circuit ၏ ရှေ့အဆင့်သို့ ရွှေ့နိုင်သည်။ ဤအခြေအနေတွင် အသံချဲ့စက်တစ်ခုနှင့် ထိုးသွင်းထားသော အချက်ပြသံကို ထပ်မံကြားရပါက အချက်ပြမှုအား ပတ်လမ်းကြောင်း၏ အဆင့်များအထိ ရွှေ့နိုင်သည်။ ၎င်းသည် ပြဿနာ၏တည်နေရာကို ရှာဖွေခြင်း၏ ရည်ရွယ်ချက်ကို ဆောင်ရွက်ပေးမည်ဖြစ်သည်။ MULTIMETER သည် ယူနစ်တစ်ခုတွင် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပေါင်းစပ်ထားသော အီလက်ထရွန်နစ် တိုင်းတာရေးကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ယေဘုယျအားဖြင့် multimeters များသည် ဗို့အား၊ လျှပ်စီးကြောင်းနှင့် ခုခံမှုကို တိုင်းတာသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်နှင့် analog ဗားရှင်းနှစ်မျိုးစလုံးကို ရရှိနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော လက်ကိုင်မာလ်တီမီတာယူနစ်များအပြင် ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် မော်ဒယ်များကို အသိအမှတ်ပြု စံကိုက်ညှိပေးပါသည်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် ဗို့အား (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ ဗို့များ၊ လက်ရှိ (AC/DC နှစ်ခုလုံး)၊ amperes ၊ ခံနိုင်ရည်ရှိသော ohms ကဲ့သို့သော အတိုင်းအတာများစွာကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ ထို့အပြင်၊ အချို့သော multimeters များသည် အတိုင်းအတာ- farads တွင် စွမ်းဆောင်ရည်၊ siemens တွင် conductance၊ Decibels၊ ရာခိုင်နှုန်းအဖြစ် Duty cycle၊ hertz ရှိ ကြိမ်နှုန်း၊ henries တွင် Inductance၊ အပူချိန် ဒီဂရီစင်တီဂရိတ် သို့မဟုတ် ဖာရင်ဟိုက်တွင် အပူချိန် စမ်းသပ်ကိရိယာကို အသုံးပြုထားသည်။ အချို့သော multimeter များလည်း ပါဝင်သည်- Continuity tester; ဆားကစ်တစ်ခုလုပ်ဆောင်သည့်အခါ အသံများ၊ Diodes (ရှေ့သို့ diode လမ်းဆုံများကို တိုင်းတာခြင်း)၊ ထရန်စစ္စတာများ (လက်ရှိရရှိမှုကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် အခြားကန့်သတ်ချက်များ)၊ ဘက်ထရီစစ်ဆေးခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အလင်းအဆင့်တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်၊ အချဉ်ဓာတ်နှင့် အယ်လ်ကာလီနစ် (pH) တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်နှင့် နှိုင်းရစိုထိုင်းဆ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်။ ခေတ်မီမာလ်တီမီတာများသည် များသောအားဖြင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ဒစ်ဂျစ်တယ် မာလ်တီမီတာများသည် မက်ထရိုဗေဒနှင့် စမ်းသပ်မှုတွင် အလွန်အစွမ်းထက်သော ကိရိယာများ ဖန်တီးရန် မြှပ်နှံထားသော ကွန်ပျူတာများ ရှိတတ်သည်။ ၎င်းတို့တွင် အောက်ပါကဲ့သို့သော အင်္ဂါရပ်များ ပါဝင်သည်။ • စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏအတွက် မှန်ကန်သောအကွာအဝေးကို ရွေးချယ်ပေးသော အလိုအလျောက်ချိန်ညှိခြင်း ၊ သို့မှသာ အထူးခြားဆုံးသော ဂဏန်းများကို ပြသနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ • တိုက်ရိုက်-လက်ရှိဖတ်ရှုခြင်းအတွက် အလိုအလျောက်ဝင်ပေါက်၊ အသုံးချဗို့အားသည် အပြုသဘော သို့မဟုတ် အနှုတ်ရှိမရှိကို ပြသသည်။ • စမ်းသပ်ဆဲပတ်လမ်းမှ ကိရိယာကို ဖယ်ရှားပြီးနောက် စစ်ဆေးမှုအတွက် နောက်ဆုံးဖတ်ရှုခြင်းအား နမူနာနှင့် ဖိထားပါမည်။ • ဆီမီးကွန်ဒတ်တာလမ်းဆုံများတစ်လျှောက် ဗို့အားကျဆင်းမှုအတွက် လက်ရှိစမ်းသပ်မှုများ။ ထရန်စစ္စတာစမ်းသပ်သူအတွက် အစားထိုးခြင်းမဟုတ်သော်လည်း၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်မာလ်တီမီတာများ၏ ဤအင်္ဂါရပ်သည် စမ်းသပ်ခြင်း diodes နှင့် transistor ကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည်။ • တိုင်းတာထားသောတန်ဖိုးများတွင် လျင်မြန်သောပြောင်းလဲမှုများကို ပိုမိုကောင်းမွန်စွာမြင်ယောင်နိုင်စေရန် စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပမာဏ၏ ဘားဂရပ်ကို ကိုယ်စားပြုခြင်း။ • Bandwidth နည်းသော oscilloscope။ • မော်တော်ယာဥ်အချိန်ကိုက်ခြင်းနှင့် နေထိုင်အချက်ပြမှုများကို စမ်းသပ်မှုများပါရှိသော မော်တော်ယာဥ်ပတ်လမ်းစမ်းသပ်သူများ။ • သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း အများဆုံးနှင့် အနိမ့်ဆုံးဖတ်ရှုမှုများကို မှတ်တမ်းတင်ရန်နှင့် သတ်မှတ်ထားသော ကြားကာလတွင် နမူနာများစွာကို ရယူရန် ဒေတာရယူခြင်း အင်္ဂါရပ်။ •ပေါင်းစပ် LCR မီတာ။ အချို့သော multimeter များသည် ကွန်ပျူတာများနှင့် ဆက်သွယ်နိုင်ပြီး အချို့က တိုင်းတာမှုများကို သိမ်းဆည်းနိုင်ပြီး ၎င်းတို့ကို ကွန်ပျူတာသို့ အပ်လုဒ်လုပ်နိုင်သည်။ အခြားအလွန်အသုံးဝင်သောကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည့် LCR METER သည် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ inductance (L)၊ capacitance (C) နှင့် ခံနိုင်ရည် (R) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် မက်ထရိုဗေဒကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ impedance ကို အတွင်းပိုင်း တိုင်းတာပြီး သက်ဆိုင်ရာ capacitance သို့မဟုတ် inductance တန်ဖိုးသို့ ပြသရန်အတွက် ပြောင်းလဲသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ capacitor သို့မဟုတ် inductor တွင် impedance ၏ သိသာထင်ရှားသော ခံနိုင်ရည်ရှိသော အစိတ်အပိုင်း မရှိပါက စာဖတ်ခြင်းသည် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ တိကျပါလိမ့်မည်။ အဆင့်မြင့် LCR မီတာများသည် စစ်မှန်သော inductance နှင့် capacitance တို့ကို တိုင်းတာသည့်အပြင် capacitors များ၏ စီးရီးခုခံမှုနှင့် inductive အစိတ်အပိုင်းများ၏ Q အချက်ကိုလည်း တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ဆဲ ကိရိယာသည် AC ဗို့အား ရင်းမြစ်တစ်ခုတွင် တပ်ဆင်ထားပြီး မီတာသည် စမ်းသပ်ထားသော ကိရိယာမှတဆင့် လက်ရှိ ဗို့အားကို တိုင်းတာသည်။ မီတာသည် ဗို့အားအချိုးမှ လက်ရှိ impedance ကိုဆုံးဖြတ်နိုင်သည်။ ဗို့အားနှင့်လျှပ်စီးကြောင်းကြားရှိ အဆင့်ထောင့်ကိုလည်း အချို့သောကိရိယာများတွင် တိုင်းတာသည်။ စမ်းသပ်ထားသော စက်၏ impedance နှင့် ညီမျှသော capacitance သို့မဟုတ် inductance နှင့် resistance ကို တွက်ချက်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ LCR မီတာများတွင် ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်ကြိမ်နှုန်းများ 100 Hz၊ 120 Hz၊ 1 kHz၊ 10 kHz နှင့် 100 kHz ။ Benchtop LCR မီတာများတွင် ပုံမှန်အားဖြင့် 100 kHz ထက်ပို၍ ရွေးချယ်နိုင်သော စမ်းသပ်နိုင်သော ကြိမ်နှုန်းများရှိသည်။ ၎င်းတို့တွင် AC တိုင်းတာခြင်းအချက်ပြမှုတွင် DC ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းကို ခြုံငုံမိစေရန် ဖြစ်နိုင်ခြေများ မကြာခဏ ပါဝင်သည်။ အချို့မီတာများသည် အဆိုပါ DC ဗို့အားများ သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်းများကို ပြင်ပမှ ပံ့ပိုးပေးနိုင်သော်လည်း အခြားစက်ပစ္စည်းများက ၎င်းတို့အား အတွင်းပိုင်းမှ ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ EMF METER သည် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (EMF) ကို တိုင်းတာရန်အတွက် စမ်းသပ်မှုနှင့် တိုင်းတာမှုကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့ထဲမှ အများစုသည် လျှပ်စစ်သံလိုက်လှိုင်းများ သိပ်သည်းဆ (DC အကွက်များ) သို့မဟုတ် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများ (AC အကွက်များ) ပြောင်းလဲမှုတို့ကို တိုင်းတာသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းနှင့် သုံးဝင်ရိုးတူရိယာဗားရှင်းများ ရှိပါသည်။ ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်းမီတာသည် tri-ဝင်ရိုးမီတာထက် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသော်လည်း မီတာသည် အကွက်၏အတိုင်းအတာတစ်ခုသာတိုင်းတာသောကြောင့် စမ်းသပ်မှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန် ပိုကြာပါသည်။ တိုင်းတာမှုတစ်ခုပြီးမြောက်ရန်အတွက် ဝင်ရိုးတစ်ခုတည်း EMF မီတာကို စောင်းပြီး axis သုံးခုလုံးကို ဖွင့်ရပါမည်။ တစ်ဖက်တွင်၊ ဝင်ရိုးသုံးမီတာသည် ဝင်ရိုးသုံးခုလုံးကို တစ်ပြိုင်နက်တိုင်းတာသော်လည်း ပို၍စျေးကြီးသည်။ EMF မီတာသည် လျှပ်စစ်ဝါယာကြိုးများကဲ့သို့သော ရင်းမြစ်များမှ ထွက်လာသည့် AC လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းများကို တိုင်းတာနိုင်ပြီး GAUSSMETERS/TESLAMETERS သို့မဟုတ် MAGNETOMETERS သည် တိုက်ရိုက်လျှပ်စီးကြောင်းရှိသည့် အရင်းအမြစ်များမှ ထုတ်လွှတ်သော DC အကွက်များကို တိုင်းတာသည်။ EMF မီတာအများစုကို US နှင့် Europe ပင်မလျှပ်စစ်ဓာတ်အား၏ကြိမ်နှုန်းနှင့်သက်ဆိုင်သော 50 နှင့် 60 Hz အလှည့်ကျအကွက်များကိုတိုင်းတာရန် ချိန်ညှိထားသည်။ အနိမ့်ဆုံး 20 Hz အထိ လှည့်ကွက်များကို တိုင်းတာနိုင်သော အခြားမီတာများလည်း ရှိပါသည်။ EMF တိုင်းတာမှုများသည် ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများ သို့မဟုတ် ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု စောင့်ကြည့်ခြင်း၏ ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးမှသာလျှင် broadband ဖြစ်နိုင်သည်။ CAPACITANCE METER သည် discrete capacitors အများစု၏ capacitance ကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ အချို့မီတာများသည် capacitance ကိုသာပြသကြပြီး အချို့မီတာများသည် ယိုစိမ့်မှု၊ ညီမျှသောစီးရီးခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကိုပြသသည်။ အဆင့်မြင့်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် တံတားပတ်လမ်းထဲသို့ ကာပတ်စီတာအောက်-စမ်းသပ်မှုထည့်သွင်းခြင်းကဲ့သို့သော နည်းစနစ်များကို အသုံးပြုသည်။ တံတားကို ဟန်ချက်ညီစေရန်အတွက် တံတားရှိ အခြားခြေထောက်များ၏ တန်ဖိုးများကို ကွဲပြားစေခြင်းဖြင့် အမည်မသိ capacitor ၏ တန်ဖိုးကို သတ်မှတ်ပေးပါသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် ပိုမိုတိကျသေချာစေသည်။ တံတားသည် ဆက်တိုက်ခံနိုင်ရည်နှင့် inductance ကို တိုင်းတာနိုင်သည်။ picofarads မှ farads အထိအကွာအဝေးတစ်ခုကျော် Capacitors များကိုတိုင်းတာနိုင်သည်။ Bridge circuit များသည် leakage current ကို မတိုင်းတာသော်လည်း DC ဘက်လိုက်ဗို့အားကို အသုံးချနိုင်ပြီး ယိုစိမ့်မှုကို တိုက်ရိုက်တိုင်းတာနိုင်သည်။ BRIDGE တူရိယာအများအပြားကို ကွန်ပျူတာများနှင့် ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ဖတ်ရှုမှုများကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ရန် သို့မဟုတ် တံတားကို ပြင်ပတွင် ထိန်းချုပ်ရန် ဒေတာဖလှယ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ ထိုသို့သောတံတားတူရိယာများသည် လျင်မြန်သောထုတ်လုပ်မှုနှင့် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်တွင် စမ်းသပ်မှုများကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် သွား/သွားစမ်းသပ်ခြင်းများကို ပေးပါသည်။ သို့တိုင်၊ အခြားစမ်းသပ်ကိရိယာ၊ CLAMP METER သည် ကလစ်အမျိုးအစား လက်ရှိမီတာနှင့် voltmeter တို့ကို ပေါင်းစပ်ထားသော လျှပ်စစ်စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Clamp Meter ၏ ခေတ်မီဗားရှင်းအများစုသည် ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်သည်။ ခေတ်မီ ကုပ်မီတာများသည် Digital Multimeter ၏ အခြေခံလုပ်ဆောင်ချက် အများစုတွင် ပါ၀င်သော်လည်း ထုတ်ကုန်တွင် တည်ဆောက်ထားသော လက်ရှိ transformer ၏ ထပ်လောင်းအင်္ဂါရပ်ဖြင့် ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ac လျှပ်စီးကြောင်းကို သယ်ဆောင်သည့် စပယ်ယာတစ်ဝိုက်တွင် တူရိယာ၏ “မေးရိုး” ကို ကုပ်လိုက်သောအခါ၊ ထိုလျှပ်စီးကြောင်းကို ပါဝါထရန်စဖော်မာ၏ သံအူတိုင်နှင့် ဆင်တူသော မေးရိုးများမှတဆင့် ချိတ်ဆက်ကာ မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုအစွန်းတစ်ဖက်တွင် ချိတ်ဆက်ထားသည့် ဒုတိယအကွေ့အကောက်တစ်ခုအဖြစ်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ Transformer နှင့် များစွာတူသော လည်ပတ်မှုနိယာမ။ အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များ အရေအတွက်နှင့် အူတိုင်ပတ်ပတ်လည်တွင် ပတ်ထားသော ပင်မအကွေ့အကောက်အရေအတွက်နှင့် အချိုးအစားကြောင့် ပိုမိုသေးငယ်သော လျှပ်စီးကြောင်းကို မီတာ၏ထည့်သွင်းမှုသို့ ပေးပို့သည်။ ပင်မအား မေးရိုးကို ကုပ်ထားသော စပယ်ယာတစ်ခုဖြင့် ကိုယ်စားပြုသည်။ အလယ်တန်းတွင် အကွေ့အကောက်များ 1000 ပါပါက၊ အလယ်တန်းလျှပ်စီးကြောင်းသည် ပင်မတွင်စီးဆင်းနေသော လျှပ်စီးကြောင်း 1/1000 သို့မဟုတ် ဤအခြေအနေတွင် စပယ်ယာကို တိုင်းတာသည်။ ထို့ကြောင့် တိုင်းတာနေသော conductor မှ 1 amps သည် meter ၏ input တွင် 0.001 amps လျှပ်စီးကြောင်းကို ထုတ်ပေးမည်ဖြစ်ပါသည်။ ကုပ်မီတာများဖြင့် အလယ်တန်းအကွေ့အကောက်များတွင် အလှည့်အပြောင်းအရေအတွက်ကို တိုးမြှင့်ခြင်းဖြင့် ပိုမိုကြီးမားသော ရေစီးကြောင်းများကို အလွယ်တကူ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏စမ်းသပ်ကိရိယာအများစုကဲ့သို့ပင်၊ အဆင့်မြင့်ကုပ်မီတာများသည် သစ်ခုတ်ခြင်းစွမ်းရည်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။ မြေကြီးလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် မြေဆီလွှာခံနိုင်ရည်အား စမ်းသပ်ရန်အတွက် မြေပြင်ခုခံမှုစမ်းသပ်ကိရိယာများကို အသုံးပြုသည်။ တူရိယာလိုအပ်ချက်များသည် အသုံးချမှုအကွာအဝေးပေါ် မူတည်သည်။ ခေတ်မီမြေပြင်စမ်းသပ်ကိရိယာများသည် မြေပြင်ကွင်းပတ်စစ်ဆေးခြင်းကို ရိုးရှင်းစေပြီး ယိုစိမ့်ခြင်းမရှိသော လက်ရှိတိုင်းတာမှုများကို လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့ရောင်းချသည့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများထဲတွင် OSCILLOSCOPES သည် အသုံးများဆုံးကိရိယာများထဲမှတစ်ခုဖြစ်သည်ကို သံသယမရှိပါ ။ OSCILLOGRAPH ဟုလည်း ခေါ်သော Oscilloscope သည် အချိန်၏ လုပ်ဆောင်မှုအဖြစ် တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော အချက်ပြမှုများ၏ နှစ်ဘက်မြင် ကွက်ကွက်တစ်ခုအဖြစ် အဆက်မပြတ် ပြောင်းလဲနေသော အချက်ပြဗို့အားများကို စောင့်ကြည့်ခွင့်ပြုသည့် အီလက်ထရွန်းနစ် စမ်းသပ်ကိရိယာ အမျိုးအစားဖြစ်သည်။ အသံနှင့် တုန်ခါမှုကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်မဟုတ်သော အချက်ပြမှုများကို ဗို့အားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်ပြီး oscilloscopes တွင် ပြသနိုင်သည်။ Oscilloscopes များသည် အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ လျှပ်စစ်အချက်ပြပြောင်းလဲမှုကို စောင့်ကြည့်ရန်၊ ဗို့အားနှင့် အချိန်တို့သည် ချိန်ကိုက်သည့်စကေးနှင့် ဆက်တိုက်ဂရပ်ဖစ်သည့် ပုံသဏ္ဍာန်တစ်ခုကို ဖော်ပြသည်။ လှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်ကို စူးစမ်းလေ့လာခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် ကျယ်ဝန်းမှု၊ ကြိမ်နှုန်း၊ အချိန်ကြားကာလ၊ မြင့်တက်ချိန်နှင့် ပုံပျက်ခြင်းကဲ့သို့သော ဂုဏ်သတ္တိများကို ကျွန်ုပ်တို့အား ဖော်ပြသည်။ Oscilloscopes များကို ချိန်ညှိနိုင်ပြီး ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို ဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် စဉ်ဆက်မပြတ် ပုံသဏ္ဍာန်အဖြစ် မှတ်သားနိုင်သည်။ oscilloscope အများအပြားတွင် တစ်ခုတည်းသောဖြစ်ရပ်များကို တူရိယာမှဖမ်းယူနိုင်ပြီး အချိန်အတော်ကြာအောင်ပြသနိုင်စေသည့် သိုလှောင်မှုလုပ်ဆောင်ချက်ပါရှိသည်။ ယင်းက ကျွန်ုပ်တို့ကို တိုက်ရိုက်မြင်နိုင်လောက်အောင် မြန်ဆန်လွန်းသော အဖြစ်အပျက်များကို ကြည့်ရှုနိုင်စေပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များသည် ပေါ့ပါးပြီး ကျစ်လစ်ပြီး သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော တူရိယာများဖြစ်သည်။ လယ်ကွင်းဝန်ဆောင်မှုအပလီကေးရှင်းများအတွက် သေးငယ်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး တူရိယာများလည်း ရှိပါသည်။ ဓာတ်ခွဲခန်းအဆင့် oscilloscopes များသည် ယေဘုယျအားဖြင့် ခုံတန်းလျားပေါ်ရှိ ကိရိယာများဖြစ်သည်။ oscilloscopes နှင့်အသုံးပြုရန်အတွက် ကျယ်ပြန့်သော probes နှင့် input cable များရှိပါသည်။ သင့်အပလီကေးရှင်းတွင် မည်သည့်အရာကိုအသုံးပြုရမည်နှင့်ပတ်သက်၍ အကြံဉာဏ်များလိုအပ်ပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုနှစ်ခုပါရှိသော Oscilloscope ကို dual-trace oscilloscopes ဟုခေါ်သည်။ single-beam CRT ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းတို့သည် သွင်းအားများကို ချဲ့ထွင်ကာ လမ်းကြောင်းနှစ်ခုကို တစ်ပြိုင်နက် ပြသရန် လုံလောက်သော မြန်ဆန်စွာ ကူးပြောင်းလေ့ရှိသည်။ နောက်ထပ်ခြေရာများပါရှိသော oscilloscopes များလည်းရှိပါသည်။ သွင်းအားစု လေးခုသည် ဤအရာများကြားတွင် အဖြစ်များသည်။ အချို့သော ခြေရာကောက် အများအပြားရှိသော oscilloscopes များသည် ပြင်ပအစပျိုးထည့်သွင်းမှုကို စိတ်ကြိုက်ရွေးချယ်နိုင်သော ဒေါင်လိုက်ထည့်သွင်းမှုအဖြစ် အသုံးပြုကြပြီး အချို့တွင် ထိန်းချုပ်မှုအနည်းငယ်သာရှိသော တတိယနှင့် စတုတ္ထချန်နယ်များရှိသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes များတွင် ဗို့အားများအတွက် input အများအပြားပါရှိသောကြောင့် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မတူညီသောဗို့အားနှင့် အခြားတစ်ခုအား ပုံဆွဲရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။ diodes ကဲ့သို့သော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် IV မျဉ်းကွေးများ (လက်ရှိ နှင့် ဗို့အား လက္ခဏာများ) ကို ပုံဖော်ရန်အတွက် ဥပမာအားဖြင့် ၎င်းကို အသုံးပြုသည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများနှင့် မြန်ဆန်သော ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြမှုများဖြင့် ဒေါင်လိုက်အသံချဲ့စက်များ၏ bandwidth နှင့် sampling rate သည် လုံလောက်စွာမြင့်မားရပါမည်။ ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက်အတွက် အနည်းဆုံး 100 MHz bandwidth ကိုအသုံးပြုခြင်းသည် များသောအားဖြင့် လုံလောက်ပါသည်။ များစွာနိမ့်သော bandwidth သည် audio-frequency application များအတွက်သာလုံလောက်သည်။ ဖယ်ရှားခြင်း၏ အသုံးဝင်သောအကွာအဝေးသည် သင့်လျော်သော အစပျိုးခြင်းနှင့် နှောင့်နှေးမှုတို့ဖြင့် တစ်စက္ကန့်မှ 100 နာနိုစက္ကန့်အထိဖြစ်သည်။ တည်ငြိမ်သော ဖန်သားပြင်အတွက် ကောင်းမွန်စွာ ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော၊ တည်ငြိမ်သော၊ အစပျိုးဆားကစ်တစ်ခု လိုအပ်ပါသည်။ ကောင်းသော oscilloscopes များအတွက် trigger circuit ၏ အရည်အသွေးသည် အဓိကဖြစ်သည်။ နောက်ထပ်အဓိကသော့ရွေးချယ်မှုစံနှုန်းမှာ နမူနာမှတ်ဉာဏ်အတိမ်အနက်နှင့် နမူနာနှုန်းဖြစ်သည်။ အခြေခံအဆင့် ခေတ်မီ DSO များသည် ချန်နယ်တစ်ခုလျှင် နမူနာမှတ်ဉာဏ် 1MB သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပို၍ ရှိသည်။ မကြာခဏဆိုသလို ဤနမူနာမှတ်ဉာဏ်ကို ချန်နယ်များကြားတွင် မျှဝေလေ့ရှိပြီး တစ်ခါတစ်ရံတွင် နမူနာနှုန်းနည်းပါးသော နှုန်းထားများဖြင့်သာ အပြည့်အဝရရှိနိုင်သည်။ အမြင့်ဆုံးနမူနာနှုန်းထားတွင် မမ်မိုရီကို 10 KB အနည်းငယ်သာ ကန့်သတ်ထားနိုင်သည်။ ခေတ်မီ ''အချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ'' နမူနာနှုန်း DSO သည် ပုံမှန်အားဖြင့် နမူနာနှုန်းတွင် ထည့်သွင်းမှုနှုန်း၏ 5-10 ဆ ရှိသည်။ ထို့ကြောင့် 100 MHz bandwidth DSO သည် 500 Ms/s - 1 Gs/s နမူနာနှုန်း ရှိမည်ဖြစ်သည်။ အလွန်များပြားသောနမူနာနှုန်းထားများသည် တစ်ခါတစ်ရံ ဒစ်ဂျစ်တယ်နယ်ပယ်များ၏ ပထမမျိုးဆက်တွင် တစ်ခါတစ်ရံတွင်ပါရှိသော မှားယွင်းသောအချက်ပြမှုများကို သိသိသာသာ ဖယ်ရှားပစ်လိုက်ပါသည်။ ခေတ်မီ oscilloscopes အများစုသည် ပြင်ပဆော့ဖ်ဝဲလ်မှ အဝေးထိန်းကိရိယာထိန်းချုပ်မှုကို ခွင့်ပြုရန် GPIB၊ Ethernet၊ အမှတ်စဉ်အပေါက်နှင့် USB ကဲ့သို့သော ပြင်ပအင်တာဖေ့စ်တစ်ခု သို့မဟုတ် တစ်ခုထက်ပိုသော ဘတ်စ်ကားများ သို့မဟုတ် ဘတ်စ်ကားများကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ ဤသည်မှာ မတူညီသော oscilloscope အမျိုးအစားများစာရင်းဖြစ်သည်။ CATHODE RAY OSCILLOSCOPE DUAL-BEAM OSCILLOSCOPE ANALOG STORAGE OSCILLOSCOPE ဒစ်ဂျစ်တယ် OSCILLOSCOPES ရောနှော-သင်္ကေတ OSCILLOSCOPES လက်ကိုင် OSCILLOSCOPES PC-based OSCILLOSCOPES LOGIC ANALYZER သည် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ် သို့မဟုတ် ဒစ်ဂျစ်တယ်ပတ်လမ်းမှ အချက်ပြများစွာကို ဖမ်းယူပြသပေးသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ဖမ်းယူထားသောဒေတာကို အချိန်ကိုက်ဇယားများ၊ ပရိုတိုကောကုဒ်များ၊ ပြည်နယ်စက်ခြေရာကောက်များ၊ စုစည်းမှုဘာသာစကားအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲနိုင်သည်။ Logic Analyzer များသည် အဆင့်မြင့်သော အစပျိုးနိုင်စွမ်းများ ရှိပြီး ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ရှိ အချက်ပြများစွာကြား အချိန်ကိုက်ဆက်ဆံရေးကို အသုံးပြုသူမှ ကြည့်ရှုရန် လိုအပ်သောအခါတွင် အသုံးဝင်ပါသည်။ MODULAR LOGIC ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်နှင့် ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု မော်ဂျူးများ နှစ်ခုလုံး ပါဝင်သည်။ ကိုယ်ထည် သို့မဟုတ် ပင်မဘောင်တွင် မျက်နှာပြင်၊ ထိန်းချုပ်မှုများ၊ ထိန်းချုပ်သည့် ကွန်ပျူတာနှင့် ဒေတာဖမ်းယူသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲကို တပ်ဆင်ထားသည့် အပေါက်များစွာပါရှိသည်။ မော်ဂျူးတစ်ခုစီတွင် သီးခြားချန်နယ်အရေအတွက်တစ်ခုရှိပြီး အလွန်မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်သည်။ မြင့်မားသောချန်နယ်အရေအတွက်ကိုရရှိရန် မော်ဂျူးများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်မှုနှင့် မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ ယေဘုယျအားဖြင့် ပိုမိုမြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်သည် ၎င်းတို့ကို ပိုမိုစျေးကြီးစေသည်။ အလွန်အဆင့်မြင့်သော မော်ဂျူးလော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများအတွက်၊ အသုံးပြုသူများသည် ၎င်းတို့၏ကိုယ်ပိုင်အိမ်ရှင် PC ပေးဆောင်ရန် သို့မဟုတ် စနစ်နှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော မြှုပ်သွင်းထိန်းချုပ်ကိရိယာကို ဝယ်ယူရန် လိုအပ်နိုင်သည်။ သယ်ယူရလွယ်ကူသော ယုတ္တိဗေဒဆိုင်ရာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စက်ရုံတွင် ထည့်သွင်းထားသော ရွေးချယ်စရာများနှင့်အတူ အရာအားလုံးကို အထုပ်တစ်ခုထဲသို့ ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ၎င်းတို့သည် ယေဘုယျအားဖြင့် မော်ဂျူလာများထက် စွမ်းဆောင်ရည်နိမ့်သော်လည်း ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက် အမှားရှာပြင်ခြင်းအတွက် စျေးသက်သာသော တိုင်းတာရေးကိရိယာများဖြစ်သည်။ PC-based LOGIC ANALYZERS တွင်၊ ဟာ့ဒ်ဝဲသည် USB သို့မဟုတ် Ethernet ချိတ်ဆက်မှုမှတဆင့် ကွန်ပျူတာသို့ ချိတ်ဆက်ပြီး ဖမ်းယူထားသော အချက်ပြမှုများကို ကွန်ပျူတာပေါ်ရှိ ဆော့ဖ်ဝဲသို့ ပြန်လည်ပေးပို့သည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် များစွာသေးငယ်ပြီး စျေးနည်းသောကြောင့် ၎င်းတို့သည် ကိုယ်ပိုင်ကွန်ပျူတာ၏ရှိပြီးသားကီးဘုတ်၊ မျက်နှာပြင်နှင့် CPU ကိုအသုံးပြုသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ယုတ္တိဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသော ဒစ်ဂျစ်တယ်ဖြစ်ရပ်များ၏ အစီအစဥ်ပေါ်တွင် အစပျိုးနိုင်ပြီး စမ်းသပ်ဆဲစနစ်များမှ ဒစ်ဂျစ်တယ်ဒေတာအများအပြားကို ဖမ်းယူနိုင်သည်။ ယနေ့ခေတ် အထူးပြုချိတ်ဆက်ကိရိယာများကို အသုံးပြုနေပါသည်။ လော့ဂျစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်းများ၏ ဆင့်ကဲပြောင်းလဲမှုသည် သုံးစွဲသူအများအပြားကို လွတ်လပ်ခွင့်ပေးသည့် ရောင်းချသူအများအပြားကို ပံ့ပိုးပေးသည့် ဘုံခြေရာကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်- Connectorless နည်းပညာသည် Compression Probing ကဲ့သို့သော ရောင်းချသူအလိုက် ကုန်သွယ်မှုအမည်များအဖြစ် ကမ်းလှမ်းထားသည့် Connectorless နည်းပညာ၊ နူးညံ့သောထိတွေ့မှု; D-Max ကို အသုံးပြုနေပါသည်။ ဤ probe များသည် probe နှင့် circuit board အကြား တာရှည်ခံ၊ ယုံကြည်စိတ်ချရသော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် လျှပ်စစ်ချိတ်ဆက်မှုကို ပေးပါသည်။ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အကွာအတွင်း အဝင်အချက်ပြလှိုင်းနှင့် ကြိမ်နှုန်း၏ပြင်းအားကို တိုင်းတာသည်။ အဓိကအသုံးပြုသည်မှာ အချက်ပြလှိုင်းများ၏ စွမ်းအားကို တိုင်းတာရန်ဖြစ်သည်။ optical နှင့် acoustical spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများလည်းရှိပါသည်၊ သို့သော် ဤနေရာတွင် လျှပ်စစ်ထည့်သွင်းမှုအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာပြီး ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့် အီလက်ထရွန်နစ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာများကိုသာ ဆွေးနွေးပါမည်။ လျှပ်စစ်အချက်ပြမှုများမှရရှိသော spectra သည် ကျွန်ုပ်တို့အား ကြိမ်နှုန်း၊ ပါဝါ၊ ဟာမိုနီများ၊ လှိုင်းနှုန်း… အစရှိသည်တို့နှင့်ပတ်သက်သော အချက်အလက်များကို ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကို အလျားလိုက်ဝင်ရိုးနှင့် ဒေါင်လိုက်ရှိ signal amplitude တွင် ပြသထားသည်။ ရေဒီယိုကြိမ်နှုန်း၊ RF နှင့် အသံအချက်ပြလှိုင်းများ၏ လှိုင်းနှုန်းစဉ်များကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန်အတွက် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြသည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုကြည့်ခြင်းအားဖြင့် signal ၏ element များနှင့်၎င်းတို့ကိုထုတ်လုပ်သည့် circuit ၏စွမ်းဆောင်ရည်ကိုဖော်ပြနိုင်သည်။ Spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အတိုင်းအတာများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည်။ signal တစ်ခု၏ spectrum ကိုရရှိရန်အသုံးပြုသည့်နည်းလမ်းများကိုကြည့်ခြင်းဖြင့် spectrum analyzer အမျိုးအစားများကို အမျိုးအစားခွဲနိုင်သည်။ - SWEPT-TUNED SPECTRUM Analyzer သည် input signal spectrum (ဗို့အားထိန်းချုပ်ထားသော oscillator နှင့် mixer ကိုအသုံးပြု၍) band-pass filter ၏ အလယ်ကြိမ်နှုန်းသို့ input signal spectrum ၏ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုကို down-သို့ပြောင်းရန် superheterodyne receiver ကိုအသုံးပြုသည်။ superheterodyne ဗိသုကာဖြင့်၊ ဗို့အား-ထိန်းချုပ်ထားသော oscillator သည် တူရိယာ၏ ကြိမ်နှုန်းအပြည့်အဝကို အခွင့်ကောင်းယူပြီး ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးများမှတဆင့် ဖြတ်တောက်သည်။ Swept-tuned spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ရေဒီယိုလက်ခံစက်များမှ ဆင်းသက်သည်။ ထို့ကြောင့် ပွတ်သပ်ညှိပေးသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ချိန်ညှိထားသော-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (TRF ရေဒီယိုနှင့် တူညီသော) သို့မဟုတ် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများဖြစ်သည်။ အမှန်တော့၊ ၎င်းတို့၏ အရိုးရှင်းဆုံးပုံစံဖြင့်၊ သင်သည် အလိုအလျောက် ချိန်ညှိထားသော (swept) ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးရှိသော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်မှု ဗို့မီတာတစ်ခုအဖြစ် swept-tuned spectrum analyzer ကို စဉ်းစားနိုင်သည်။ ၎င်းသည် sine wave တစ်ခု၏ rms တန်ဖိုးကိုပြသရန်အတွက် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော ကြိမ်နှုန်းရွေးချယ်ထားသော၊ အထွတ်အထိပ်တုံ့ပြန်သည့် voltmeter ကို ချိန်ညှိပေးသည့် ပမာဏဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ရှုပ်ထွေးသောအချက်ပြမှုတစ်ခုအဖြစ် ပါဝင်သည့် ကြိမ်နှုန်းအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုချင်းစီကို ပြသနိုင်သည်။ သို့သော် ၎င်းသည် အဆင့်အချက်အလက်ကို မပေးဆောင်ဘဲ ပြင်းအားအချက်အလက်ကိုသာ ပေးသည်။ ခေတ်မီ swept-tuned ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ (အထူးသဖြင့် superheterodyne ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ) သည် တိုင်းတာမှုများစွာကို ပြုလုပ်နိုင်သည့် တိကျသောကိရိယာများဖြစ်သည်။ သို့သော်၊ ၎င်းတို့သည် ပေးထားသည့် အတိုင်းအတာတစ်ခုအတွင်း ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် မအကဲဖြတ်နိုင်သောကြောင့် တည်ငြိမ်သောအခြေအနေ သို့မဟုတ် ထပ်တလဲလဲ အချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာရန် ၎င်းတို့ကို အဓိကအသုံးပြုပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းအားလုံးကို တစ်ပြိုင်နက် အကဲဖြတ်နိုင်စွမ်းသည် အချိန်နှင့်တပြေးညီ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသာ ဖြစ်နိုင်သည်။ - အချိန်နှင့်တပြေးညီ SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည်- FFT SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် လှိုင်းပုံစံတစ်ခုအား ၎င်း၏ကြိမ်နှုန်း spectrum ၏အစိတ်အပိုင်းများအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပေးသည့် သင်္ချာလုပ်ငန်းစဉ်တစ်ခုဖြစ်သည့် discrete Fourier transform (DFT) ကို တွက်ချက်သည်။ Fourier သို့မဟုတ် FFT spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် အခြားအချိန်နှင့်တစ်ပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု အကောင်အထည်ဖော်မှုဖြစ်သည်။ Fourier ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် input signal ကိုနမူနာယူရန်နှင့်၎င်းကိုကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ပြောင်းရန်အတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းကိုအသုံးပြုသည်။ ဤပြောင်းလဲခြင်းအား Fast Fourier Transform (FFT) ကို အသုံးပြု၍ လုပ်ဆောင်ပါသည်။ FFT သည် အချိန်ဒိုမိန်းမှ အချက်အလက်များကို ကြိမ်နှုန်းဒိုမိန်းသို့ ပြောင်းလဲရန်အတွက် အသုံးပြုသည့် Discrete Fourier Transform ၏ အကောင်အထည်ဖော်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ အခြားအချိန်နှင့်တပြေးညီ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ အမျိုးအစားဖြစ်သည့် PARALLEL FILTER ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မတူညီသော bandpass ကြိမ်နှုန်းဖြင့် တစ်ခုချင်းစီကို bandpass filter အများအပြားကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ filter တစ်ခုစီသည် input နှင့် အချိန်တိုင်း ချိတ်ဆက်နေပါသည်။ ကနဦးဖြေရှင်းသည့်အချိန်ပြီးနောက်၊ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏တိုင်းတာမှုအကွာအဝေးအတွင်း အချက်ပြမှုများအားလုံးကို ချက်ချင်းသိရှိနိုင်ပြီး ပြသနိုင်သည်။ ထို့ကြောင့်၊ parallel-filter analyzer သည် real-time signal analysis ကို ပေးသည်။ Parallel-filter analyzer သည် မြန်ဆန်သည်၊ ၎င်းသည် ယာယီနှင့် အချိန်-မူကွဲအချက်ပြမှုများကို တိုင်းတာသည်။ သို့သော်၊ မျဉ်းပြိုင်-စစ်ထုတ်မှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူ၏ ကြိမ်နှုန်းကြည်လင်ပြတ်သားမှုသည် လှိုင်းဖြတ်ထားသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုထက် များစွာနိမ့်ကျသည်၊ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော် ကြည်လင်ပြတ်သားမှုကို bandpass filter များ၏ အကျယ်အားဖြင့် ဆုံးဖြတ်ထားသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ ကြီးမားသော ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးထက် ကောင်းမွန်သော ကြည်လင်ပြတ်သားမှုရရှိရန်၊ ၎င်းကို ကုန်ကျစရိတ်များစွာနှင့် ရှုပ်ထွေးစေရန်အတွက် တစ်ဦးချင်းစီ filter များစွာ လိုအပ်ပါသည်။ ထို့ကြောင့် စျေးကွက်ရှိ အရိုးရှင်းဆုံးအရာများမှအပ parallel-filter ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများစုသည် ဈေးကြီးသည်။ - Vector SIGNAL ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု (VSA) : ယခင်က၊ swept-tuned နှင့် superheterodyne spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အသံ၊ မိုက်ခရိုဝေ့မှ တဆင့် မီလီမီတာ ကြိမ်နှုန်းအထိ ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းများကို လွှမ်းခြုံထားသည်။ ထို့အပြင်၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်း (DSP) အရှိန်အဟုန်ပြင်းစွာ မြန်ဆန်သော Fourier အသွင်ပြောင်း (FFT) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြင့်မားသောကြည်လင်ပြတ်သားမှုရောင်စဉ်နှင့် ကွန်ရက်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပံ့ပိုးပေးခဲ့သော်လည်း analog-မှ-ဒစ်ဂျစ်တယ်ပြောင်းလဲခြင်းနှင့် အချက်ပြလုပ်ဆောင်ခြင်းနည်းပညာများ၏ ကန့်သတ်ချက်များကြောင့် ကြိမ်နှုန်းနည်းပါးသည်။ ယနေ့ခေတ်၏ ကျယ်ပြန့်သော ဘန်းဝဒ်၊ vector-modulated၊ အချိန်-ကွဲပြားသည့် အချက်ပြမှုများသည် FFT ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အခြား DSP နည်းပညာများ၏ လုပ်ဆောင်နိုင်မှုများမှ များစွာအကျိုးရှိသည်။ Vector signal ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မြန်နှုန်းမြင့် ADC နှင့် အခြားသော DSP နည်းပညာများနှင့် ပေါင်းစပ်ကာ လျင်မြန်သော ပုံရိပ်ပြတ်သားမှု ရောင်စဉ်တိုင်းတာမှုများ၊ demodulation နှင့် အဆင့်မြင့် အချိန်ဒိုမိန်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို ပေးဆောင်သည်။ VSA သည် ဆက်သွယ်ရေး၊ ဗီဒီယို၊ ထုတ်လွှင့်မှု၊ ဆိုနာ နှင့် အာထရာဆောင်း ပုံရိပ်ဖော်ခြင်း အပလီကေးရှင်းများတွင် အသုံးပြုသည့် ပေါက်ကွဲမှု၊ ယာယီ သို့မဟုတ် ပြုပြင်ထားသော အချက်ပြများကဲ့သို့သော ရှုပ်ထွေးသော အချက်ပြမှုများကို ပုံဖော်ရန်အတွက် အထူးအသုံးဝင်သည်။ ပုံစံအချက်များအရ၊ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများကို ခုံတန်းရှည်၊ သယ်ယူရလွယ်ကူသော၊ လက်ကိုင်နှင့် ကွန်ရက်များအဖြစ် အုပ်စုဖွဲ့ထားသည်။ Benchtop မော်ဒယ်များသည် ဓာတ်ခွဲခန်းပတ်ဝန်းကျင် သို့မဟုတ် ထုတ်လုပ်မှုဧရိယာတွင်ကဲ့သို့ ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအား AC ပါဝါသို့ ပလပ်ထိုးနိုင်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်သည်။ Bench top spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် ခရီးဆောင် သို့မဟုတ် လက်ကိုင်ဗားရှင်းများထက် ပိုမိုကောင်းမွန်သော စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် သတ်မှတ်ချက်များကို ပေးဆောင်ပါသည်။ သို့သော် ၎င်းတို့သည် ယေဘူယျအားဖြင့် ပိုလေးပြီး အအေးခံရန်အတွက် ပန်ကာများစွာရှိသည်။ အချို့သော BENCHTOP SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပင်မပလပ်ပေါက်မှ ဝေးရာသို့ အသုံးပြုနိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီထုပ်များကို ပေးဆောင်သည်။ အဲဒါတွေကို အိတ်ဆောင်ရောင်စဉ် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအဖြစ် ရည်ညွှန်းပါတယ်။ အိတ်ဆောင်မော်ဒယ်များသည် တိုင်းတာမှုများပြုလုပ်ရန် သို့မဟုတ် အသုံးပြုနေစဉ်အတွင်းသယ်ဆောင်ရန် spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို အပြင်သို့ထုတ်ရန်လိုအပ်သည့်အပလီကေးရှင်းများအတွက်အသုံးဝင်သည်။ သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်ကိရိယာသည် အသုံးပြုသူအား ပါဝါပလပ်ပေါက်များမရှိသော နေရာများတွင် အလုပ်လုပ်နိုင်စေရန် ရွေးချယ်နိုင်သော ဘက်ထရီစွမ်းအင်သုံး လုပ်ဆောင်ချက်ကို ပေးစွမ်းနိုင်မည်ဖြစ်ပြီး တောက်ပသောနေရောင်၊ အမှောင် သို့မဟုတ် ဖုန်ထူသောအခြေအနေများတွင် စခရင်ကို အလင်းအမှောင်တွင် ဖတ်ရှုနိုင်စေရန် ရှင်းလင်းစွာကြည့်ရှုနိုင်သော မျက်နှာပြင်ပြသမှု။ လက်ကိုင်ရောင်စဉ်ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာစက်များသည် ရောင်စဉ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာသည် အလွန်ပေါ့ပါးပြီး သေးငယ်ရန် လိုအပ်သည့် အပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးဝင်ပါသည်။ လက်ကိုင်ပိုင်းခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် ပိုကြီးသောစနစ်များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက အကန့်အသတ်ရှိသော စွမ်းရည်ကို ပေးဆောင်သည်။ Handheld Spectrum Analyzer များ၏ အားသာချက်များမှာ အသုံးပြုသူအား အပြင်သို့ လွတ်လွတ်လပ်လပ် ရွေ့လျားနိုင်စေရန်၊ အလွန်သေးငယ်သော အရွယ်အစားနှင့် ပေါ့ပါးသော အလေးချိန်တို့ရှိနေစဉ် ၎င်းတို့၏ ပါဝါသုံးစွဲမှု အလွန်နည်းပါးသော၊ ဘက်ထရီပါဝါဖြင့် လုပ်ဆောင်မှုဖြစ်သည်။ နောက်ဆုံးတွင်၊ NETWORKED SPECTRUM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် မျက်နှာပြင်မပါဝင်ဘဲ ၎င်းတို့သည် ပထဝီဝင်ဆိုင်ရာ ဖြန့်ဝေထားသော ရောင်စဉ်စောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဆိုင်ရာ အက်ပ်လီကေးရှင်းအသစ်ကို အသုံးပြုနိုင်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။ အဓိက ရည်ညွှန်းချက်မှာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအား ကွန်ရက်တစ်ခုသို့ ချိတ်ဆက်နိုင်ပြီး ကွန်ရက်တစ်ခုရှိ ယင်းကိရိယာများကို စောင့်ကြည့်နိုင်မှုဖြစ်သည်။ spectrum ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူအများအပြားတွင် ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် Ethernet port တစ်ခုရှိသော်လည်း၊ ၎င်းတို့သည် ပုံမှန်အားဖြင့် ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းမှုယန္တရားများမရှိ၍ ထိုသို့သောဖြန့်ဝေမှုပုံစံတွင် အသုံးပြုရန် အလွန်ကြီးမားပြီး/သို့မဟုတ် ဈေးကြီးသည်။ ထိုကိရိယာများ၏ ဖြန့်ဝေမှုသဘောသဘာဝသည် ထုတ်လွှင့်သည့်နေရာများ၏ ပထဝီဝင်တည်နေရာ၊ ဒိုင်နမစ်ရောင်စဉ်ဝင်ရောက်ခြင်းအတွက် ရောင်စဉ်တန်းစောင့်ကြည့်ခြင်းနှင့် အခြားထိုကဲ့သို့သော အပလီကေးရှင်းများစွာကို လုပ်ဆောင်ပေးသည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများ၏ကွန်ရက်တစ်လျှောက်တွင် ဒေတာဖမ်းယူမှုများကို တစ်ပြိုင်တည်းလုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ကုန်ကျစရိတ်သက်သာစွာဖြင့် ကွန်ရက်ထိရောက်သောဒေတာလွှဲပြောင်းခြင်းကို ဖွင့်နိုင်သည်။ PROTOCOL ANALYZER သည် ဆက်သွယ်ရေးလမ်းကြောင်းတစ်ခုမှ အချက်ပြများနှင့် ဒေတာလမ်းကြောင်းများကို ဖမ်းယူ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် ဟာ့ဒ်ဝဲနှင့်/သို့မဟုတ် ဆော့ဖ်ဝဲကို ပေါင်းစပ်ထားသည့် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းအတွက် အများအားဖြင့် အသုံးပြုကြသည်။ ၎င်းတို့သည် ကွန်ရက်ကို စောင့်ကြည့်ရန်နှင့် ပြဿနာဖြေရှင်းခြင်းဆိုင်ရာ လုပ်ဆောင်ချက်များကို အရှိန်မြှင့်ရန် အဓိက စွမ်းဆောင်ရည် အညွှန်းများကို တွက်ချက်ရန် ကွန်ရက်သို့ ချိတ်ဆက်ထားသည်။ NETWORK PROTOCOL ANALYZER သည် ကွန်ရက်စီမံခန့်ခွဲသူ၏ ကိရိယာအစုံ၏ အရေးကြီးသော အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကွန်ရက်ပရိုတိုကော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို ကွန်ရက်ဆက်သွယ်ရေး၏ ကျန်းမာရေးကို စောင့်ကြည့်ရန် အသုံးပြုသည်။ ကွန်ရက်စက်ပစ္စည်းတစ်ခုသည် အချို့သောနည်းလမ်းဖြင့် အဘယ်ကြောင့်လုပ်ဆောင်သည်ကို သိရှိရန်၊ စီမံခန့်ခွဲသူများသည် အသွားအလာများကို ရှူရှိုက်ရန်နှင့် ဝါယာကြိုးတစ်လျှောက်ဖြတ်သန်းသွားသော ဒေတာနှင့် ပရိုတိုကောများကို ဖော်ထုတ်ရန် ပရိုတိုကောခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ Network protocol ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို အသုံးပြုသည်။ - ဖြေရှင်းရခက်သော ပြဿနာများကို ဖြေရှင်းပါ။ - အန္တရာယ်ရှိသောဆော့ဖ်ဝဲ / malware ကိုရှာဖွေဖော်ထုတ်ပါ။ ကျူးကျော်ဝင်ရောက်မှုကို ထောက်လှမ်းခြင်းစနစ် သို့မဟုတ် ပျားရည်အိုးဖြင့် လုပ်ဆောင်ပါ။ - အခြေခံအသွားအလာပုံစံများနှင့် ကွန်ရက်အသုံးချမှုမက်ထရစ်များကဲ့သို့သော အချက်အလက်များကို စုဆောင်းပါ။ - အသုံးမပြုသော ပရိုတိုကောများကို ကွန်ရက်မှ ဖယ်ရှားနိုင်စေရန် ခွဲခြားသတ်မှတ်ပါ။ - ထိုးဖောက်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် traffic ကိုဖန်တီးပါ။ - လမ်းကြောင်းပေါ်တွင် ခိုးနားထောင်ခြင်း (ဥပမာ၊ ခွင့်ပြုချက်မရှိဘဲ လက်ငင်းစာတိုပေးပို့ခြင်း အသွားအလာ သို့မဟုတ် ကြိုးမဲ့ဝင်ရောက်ခွင့်အချက်များကို ရှာဖွေပါ) TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (TDR) သည် အချိန်-ဒိုမိန်းရောင်ပြန်ဟပ်မှုကို အသုံးပြုသည့် သတ္တုကြိုးများဖြစ်သည့် လိမ်တွဲဝိုင်ယာကြိုးများနှင့် တွဲဆက်ကေဘယ်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများ၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ စသည်တို့ကဲ့သို့ သတ္တုကြိုးများအတွင်း ချို့ယွင်းချက်များကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန်နှင့် ရှာဖွေရန် အသုံးပြုသည့် တူရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Time-Domain Reflectometers များသည် conductor တစ်လျှောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို တိုင်းတာသည်။ ၎င်းတို့ကို တိုင်းတာရန်အတွက် TDR သည် conductor ပေါ်သို့ အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုကို ထုတ်လွှင့်ပြီး ၎င်း၏ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ကြည့်ရှုသည်။ conductor သည် ယူနီဖောင်း impedance ရှိပြီး ကောင်းမွန်စွာ ရပ်စဲပါက၊ ထို့နောက် ရောင်ပြန်ဟပ်မှု မရှိတော့ဘဲ ကျန်ရှိနေသော အဖြစ်အပျက် signal ကို အဆုံးစွန်ထိ စုပ်ယူသွားပါမည်။ သို့သော်၊ တစ်နေရာရာတွင် impedance ကွဲလွဲမှုရှိပါက၊ အချို့သော အဖြစ်အပျက် signal ကို အရင်းအမြစ်သို့ ပြန်ပြောင်းပါမည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများသည် အဖြစ်အပျက်အချက်ပြမှုနှင့် တူညီသောပုံသဏ္ဍာန်ရှိမည်ဖြစ်သော်လည်း ၎င်းတို့၏လက္ခဏာနှင့် ပြင်းအားသည် impedance အဆင့်ပြောင်းလဲမှုအပေါ် မူတည်သည်။ impedance တွင် ခြေလှမ်းတိုးလာပါက၊ reflection သည် အဖြစ်အပျက် signal နှင့် တူညီသော လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်ပြီး impedance တွင် ခြေလှမ်းလျော့သွားပါက၊ reflection သည် ဆန့်ကျင်ဘက်လက္ခဏာရှိမည်ဖြစ်သည်။ ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို Time-Domain Reflectometer ၏ အထွက်/အဝင်တွင် တိုင်းတာပြီး အချိန်၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ပြသသည်။ တနည်းအားဖြင့်၊ ဖန်သားပြင်သည် ပေးထားသော ဂီယာကြားခံတစ်ခုအတွက် အချက်ပြပျံ့နှံ့မှု၏အမြန်နှုန်းသည် ကိန်းသေနီးပါးဖြစ်နေသောကြောင့် ကေဘယ်အလျား၏လုပ်ဆောင်ချက်အဖြစ် ထုတ်လွှင့်မှုနှင့် ရောင်ပြန်ဟပ်မှုများကို ပြသနိုင်သည်။ TDR များကို cable impedances နှင့် lengths ၊ connector နှင့် splice ဆုံးရှုံးမှုများနှင့် တည်နေရာများကို ပိုင်းခြားစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ TDR impedance တိုင်းတာမှုများသည် ဒီဇိုင်နာများအား စနစ်အချင်းချင်းချိတ်ဆက်မှုများ၏ အချက်ပြခိုင်မာမှုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို လုပ်ဆောင်ရန်နှင့် ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်စွမ်းဆောင်ရည်ကို တိကျစွာခန့်မှန်းရန် အခွင့်အရေးပေးပါသည်။ TDR တိုင်းတာမှုများကို board characterization လုပ်ငန်းတွင် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုပါသည်။ ဆားကစ်ဘုတ်ဒီဇိုင်နာသည် ဘုတ်ခြေရာများ၏ လက္ခဏာရပ်များကို ဆုံးဖြတ်နိုင်သည်၊ ဘုတ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက် တိကျသောမော်ဒယ်များကို တွက်ချက်နိုင်ပြီး ဘုတ်၏စွမ်းဆောင်ရည်ကို ပိုမိုတိကျစွာ ခန့်မှန်းနိုင်သည်။ time-domain reflectometers အတွက် အသုံးချသည့် အခြားနယ်ပယ်များစွာရှိပါသည်။ SEMICONDUCTOR CURVE TRACER သည် diodes၊ transistors နှင့် thyristors ကဲ့သို့သော discrete semiconductor ကိရိယာများ၏ ဝိသေသလက္ခဏာများကို ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာရန် အသုံးပြုသည့် စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကိရိယာသည် oscilloscope ပေါ်တွင် အခြေခံထားသော်လည်း စမ်းသပ်မှုအောက်တွင် စက်ပစ္စည်းကို လှုံ့ဆော်ရန်အတွက် အသုံးပြုနိုင်သည့် ဗို့အားနှင့် လက်ရှိအရင်းအမြစ်များပါရှိသည်။ သုတ်သင်ဗို့အားကို စမ်းသပ်နေသည့် စက်ပစ္စည်း၏ terminal နှစ်ခုတွင် သက်ရောက်ပြီး ဗို့အားတစ်ခုစီတွင် စီးဆင်းရန် စက်ခွင့်ပြုသည့် လျှပ်စီးကြောင်းပမာဏကို တိုင်းတာသည်။ VI (ဗို့အားနှင့် လျှပ်စီးကြောင်း) ဟုခေါ်သော ဂရပ်ကို oscilloscope မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ပြသထားသည်။ ဖွဲ့စည်းမှုတွင် ထည့်သွင်းထားသော အမြင့်ဆုံးဗို့အား၊ အသုံးချဗို့အား၏ ဝင်ရိုးစွန်း (အပြုသဘောနှင့် အနုတ်သဘောဝင်ရိုးစွန်းနှစ်ခုစလုံး၏ အလိုအလျောက် အသုံးချမှုအပါအဝင်) နှင့် စက်ပစ္စည်းနှင့်အတူ အတွဲလိုက်ထည့်သွင်းထားသော ခံနိုင်ရည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ diodes ကဲ့သို့သော terminal devices နှစ်ခုအတွက်၊ ၎င်းသည် ကိရိယာကို အပြည့်အဝ သတ်မှတ်ရန် လုံလောက်ပါသည်။ မျဉ်းကွေးခြေရာခံသည် diode ၏ရှေ့ဆက်ဗို့အား၊ ပြောင်းပြန်ယိုစိမ့်နေသောလျှပ်စီးကြောင်း၊ ပြောင်းပြန်ပြိုကွဲဗို့အား၊ စသည်တို့ကဲ့သို့သော စိတ်ဝင်စားဖွယ်ကောင်းသောဘောင်များကို ပြသနိုင်သည်။ ထရန်စစ္စတာနှင့် FET ကဲ့သို့သော ဂိတ်သုံး စက်ပစ္စည်းများသည် Base သို့မဟုတ် Gate terminal ကဲ့သို့သော စမ်းသပ်ထားသည့် စက်၏ ထိန်းချုပ်မှုဂိတ်သို့ ချိတ်ဆက်မှုကိုလည်း အသုံးပြုပါသည်။ ထရန်စစ္စတာများနှင့် အခြားလက်ရှိအခြေခံစက်ပစ္စည်းများအတွက်၊ အခြေခံ သို့မဟုတ် အခြားထိန်းချုပ်ရေးဂိတ်လျှပ်စီးကြောင်းကို အဆင့်မြှင့်ထားသည်။ Field Effect Transistors (FETs) အတွက် stepped voltage အစား stepped voltage ကို အသုံးပြုပါသည်။ configured main terminal voltages များ၏ ဗို့အားကို ဖြတ်၍ control signal ၏ ဗို့အားအဆင့်တိုင်းအတွက်၊ VI curves အုပ်စုကို အလိုအလျောက်ထုတ်ပေးပါသည်။ ဤမျဉ်းကွေးအုပ်စုများသည် ထရန်စစ္စတာ၏ အမြတ် သို့မဟုတ် thyristor သို့မဟုတ် TRIAC ၏ အစပျိုးဗို့အားကို ဆုံးဖြတ်ရန် အလွန်လွယ်ကူစေသည်။ ခေတ်မီ ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ မျဉ်းကွေး ခြေရာခံများသည် အလိုလိုသိနိုင်သော Windows အခြေပြု အသုံးပြုသူ အင်တာဖေ့စ်များ၊ IV၊ CV နှင့် pulse မျိုးဆက်နှင့် pulse IV၊ နည်းပညာတိုင်းအတွက် ပါဝင်သော အပလီကေးရှင်း စာကြည့်တိုက်များ အစရှိသည့် ဆွဲဆောင်မှုများစွာကို ပေးဆောင်ပါသည်။ Phase လှည့်ခြင်းစမ်းသပ်ခြင်း/ညွှန်ပြခြင်း- ဤအရာများသည် အဆင့်သုံးဆင့်စနစ်များနှင့် အဖွင့်/အားလျော့သည့်အဆင့်များတွင် အဆင့်အစီအစဥ်ကိုခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် ကျစ်လစ်ပြီး အကြမ်းခံသောစမ်းသပ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ ၎င်းတို့သည် လည်ပတ်နေသော စက်များ၊ မော်တာများ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် generator output ကို စစ်ဆေးခြင်းအတွက် စံပြဖြစ်သည်။ အပလီကေးရှင်းများထဲတွင် သင့်လျော်သော အဆင့်အစီအမံများကို ဖော်ထုတ်ခြင်း၊ ပျောက်ဆုံးနေသော ဝါယာကြိုးအဆင့်များကို ရှာဖွေခြင်း၊ စက်လည်ပတ်ခြင်းအတွက် သင့်လျော်သောချိတ်ဆက်မှုများကို ဆုံးဖြတ်ခြင်း၊ တိုက်ရိုက်ပတ်လမ်းများကို ထောက်လှမ်းခြင်းတို့ဖြစ်သည်။ FREQUENCY CountER သည် ကြိမ်နှုန်းတိုင်းတာရန်အတွက် အသုံးပြုသော စမ်းသပ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ယေဘူယျအားဖြင့် သတ်မှတ်ကာလတစ်ခုအတွင်း ဖြစ်ပွားသည့် ဖြစ်ရပ်အရေအတွက်ကို စုဆောင်းသည့် ကောင်တာကို အသုံးပြုသည်။ ရေတွက်ရမည့် အဖြစ်အပျက်သည် အီလက်ထရွန်းနစ်ပုံစံဖြစ်ပြီး၊ ကိရိယာနှင့် ရိုးရှင်းသော ချိတ်ဆက်မှုသည် လိုအပ်သည်။ ပိုများသော ရှုပ်ထွေးမှုရှိသော အချက်ပြများသည် ၎င်းတို့ကို ရေတွက်ရန် သင့်လျော်စေရန် အချို့သော အေးစက်မှုများ လိုအပ်နိုင်သည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာအများစုတွင် အသံချဲ့စက်၊ စစ်ထုတ်ခြင်းနှင့် ပုံသွင်းသည့် ဆားကစ်ပုံစံအချို့ရှိသည်။ ဒစ်ဂျစ်တယ်အချက်ပြလုပ်ဆောင်မှု၊ အာရုံခံနိုင်စွမ်းထိန်းချုပ်မှုနှင့် hysteresis တို့သည် စွမ်းဆောင်ရည်ကိုမြှင့်တင်ရန် အခြားသောနည်းပညာများဖြစ်သည်။ သဘာဝတွင် မွေးရာပါ အီလက်ထရွန်းနစ်မဟုတ်သော အခြားအချိန်အပိုင်းအခြားအလိုက် ဖြစ်ရပ်များကို transducers များအသုံးပြု၍ ပြောင်းလဲရန် လိုအပ်ပါသည်။ RF ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းနိမ့်သော ကောင်တာများကဲ့သို့ တူညီသောမူများကို လုပ်ဆောင်သည်။ မလျှံမီ အပိုင်းအခြား ပိုများသည်။ အလွန်မြင့်မားသော မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းများအတွက်၊ ဒီဇိုင်းများစွာသည် ပုံမှန်ဒစ်ဂျစ်တယ်ဆားကစ်များလည်ပတ်နိုင်သည့်အချက်ဆီသို့ အချက်ပြကြိမ်နှုန်းကို လျှော့ချရန်အတွက် မြန်နှုန်းမြင့် ကြိုတင်စကေးကိရိယာကို အသုံးပြုသည်။ မိုက်ခရိုဝေ့ဖ်ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများသည် ကြိမ်နှုန်းများကို 100 GHz နီးပါးအထိ တိုင်းတာနိုင်သည်။ ဤမြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများအထက်တွင် တိုင်းတာရမည့် signal ကို local oscillator မှ signal နှင့် mixer တွင် ပေါင်းစပ်ထားပြီး၊ တိုက်ရိုက်တိုင်းတာရန်အတွက် လုံလောက်သောနည်းသော ကွာခြားမှုကြိမ်နှုန်းဖြင့် signal ကိုထုတ်ပေးပါသည်။ ကြိမ်နှုန်းကောင်တာများတွင် လူကြိုက်များသော အင်တာဖေ့စ်များသည် RS232၊ USB၊ GPIB နှင့် Ethernet တို့သည် အခြားသော ခေတ်မီကိရိယာများနှင့် ဆင်တူသည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များ ပေးပို့ခြင်းအပြင်၊ အသုံးပြုသူသတ်မှတ်ထားသော အတိုင်းအတာကန့်သတ်ချက်ထက်ကျော်လွန်သည့်အခါ ကောင်တာတစ်ခုမှ သုံးစွဲသူအား အသိပေးနိုင်သည်။ အသေးစိတ်နှင့် အခြားအလားတူပစ္စည်းများအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်ပစ္စည်းဝဘ်ဆိုဒ်- သို့ ဝင်ရောက်ကြည့်ရှုပါ။http://www.sourceindustrialsupply.com For other similar equipment, please visit our equipment website: http://www.sourceindustrialsupply.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Microfluidic Devices, Microfluidics,Micropumps,Microvalves,Lab-on-Chip

    Microfluidic Devices - Microfluidics - Micropumps - Microvalves - Lab-on-a-Chip Systems - Microhydraulic - Micropneumatic - AGS-TECH Inc.- New Mexico - USA Microfluidic စက်များ ထုတ်လုပ်ခြင်း ကျွန်ုပ်တို့၏ MICROFLUIDIC စက်ပစ္စည်းများ MANUFACTURING operations များသည် သေးငယ်သောပမာဏနှင့် ကိုင်တွယ်လုပ်ဆောင်သည့် စက်ပစ္စည်းများ၏ ထုထည်နှင့်စနစ်များကို ဖန်တီးရန်အတွက် ရည်ရွယ်ပါသည်။ သင့်အတွက် microfluidic ကိရိယာများကို ဒီဇိုင်းထုတ်ရန် ကျွန်ုပ်တို့တွင် စွမ်းရည်ရှိပြီး သင့်အက်ပ်လီကေးရှင်းများအတွက် အံဝင်ခွင်ကျဖြစ်အောင် ပုံတူရိုက်ခြင်းနှင့် မိုက်ခရိုထုတ်လုပ်ခြင်းတို့ကို ပေးဆောင်နိုင်ပါသည်။ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ကိရိယာများ၏ နမူနာများမှာ မိုက်ခရိုတွန်းကန်စက်များ၊ ဓာတ်ခွဲခန်း-on-a-chip စနစ်များ၊ မိုက်ခရို အပူပေးကိရိယာများ၊ မှင်ဂျက်ပရင့်ခေါင်းများနှင့် အခြားအရာများဖြစ်သည်။ In MICROFLUIDICS ကျွန်ုပ်တို့သည် တိကျသောထိန်းချုပ်မှုနှင့် ကန့်သတ်နယ်မြေများအတွက် အရည်များကို ကိုင်တွယ်ဖြေရှင်းရန် လိုအပ်ပါသည်။ အရည်များကို ရွှေ့ပြောင်းခြင်း၊ ရောနှောခြင်း၊ ခွဲထုတ်ပြီး စီမံဆောင်ရွက်သည်။ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်များတွင် အရည်များကို သေးငယ်သော micropumps နှင့် microvalves များအသုံးပြု၍ တက်ကြွစွာလှုပ်ရှားခြင်း သို့မဟုတ် capillary force များကို အခွင့်ကောင်းယူပြီး အပြင်းအထန် လှုပ်ရှားစေပါသည်။ lab-on-a-chip စနစ်များဖြင့်၊ ပုံမှန်အားဖြင့် ဓာတ်ခွဲခန်းတစ်ခုတွင် လုပ်ဆောင်သည့် လုပ်ငန်းစဉ်များသည် ထိရောက်မှုနှင့် ရွေ့လျားနိုင်မှုကို မြှင့်တင်ရန်နှင့် နမူနာနှင့် ဓါတ်ပြုမှုပမာဏများကို လျှော့ချရန်အတွက် ချစ်ပ်တစ်ခုတည်းတွင် အတိုချုံ့ထားပါသည်။ microfluidic စက်များနှင့် စနစ်များ၏ အဓိကအသုံးချပရိုဂရမ်အချို့မှာ- - ချစ်ပ်ပေါ်တွင်ဓာတ်ခွဲခန်း - မူးယစ်ဆေးဝါးစစ်ဆေးခြင်း။ - ဂလူးကို့စ်စစ်ဆေးမှုများ - ဓာတုအဏုဓာတ်ပေါင်းဖို - Microprocessor အအေးခံခြင်း။ - မိုက်ခရိုလောင်စာဆဲလ်များ - ပရိုတိန်းပုံဆောင်ခဲ - ဆေးဝါးများ လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲခြင်း၊ ဆဲလ်တစ်ခုတည်းကို ခြယ်လှယ်ခြင်း။ - ဆဲလ်တစ်ခုတည်းလေ့လာမှု - ချိန်ညှိနိုင်သော optofluidic microlens ခင်းကျင်းမှုများ - Microhydraulic နှင့် micropneumatic စနစ်များ (အရည်ပန့်များ၊ ဓာတ်ငွေ့အဆို့ရှင်များ၊ ရောစပ်စနစ်များ… စသည်ဖြင့်) - Biochip အစောပိုင်းသတိပေးစနစ်များ - ဓာတုမျိုးစိတ်များကိုရှာဖွေခြင်း။ - Bioanalytical applications များ - On-chip DNA နှင့် ပရိုတင်းဓာတ်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း။ - Nozzle spray ကိရိယာများ - ဘက်တီးရီးယားများကို ထောက်လှမ်းရန် Quartz flow cells များ - Dual သို့မဟုတ် multiple droplet မျိုးဆက်ချစ်ပ်များ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဒီဇိုင်းအင်ဂျင်နီယာများသည် အပလီကေးရှင်းအမျိုးမျိုးအတွက် microfluidic စက်ပစ္စည်းများကို မော်ဒယ်ဖန်တီးခြင်း၊ ဒီဇိုင်းရေးဆွဲခြင်းနှင့် စမ်းသပ်ခြင်းများတွင် နှစ်ပေါင်းများစွာ အတွေ့အကြုံများရှိသည်။ microfluidics နယ်ပယ်တွင် ကျွန်ုပ်တို့၏ ဒီဇိုင်းကျွမ်းကျင်မှုတွင်- • မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်များအတွက် အပူချိန်နိမ့်သော အပူချိန်နှောင်ဖွဲ့မှု လုပ်ငန်းစဉ် • ဖန်ခွက်နှင့် borosilicate နက်ရှိုင်းသော အနက်မှ nm မှ mm အထိ အနက်ရှိသော မိုက်ခရိုချန်နယ်များကို စိုစွတ်သော ထွင်းထုခြင်း။ • ပါးလွှာသော 100 microns မှ 40 mm ကျော်အထိ ကျယ်ပြန့်သော အထူအပါးများအတွက် ကြိတ်ခြင်းနှင့် ပွတ်ခြင်း။ • ရှုပ်ထွေးသော microfluidic ကိရိယာများကို ဖန်တီးရန် အလွှာများစွာကို ပေါင်းစပ်နိုင်မှု။ • မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ကိရိယာများအတွက် သင့်လျော်သော တူးဖော်ခြင်း၊ ကြိတ်ခွဲခြင်းနှင့် ultrasonic စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ နည်းစနစ်များ • မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာများ၏ အပြန်အလှန်ချိတ်ဆက်နိုင်မှုအတွက် တိကျသောအနားသတ်ချိတ်ဆက်မှုဖြင့် ဆန်းသစ်သောအတုံးလိုက်နည်းပညာများ • တိကျသော ချိန်ညှိမှု • မြှုပ်ထားသော RTDs၊ အာရုံခံကိရိယာများ၊ မှန်များနှင့် လျှပ်ကူးပစ္စည်းကဲ့သို့သော ကျယ်ပြန့်သောအင်္ဂါရပ်များကို ဖန်တီးရန်အတွက် စုဆောင်းထားသော အလွှာအမျိုးမျိုး၊ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ချစ်ပ်များကို ပလက်တီနမ်၊ ရွှေ၊ ကြေးနီနှင့် တိုက်တေနီယမ်ကဲ့သို့သော သတ္တုများဖြင့် ဖြန်းတီးနိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏စိတ်ကြိုက်ဖန်တီးနိုင်မှုအပြင်၊ ကျွန်ုပ်တို့တွင် ရာနှင့်ချီသော စံမီ microfluidic ချစ်ပ်ဒီဇိုင်းများကို hydrophobic၊ hydrophilic သို့မဟုတ် fluorinated coatings နှင့် ကျယ်ပြန့်သော channel အရွယ်အစား (100 nanometers မှ 1mm)၊ inputs, outputs, geometries အမျိုးမျိုးသော စက်ဝိုင်းပုံလက်ဝါးကပ်တိုင်များကဲ့သို့သော တိုင်ခင်းများ နှင့် micromixer ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ microfluidic ကိရိယာများသည် အလွန်ကောင်းမွန်သော ဓာတုခံနိုင်ရည်ရှိပြီး အလင်းပြမြင်သာမှု၊ အပူချိန် 500 စင်တီဂရိတ်အထိ၊ မြင့်မားသော ဖိအားအကွာအဝေး 300 Bar အထိ ပေးစွမ်းပါသည်။ အချို့သော နာမည်ကြီး microfluidic off-shelf ချစ်ပ်များသည်- MICROFLUIDIC DROPLET Chips- မတူညီသောလမ်းဆုံဂျီသြမေတြီများ၊ ချန်နယ်အရွယ်အစားနှင့် မျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများပါရှိသော Glass Droplet Chips များကို ရရှိနိုင်ပါသည်။ Microfluidic အစက်အပြောက် ချစ်ပ်များသည် ကြည်လင်ပြတ်သားသော ပုံရိပ်အတွက် အလွန်ကောင်းမွန်သော အလင်းမြင်သာမှုရှိသည်။ အဆင့်မြင့် hydrophobic coating ကုသမှုများသည် ရေတွင်ရှိသော အဆီအမှုန်အမွှားများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည့်အပြင် မကုသရသေးသော ချစ်ပ်များတွင် ဖြစ်ပေါ်လာသော အဆီတွင်းရေအမှုန်အမွှားများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည်။ MICROFLUIDIC MIXER CHIPS- miliseconds အတွင်း အရည်စီးကြောင်းနှစ်ခုကို ရောစပ်နိုင်စေခြင်းဖြင့် micromixer ချစ်ပ်များသည် တုံ့ပြန်မှု kinetics၊ sample dilution၊ လျင်မြန်သော crystallisation နှင့် nanoparticles ပေါင်းစပ်မှုအပါအဝင် applications အများအပြားကို အကျိုးရှိစေပါသည်။ တစ်ခုတည်းသော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချန်နယ် ချစ်ပ်များ- AGS-TECH Inc. သည် တစ်ခုတည်းသော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချစ်ပ်များကို အဝင်ပေါက်တစ်ခုနှင့် အပလီကေးရှင်းများစွာအတွက် ထွက်ပေါက်တစ်ခုပါရှိသည်။ မတူညီသော ချစ်ပ်အတိုင်းအတာနှစ်ခုကို စင်အပြင်တွင် ရနိုင်သည် (66x33mm နှင့် 45x15mm)။ ကျွန်ုပ်တို့သည် စတော့ရှယ်ယာသုံးနိုင်သော ချစ်ပ်ကိုင်ဆောင်သူများလည်းဖြစ်သည်။ CROSS MICROFLUIDIC CHANNEL CHIPS- ကျွန်ုပ်တို့သည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခုဖြတ်ကာ ရိုးရိုးချန်နယ်နှစ်ခုပါရှိသော microfluidic ချစ်ပ်များကို ပေးပါသည်။ droplet မျိုးဆက်နှင့် flow focusing applications များအတွက်စံပြ။ ပုံမှန်ချစ်ပ်များ၏အတိုင်းအတာသည် 45x15mm ဖြစ်ပြီး ကျွန်ုပ်တို့တွင် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်သော ချစ်ပ်ကိုင်ဆောင်သူရှိပါသည်။ T-JUNCTION CHIPS- T-Junction သည် အရည်ထိတွေ့ခြင်းနှင့် အစက်အစက်ဖြစ်ပေါ်ခြင်းအတွက် မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်များတွင် အသုံးပြုသည့် အခြေခံဂျီသြမေတြီတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤမိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ချစ်ပ်များကို ပါးလွှာသောအလွှာ၊ quartz၊ ပလက်တီနမ် coated၊ hydrophobic နှင့် hydrophilic ဗားရှင်းများအပါအဝင် ပုံစံများစွာဖြင့် ရရှိနိုင်ပါသည်။ Y-JUNCTION CHIPS- ၎င်းတို့သည် အရည်-အရည်များ ဆက်သွယ်ခြင်းနှင့် ပျံ့နှံ့ခြင်းဆိုင်ရာလေ့လာမှုများအပါအဝင် အသုံးချပရိုဂရမ်များစွာအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ဖန်မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာများဖြစ်သည်။ ဤမိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာများသည် ချိတ်ဆက်ထားသော Y-Junctions နှစ်ခုနှင့် မိုက်ခရိုချန်နယ်စီးဆင်းမှုကို စောင့်ကြည့်ရန်အတွက် ဖြောင့်လမ်းကြောင်းနှစ်ခုပါရှိသည်။ MICROFLUIDIC REACTOR CHIPS- မိုက်ခရိုဓာတ်ပေါင်းဖို ချစ်ပ်များသည် အရည် နှစ်ခု သို့မဟုတ် သုံးခုကို လျင်မြန်စွာ ရောစပ်ပြီး တုံ့ပြန်မှုအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ကျစ်လစ်သော ဖန်မိုက်ခရိုဖလူဒစ် ကိရိယာများဖြစ်သည်။ WELLPLATE CHIPS- ဤသည်မှာ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသော သုတေသနနှင့် ဆေးခန်းရောဂါရှာဖွေရေးဓာတ်ခွဲခန်းများအတွက် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Wellplate ချစ်ပ်များသည် နာနိုလီတာရေတွင်းများတွင် ဓာတ်ပစ္စည်းအမှုန်အမွှားငယ်များ သို့မဟုတ် ဆဲလ်အုပ်စုများကို ကိုင်ဆောင်ရန်အတွက်ဖြစ်သည်။ MEMBRANE Devices- ဤအမြှေးပါးကိရိယာများသည် အရည်-အရည်များကို ခွဲထုတ်ခြင်း၊ ဆက်သွယ်ခြင်း သို့မဟုတ် ထုတ်ယူခြင်း၊ ဖြတ်သန်းစီးဆင်းမှု filtration နှင့် မျက်နှာပြင် ဓာတုဗေဒတုံ့ပြန်မှုများအတွက် အသုံးပြုရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပါသည်။ ဤစက်ပစ္စည်းများသည် အနိမ့်ပိုင်းသေနေသော ထုထည်နှင့် တစ်ခါသုံးအမြှေးပါးမှ အကျိုးကျေးဇူးရရှိစေသည်။ MICROFLUIDIC RESEALABLE CHIPS- အဖွင့်အပိတ်လုပ်နိုင်သော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချစ်ပ်များအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပြီး၊ ပြန်သိမ်းနိုင်သော ချစ်ပ်များသည် fluidic ရှစ်ခုနှင့် လျှပ်စစ်ချိတ်ဆက်မှု ရှစ်ခုအထိ လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ဓါတ်ပစ္စည်းများ၊ အာရုံခံကိရိယာများ သို့မဟုတ် ဆဲလ်များကို ချန်နယ်မျက်နှာပြင်ပေါ်သို့ အပ်နှံနိုင်သည်။ အချို့သော အပလီကေးရှင်းများသည် ဆဲလ်ယဉ်ကျေးမှုနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း၊ impedance detection နှင့် biosensor စမ်းသပ်ခြင်း တို့ဖြစ်သည်။ POROUS MEDIA CHIPS- ဤသည်မှာ ရှုပ်ထွေးသော သဲကျောက်ကျောက်တုံးဖွဲ့စည်းပုံ၏ ကိန်းဂဏန်းအချက်အလက်များအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ဖန်မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤမိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ချပ်စ်၏အသုံးချပရိုဂရမ်များထဲတွင် မြေကြီးသိပ္ပံနှင့် အင်ဂျင်နီယာပညာ၊ ရေနံဓာတုလုပ်ငန်း၊ ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်မှု၊ မြေအောက်ရေခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုတို့တွင် သုတေသနများ ပါဝင်ပါသည်။ CAPILLARY ELECTROPHORESIS CHIP (CE ချစ်ပ်)- ကျွန်ုပ်တို့သည် DNA ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် ဇီဝမော်လီကျူးများကို ခွဲထုတ်ရန်အတွက် ပေါင်းစပ်လျှပ်ကူးပစ္စည်းပါသော သွေးကြောမျှင် အီလက်ထရောနစ် ချစ်ပ်ပြားများကို ပေးဆောင်ပါသည်။ Capillary electrophoresis ချစ်ပ်များသည် အတိုင်းအတာ 45x15mm ရှိသော encapsulates များနှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့တွင် classical crossing နှင့် T-crossing ပါသော CE ချစ်ပ်များရှိသည်။ ချစ်ပ်ကိုင်ဆောင်သူများ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများကဲ့သို့သော လိုအပ်သော ဆက်စပ်ပစ္စည်းများအားလုံးကို ရရှိနိုင်သည်။ microfluidic ချစ်ပ်များအပြင် AGS-TECH သည် ပန့်များ၊ ပြွန်များ၊ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို ကျယ်ပြန့်စွာ ပေးဆောင်ပါသည်။ စင်အောက်ရှိ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်အချို့မှာ- MICROFLUIDIC DROPLET စတင်ခြင်းစနစ်- ဆေးထိုးအခြေပြုအစက်အပြောက်စတင်စနစ်သည် 10 မှ 250 မိုက်ခရိုအချင်းအထိရှိသော monodispersed အမှုန်အမွှားများ၏မျိုးဆက်အတွက် ပြီးပြည့်စုံသောအဖြေကိုပေးပါသည်။ 0.1 မိုက်ခရိုလီတာ/မိနစ် မှ 10 မိုက်ခရိုလီတာ/မိနစ်အကြား ကျယ်ပြန့်သော စီးဆင်းမှုအကွာအဝေးတွင် လည်ပတ်နေသော ဓာတုဗေဒအရ ခံနိုင်ရည်ရှိသော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်သည် ကနဦး အယူအဆ အလုပ်နှင့် လက်တွေ့စမ်းသပ်မှုများအတွက် စံပြဖြစ်သည်။ အခြားတစ်ဖက်တွင် ဖိအားအခြေပြု droplet starter စနစ်သည် microfluidics ပဏာမအလုပ်အတွက် ကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ စနစ်သည် လိုအပ်သော ပန့်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများနှင့် မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချစ်ပ်များ ပါဝင်သော ပြီးပြည့်စုံသော ဖြေရှင်းချက်တစ်ခု ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ 0 မှ 10 bars အကြား ကျယ်ပြန့်သော ဖိအားအကွာအဝေးတွင် လည်ပတ်နေသော ဤစနစ်သည် ဓာတုဗေဒအရ ခံနိုင်ရည်ရှိပြီး ၎င်း၏ မော်ဂျူလာ ဒီဇိုင်းသည် အနာဂတ် အသုံးပြုမှုများအတွက် အလွယ်တကူ ချဲ့ထွင်နိုင်စေပါသည်။ တည်ငြိမ်သောအရည်စီးဆင်းမှုကို ပံ့ပိုးပေးခြင်းဖြင့်၊ ဤပုံစံတူကိရိယာကိရိယာအစုံအလင်သည် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကုန်ကျစရိတ်များကို ထိရောက်စွာလျှော့ချရန်အတွက် သေနေသောထုထည်နှင့်နမူနာစွန့်ပစ်ပစ္စည်းများကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။ ဤမိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်သည် အရည်ပြောင်းလဲမှုကို လျင်မြန်စွာပေးစွမ်းနိုင်သည်။ လော့ခ်ချနိုင်သော ဖိအားအခန်းတစ်ခုနှင့် ဆန်းသစ်သော 3 လမ်းအခန်းအဖုံးသည် အရည်သုံးမျိုးအထိ တစ်ပြိုင်နက်စုပ်ယူနိုင်စေပါသည်။ အဆင့်မြင့် MICROFLUIDIC DROPLET စနစ်- အလွန်တရာ တသမတ်တည်း အရွယ်အစားရှိသော အမှုန်အမွှားများ၊ အမှုန်အမွှားများ၊ emulsions နှင့် ပူဖောင်းများ ထုတ်လုပ်နိုင်စေမည့် မော်ဂျူလာ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် စနစ်။ အဆင့်မြင့် မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် အမှုန်အမွှားစနစ်သည် နာနိုမီတာနှင့် ရာနှင့်ချီသော အရွယ်အစားကြားတွင် ပြန့်ကျဲနေသော အမှုန်အမွှားများကို ထုတ်လုပ်ရန်အတွက် မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချစ်ပ်တစ်ခုတွင် စီးဆင်းမှုကို အာရုံစိုက်သည့်နည်းပညာကို အသုံးပြုထားသည်။ ဆဲလ်များ ထုပ်ပိုးခြင်း၊ ပုတီးစေ့များထုတ်လုပ်ခြင်း၊ နာနိုအမှုန်များဖွဲ့စည်းခြင်းစသည်တို့ကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် ကောင်းမွန်သင့်လျော်ပါသည်။ ရေစက်အရွယ်အစား၊ စီးဆင်းမှုနှုန်း၊ အပူချိန်၊ လမ်းဆုံများကို ရောစပ်ခြင်း၊ မျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် ထပ်တိုးမှုအစီအစဥ်များကို လုပ်ငန်းစဉ် ပိုမိုကောင်းမွန်အောင်ပြုလုပ်ရန်အတွက် လျင်မြန်စွာ ပြောင်းလဲနိုင်ပါသည်။ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်တွင် ပန့်များ၊ စီးဆင်းမှုအာရုံခံကိရိယာများ၊ ချစ်ပ်များ၊ ချိတ်ဆက်ကိရိယာများနှင့် အလိုအလျောက်စနစ်ဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများအပါအဝင် လိုအပ်သော အစိတ်အပိုင်းများ ပါဝင်သည်။ optical စနစ်များ၊ ပိုကြီးသော ရေလှောင်ကန်များနှင့် ဓာတ်ပစ္စည်းများ အပါအဝင် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကိုလည်း ရရှိနိုင်သည်။ ဤစနစ်အတွက် အချို့သော microfluidics applications များသည် သုတေသနနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် ဆဲလ်များ၊ DNA နှင့် သံလိုက်ပုတီးစေ့များကို ဖုံးအုပ်ထားခြင်း၊ ပေါ်လီမာအမှုန်များနှင့် ဆေးဝါးဖော်စပ်မှုမှတစ်ဆင့် ဆေးဝါးပေးပို့ခြင်း၊ အစားအစာနှင့် အလှကုန်အတွက် emulsion နှင့် foams များကို တိကျစွာထုတ်လုပ်ခြင်း၊ သုတ်ဆေးနှင့် ပိုလီမာအမှုန်များထုတ်လုပ်ခြင်း၊ microfluidics သုတေသနပြုခြင်း အမှုန်အမွှားများ၊ emulsions၊ ပူဖောင်းများနှင့် အမှုန်များ။ MICROFLUIDIC SMALL DROPLET စနစ်- တည်ငြိမ်မှု၊ ပိုမိုမြင့်မားသော မျက်နှာဖုံးဧရိယာနှင့် ရေတွင်ပျော်ဝင်နိုင်သော ဒြပ်ပေါင်းများကို ပေးစွမ်းနိုင်သော မိုက်ခရိုအီမြူလာများကို ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအတွက် စံပြစနစ်တစ်ခုဖြစ်သည်။ သေးငယ်သော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ချစ်ပ်ပြားများသည် 5 မှ 30 မိုက်ခရိုအထိ အကွာအဝေးအထိ သေးငယ်သော သေးငယ်သော အမှုန်အမွှားများကို ထုတ်ပေးနိုင်သည်။ MICROFLUIDIC PARALLEL DROPLET စနစ်- တစ်စက္ကန့်လျှင် 20 မှ 60 microns မှ 30,000 monodispersed microdroplets အထိ ထုတ်လုပ်မှုအတွက် မြင့်မားသော သွင်းအားစုစနစ်။ microfluidic parallel droplet စနစ်သည် သုံးစွဲသူများအား ဆေးဝါးနှင့် အစားအစာထုတ်လုပ်မှုတွင် ကျယ်ပြန့်သောအသုံးချမှုများကို လွယ်ကူချောမွေ့စေမည့် တည်ငြိမ်သောရေ-ဆီ သို့မဟုတ် ဆီတွင်း-ရေစက်များ ဖန်တီးနိုင်စေပါသည်။ MICROFLUIDIC DROPLET စုဆောင်းမှုစနစ်- ဤစနစ်သည် monodispersed emulsion များ၏ မျိုးဆက်၊ စုစည်းမှုနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများအတွက် ကောင်းမွန်သင့်လျော်ပါသည်။ microfluidic droplet စုဆောင်းမှုစနစ်တွင် စီးဆင်းမှုပြတ်တောက်ခြင်း သို့မဟုတ် အစက်အစက်များ ပေါင်းစပ်ခြင်းမရှိဘဲ emulsion များကို စုဆောင်းခွင့်ပြုသည့် အစက်အပြောက်စုဆောင်းမှု module ပါရှိသည်။ microfluidic droplet အရွယ်အစားကို တိကျစွာချိန်ညှိနိုင်ပြီး emulsion လက္ခဏာများကို အပြည့်အဝထိန်းချုပ်နိုင်စေခြင်းဖြင့် လျင်မြန်စွာပြောင်းလဲနိုင်သည်။ MICROFLUIDIC MICROMIXER စနစ်- ဤစနစ်ကို မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာ၊ တိကျစွာစုပ်ထုတ်ခြင်း၊ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ဒြပ်စင်များနှင့် ဆော့ဖ်ဝဲလ်ကို ကောင်းမွန်သောရောစပ်မှုရရှိရန် ဖန်တီးထားသည်။ Lamination-based compact micromixer glass microfluidic ကိရိယာသည် သီးခြားလွတ်လပ်သောရောစပ်ထားသည့် ဂျီသြမေတြီနှစ်ခုမှ တစ်ခုစီတွင် အရည် နှစ်ခု သို့မဟုတ် သုံးခုကို လျင်မြန်စွာ ရောစပ်နိုင်စေပါသည်။ မြင့်မားသော နှင့် အနိမ့်ပိုင်း စီးဆင်းမှု အချိုးအစား နှစ်ခုလုံးတွင် ဤ microfluidic စက်ဖြင့် ပြီးပြည့်စုံသော ရောစပ်မှုကို ရရှိနိုင်သည်။ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာနှင့် ၎င်း၏ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ အစိတ်အပိုင်းများသည် အလွန်ကောင်းမွန်သော ဓာတုဗေဒတည်ငြိမ်မှု၊ အလင်းရောင်အတွက် မြင့်မားသောမြင်နိုင်စွမ်းနှင့် ကောင်းမွန်သောအလင်းပို့လွှတ်မှုကို ပေးစွမ်းသည်။ မိုက်ခရိုမစ်ဆာစနစ်သည် အထူးမြန်ဆန်စွာ လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး ဆက်တိုက်စီးဆင်းမှုမုဒ်တွင် အလုပ်လုပ်ပြီး အရည်စီးကြောင်း နှစ်ခု သို့မဟုတ် သုံးခုကို မီလီစက္ကန့်အတွင်း အပြည့်အဝ ရောနှောနိုင်သည်။ ဤ microfluidic ရောစပ်ကိရိယာ၏ အချို့သောအသုံးချပရိုဂရမ်များသည် တုံ့ပြန်မှု kinetics၊ နမူနာအရည်ကျိုမှု၊ ပိုမိုကောင်းမွန်သော တုံ့ပြန်မှုရွေးချယ်နိုင်မှု၊ လျင်မြန်သောပုံဆောင်ခဲနှင့် နာနိုအမှုန်ပေါင်းစပ်မှု၊ ဆဲလ်အသက်သွင်းမှု၊ အင်ဇိုင်းတုံ့ပြန်မှုနှင့် DNA ပေါင်းစပ်မှုတို့ဖြစ်သည်။ MICROFLUIDIC DROPLET-ON-DEMAND စနစ်- ၎င်းသည် မတူညီသောနမူနာ 24 ခုအထိရှိသော အမှုန်အမွှားများကို ထုတ်လုပ်ရန်နှင့် အရွယ်အစား 25 nanoliter အထိ အရွယ်အစားရှိသော အစက် 1000 အထိ သိုလှောင်ရန် ကျစ်လစ်ပြီး သယ်ဆောင်ရလွယ်ကူသော သေးငယ်သောအမှုန်အမွှားစနစ်ဖြစ်သည်။ microfluidic စနစ်သည် droplet အရွယ်အစားနှင့် ကြိမ်နှုန်းကို ကောင်းစွာထိန်းချုပ်နိုင်သည့်အပြင် ရှုပ်ထွေးသောစစ်ဆေးမှုများကို လျင်မြန်လွယ်ကူစွာဖန်တီးရန် ဓာတ်ပစ္စည်းများအများအပြားအသုံးပြုခြင်းကို ခွင့်ပြုပေးပါသည်။ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်အမှုန်အမွှားများကို သိမ်းဆည်းနိုင်ပြီး အပူဖြင့် စက်ဘီးစီးကာ ပေါင်းစည်းနိုင်သည် သို့မဟုတ် နာနိုလီတာမှ ပီကိုလီတာအမှုန်အမွှားများအထိ ခွဲနိုင်သည်။ အချို့သောအပလီကေးရှင်းများမှာ၊ စိစစ်ရေးစာကြည့်တိုက်များ၏ မျိုးဆက်များ၊ ဆဲလ်ဖုံးကွယ်မှု၊ သက်ရှိများ၏ ကက်ပ်ချလာမှု၊ ELISA စမ်းသပ်မှုများ၏ အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်မှု၊ အာရုံစူးစိုက်မှု gradients ပြင်ဆင်မှု၊ ပေါင်းစပ်ဓာတုဗေဒ၊ ဆဲလ်စစ်ဆေးမှုများဖြစ်သည်။ NANOPARTICLE ပေါင်းစပ်မှုစနစ်- နာနိုအမှုန်အမွှားများသည် 100nm ထက်သေးငယ်ပြီး ဆီလီကွန်အခြေခံထားသော ချောင်းနာနိုအမှုန်များ (ကွမ်တမ်အစက်များ) ပေါင်းစပ်မှုကို ဇီဝမော်လီကျူးများကို တံဆိပ်ကပ်ရန် ဇီဝမော်လီကျူးများကို တံဆိပ်ကပ်ခြင်းကဲ့သို့သော အသုံးချပရိုဂရမ်များစွာကို အကျိုးပြုပါသည်။ Microfluidics နည်းပညာသည် နာနိုအမှုန်များ ပေါင်းစပ်မှုအတွက် အကောင်းဆုံးဖြစ်သည်။ ဓာတ်ပစ္စည်းများ စားသုံးမှုကို လျှော့ချခြင်းဖြင့် ပိုမိုတင်းကျပ်သော အမှုန်အမွှား အရွယ်အစား ဖြန့်ဖြူးမှုကို ခွင့်ပြုပေးကာ တုံ့ပြန်မှုအချိန်နှင့် အပူချိန်များကို ပိုမိုကောင်းမွန်အောင် ထိန်းချုပ်နိုင်သည့်အပြင် ရောစပ်မှု ပိုမိုကောင်းမွန်သည်။ MICROFLUIDIC DROPLET ထုတ်လုပ်သည့်စနစ်- တစ်လလျှင် အလွန်အမင်း ပြန့်ကျဲနေသော အမှုန်အမွှားများ၊ အမှုန်အမွှားများ သို့မဟုတ် emulsion တစ်တန်အထိ ထုတ်လုပ်မှုကို လွယ်ကူချောမွေ့စေသည့် မြင့်မားသော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်။ ဤမော်ဂျူလာ၊ အရွယ်တင်နိုင်သောနှင့် အလွန်ပြောင်းလွယ်ပြင်လွယ်ရှိသော မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်စနစ်သည် မော်ဂျူး ၁၀ ခုအထိ အပြိုင်စုစည်းနိုင်ပြီး၊ 70 microfluidic ချစ်ပ်အစက်အပေါက်များလမ်းဆုံများအထိ တူညီသောအခြေအနေများကို ဖွင့်ပေးသည်။ 20 microns နှင့် 150 microns အကြားရှိ အလွန် monodispersed microfluidic အမှုန်အမွှားများ အစုလိုက်အပြုံလိုက် ထုတ်လုပ်မှုသည် ချစ်ပ်များမှ တိုက်ရိုက် သို့မဟုတ် ပြွန်များထဲသို့ တိုက်ရိုက်စီးဆင်းသွားနိုင်သည်။ အမှုန်အမွှားများထုတ်လုပ်ခြင်း- PLGA၊ gelatine၊ alginate၊ polystyrene၊ agarose၊ လိမ်းဆေးများ၊ aerosols များတွင် ဆေးဝါးများပေးပို့ခြင်း၊ အစားအစာ၊ အလှကုန်၊ ဆေးသုတ်ခြင်းလုပ်ငန်း၊ သေးငယ်သောဓာတ်ပြုခြင်းများ၊ အပြိုင် micromixing နှင့် micro-reactions များအပြိုင်ထုတ်လုပ်ခြင်း။ ဖိအားမောင်းနှင်သော MICROFLUIDIC စီးဆင်းမှုထိန်းချုပ်မှုစနစ်- ကွင်းပိတ်စမတ်စီးဆင်းမှုထိန်းချုပ်မှုသည် 10 bar မှ လေဟာနယ်အထိ ဖိအားများဖြင့် နာနိုလီတာ/မိနစ်မှ မီလီလီတာ/မိနစ်အထိ စီးဆင်းမှုနှုန်းကို ထိန်းချုပ်ပေးပါသည်။ ပန့်နှင့် မိုက်ခရိုဖလူးဒစ်ကိရိယာကြားတွင် ချိတ်ဆက်ထားသော စီးဆင်းနှုန်းအာရုံခံကိရိယာသည် သုံးစွဲသူများကို PC မလိုအပ်ဘဲ ပန့်ပေါ်တွင် တိုက်ရိုက်ဝင်ရောက်ရန် လွယ်ကူစေသည်။ အသုံးပြုသူများသည် ၎င်းတို့၏ မိုက်ခရိုဖလူးဒစ် ကိရိယာများတွင် ထုထည်စီးဆင်းမှု၏ ဖိအားနှင့် ထပ်တလဲလဲ ချောမွေ့မှုကို ရရှိမည်ဖြစ်သည်။ စနစ်များကို ပန့်အများအပြားသို့ တိုးချဲ့နိုင်ပြီး၊ အားလုံးသည် စီးဆင်းနှုန်းကို လွတ်လပ်စွာ ထိန်းချုပ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ စီးဆင်းမှုထိန်းချုပ်မှုမုဒ်တွင် လည်ပတ်ရန်၊ စီးဆင်းမှုနှုန်းအာရုံခံကိရိယာသည် အာရုံခံမျက်နှာပြင် သို့မဟုတ် အာရုံခံအာရုံခံမျက်နှာပြင်ကို အသုံးပြု၍ ပန့်သို့ ချိတ်ဆက်ရန် လိုအပ်သည်။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Embedded Systems, Embedded Computer, Industrial Computers, Janz Tec

    Embedded Systems, Embedded Computer, Industrial Computers, Janz Tec, Korenix, Industrial Workstations, Servers, Computer Rack, Single Board Computer Embedded Systems & Industrial Computers & Panel PC ပိုပြီးဖတ်ပါ မြှုပ်သွင်းထားသော စနစ်များနှင့် ကွန်ပျူတာများ ပိုပြီးဖတ်ပါ Panel PC၊ Multitouch Displays၊ Touch Screen များ ပိုပြီးဖတ်ပါ စက်မှု PC ပိုပြီးဖတ်ပါ စက်မှုအလုပ်ရုံများ ပိုပြီးဖတ်ပါ Networking Equipment၊ Network Devices၊ Intermediate Systems၊ Interworking Unit ပိုပြီးဖတ်ပါ သိုလှောင်မှုကိရိယာများ၊ ဒစ်ခ် အာရေးများနှင့် သိုလှောင်မှုစနစ်များ၊ SAN၊ NAS ပိုပြီးဖတ်ပါ စက်မှုဆာဗာများ ပိုပြီးဖတ်ပါ စက်မှုကွန်ပြူတာများအတွက် Chassis၊ Racks၊ Mounts ပိုပြီးဖတ်ပါ စက်မှုကွန်ပြူတာများအတွက် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ မော်ဂျူးများ၊ ကယ်ရီယာဘုတ်များ ပိုပြီးဖတ်ပါ အလိုအလျောက်စနစ်နှင့် ဉာဏ်ရည်ဉာဏ်သွေးစနစ်များ စက်မှုထုတ်ကုန်များ ပေးသွင်းသူတစ်ဦးဖြစ်သောကြောင့် ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား မရှိမဖြစ်လိုအပ်ဆုံးသော industrial computers & servers & networking & storage devices, embedded computer and systems, single board computers, panel PC, industrial PC, rugged computer, touch screen ကွန်ပျူတာများ၊ စက်မှုအလုပ်ရုံ၊ စက်မှုကွန်ပြူတာ အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ ဒစ်ဂျစ်တယ်နှင့် အန်နာလို I/O စက်ပစ္စည်းများ၊ routers၊ တံတားများ၊ ကူးပြောင်းကိရိယာများ၊ hub၊ repeater၊ proxy၊ firewall၊ modem၊ network interface controller၊ protocol converter၊ network attached storage (NAS) arrays ၊ သိုလှောင်မှုဧရိယာကွန်ရက် (SAN) အခင်းအကျင်းများ၊ ရုပ်သံလိုင်းပေါင်းများစွာ ထပ်ဆင့်ပို့သည့် မော်ဂျူးများ၊ MODULbus ခြေစွပ်များအတွက် Full-CAN ထိန်းချုပ်ကိရိယာ၊ MODULbus ဝန်ဆောင်မှုပေးသူဘုတ်အဖွဲ့၊ တိုးမြင့်သောကုဒ်ဒါ မော်ဂျူး၊ အသိဉာဏ်ရှိသော PLC လင့်ခ်အယူအဆ၊ DC ဆာဗာမော်တာများအတွက် မော်တာထိန်းချုပ်ကိရိယာ၊ အမှတ်စဉ် အင်တာဖေ့စ်မော်ဂျူး၊ VMEbus ပုံတူရိုက်ဘုတ်၊ အသိဉာဏ် profibus DP slave မျက်နှာပြင်၊ ဆော့ဖ်ဝဲ၊ ဆက်စပ်လျှပ်စစ်ပစ္စည်းများ၊ chassis-racks-mounts. ကျွန်ုပ်တို့သည် အကောင်းဆုံးများကို ယူဆောင်လာပေးပါသည်။ သူသည် ကမ္ဘာ့စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး ကွန်ပျူတာ ထုတ်ကုန်များကို စက်ရုံမှ သင့်အိမ်သို့ အရောက်ပို့ပေးသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏အားသာချက်မှာ Janz Tec and_cc75cf58d_Janz Tec and_cc781905-136bad5cf58d_and_cc754bdb5-136bad5cf58d_and_cc754bdb5-136bad5cf58d_and_cc781905-3905 ထို့အပြင် ကျွန်ုပ်တို့၏ထူးခြားချက်မှာ သင့်အား ထုတ်ကုန်အမျိုးမျိုး/ စိတ်ကြိုက်ဖွဲ့စည်းပုံများ/ အခြားရင်းမြစ်များမှ သင်မရယူနိုင်သော အခြားစနစ်များနှင့် ပေါင်းစည်းခြင်းတို့ကို ပေးစွမ်းနိုင်ခြင်းဖြစ်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အား စာရင်းစျေးနှုန်း သို့မဟုတ် အောက်ဈေးအတွက် အမှတ်တံဆိပ်အမည် အရည်အသွေးမြင့် စက်ကိရိယာများကို ပေးဆောင်ပါသည်။ သင့်မှာယူမှုပမာဏသည် သိသာထင်ရှားပါက တင်ထားသောစျေးနှုန်းများတွင် သိသိသာသာလျှော့စျေးများရှိပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ စက်ကိရိယာအများစုသည် စတော့တွင်ရှိပါသည်။ စတော့တွင်မပါဝင်ပါက၊ ကျွန်ုပ်တို့နှစ်သက်သော ပြန်လည်ရောင်းချသူနှင့် ဖြန့်ဖြူးသူဖြစ်သောကြောင့် သင့်ထံ အချိန်တိုတိုအတွင်း ၎င်းကို ပေးဆောင်နိုင်ပါသေးသည်။ စတော့ခ်ပစ္စည်းများအပြင် သင့်လိုအပ်ချက်အရ ဒီဇိုင်းရေးဆွဲထုတ်လုပ်ထားသော အထူးထုတ်ကုန်များကိုလည်း သင့်အား ပေးဆောင်နိုင်ပါသည်။ သင့်စက်မှုလုပ်ငန်းသုံးကွန်ပြူတာစနစ်တွင် သင်လိုအပ်သော ကွာခြားချက်များကို ကျွန်ုပ်တို့အား အသိပေးပြီး သင့်လိုအပ်ချက်များနှင့် တောင်းဆိုချက်များအရ ၎င်းကို ကျွန်ုပ်တို့ ရရှိမည်ဖြစ်သည်။ We offer you CUSTOM MANUFACTURING and ENGINEERING INTEGRATION capability. We also build CUSTOM AUTOMATION SYSTEMS, MONITORING and PROCESS CONTROL SYSTEMS by integrating ကွန်ပျူတာများ၊ ဘာသာပြန်ခြင်းအဆင့်များ၊ rotary အဆင့်များ၊ မော်တော်ယာဥ်အစိတ်အပိုင်းများ၊ လက်နက်များ၊ ဒေတာဝယ်ယူမှုကတ်များ၊ လုပ်ငန်းစဉ်ထိန်းချုပ်မှုကတ်များ၊ အာရုံခံကိရိယာများ၊ actuator များနှင့် လိုအပ်သည့် အခြားဟာ့ဒ်ဝဲနှင့် ဆော့ဖ်ဝဲလ် အစိတ်အပိုင်းများ။ ကမ္ဘာပေါ်ရှိ သင့်တည်နေရာ မည်သို့ပင်ဖြစ်စေ ကျွန်ုပ်တို့သည် သင့်အိမ်သို့ ရက်အနည်းငယ်အတွင်း ပို့ဆောင်ပေးပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့တွင် UPS၊ FEDEX၊ TNT၊ DHL နှင့် standard air တို့နှင့် လျှော့စျေးတင်ပို့မှုသဘောတူညီချက်များရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ PayPal အကောင့်၊ ကြေးနန်းလွှဲပြောင်းမှု၊ အသိအမှတ်ပြုချက်လက်မှတ် သို့မဟုတ် ငွေလွှဲမှုတို့ကို အသုံးပြု၍ အကြွေးဝယ်ကတ်များကဲ့သို့သော ရွေးချယ်မှုများကို အသုံးပြု၍ အွန်လိုင်းတွင် မှာယူနိုင်ပါသည်။ ဆုံးဖြတ်ချက်မချမီ ကျွန်ုပ်တို့နှင့် စကားပြောလိုပါက သို့မဟုတ် သင့်တွင်မေးခွန်းများရှိပါက၊ သင်လိုအပ်သမျှမှာ ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဖုန်းဆက်ရန်ဖြစ်ပြီး ကျွန်ုပ်တို့၏ ကျွမ်းကျင်သော ကွန်ပျူတာနှင့် အလိုအလျောက်စနစ်ဆိုင်ရာ အင်ဂျင်နီယာတစ်ဦးမှ သင့်အား ကူညီပေးပါမည်။ သင့်နှင့်ပိုမိုနီးကပ်စေရန်အတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့တွင် ကမ္ဘာ့နေရာအသီးသီးတွင် ရုံးခန်းများနှင့် ဂိုဒေါင်များရှိသည်။ စက်မှုကွန်ပြူတာအမျိုးအစားရှိ ကျွန်ုပ်တို့၏ထုတ်ကုန်များအကြောင်း ပိုမိုဖတ်ရှုရန် သက်ဆိုင်ရာ submenus ၏ above ကိုနှိပ်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့အတွက် ဘောင်ချာကို ဒေါင်းလုဒ်လုပ်ပါ။ မိတ်ဖက်ပြုခြင်း အစီအစဉ်ကို ဒီဇိုင်းဆွဲပါ။ ပိုမိုအသေးစိတ်အချက်အလက်များအတွက်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး ကွန်ပျူတာစတိုးကိုလည်း လာရောက်ကြည့်ရှုရန် ဖိတ်ခေါ်ပါသည်။http://www.agsindustrialcomputers.com CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

  • Photochemical Machining, PCM, Photo Etching, Chemical Milling,Blankin

    Photochemical Machining - PCM - Photo Etching - Chemical Milling - Blanking - Wet Etching - CM - Sheet Metal Components Chemical Machining & Photochemical Blanking ဓာတုဗေဒစက် (CM) technique သည် အချို့သော ဓာတုပစ္စည်းများသည် သတ္တုများကို တိုက်ခိုက်ပြီး ၎င်းတို့ကို ထုလုပ်သည့်အချက်အပေါ် အခြေခံထားသည်။ ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်များမှ အရာဝတ္ထုအလွှာငယ်များကို ဖယ်ရှားခြင်းဖြစ်စေသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် မျက်နှာပြင်များမှ အရာများကို ဖယ်ရှားရန်အတွက် အက်ဆစ်နှင့် အယ်ကာလိုင်းဖြေရှင်းချက်ကဲ့သို့သော ဓာတ်ပစ္စည်းများနှင့် အက်ဆစ်ဓာတ်များကို အသုံးပြုပါသည်။ ပစ္စည်း၏ မာကျောမှုသည် ထွင်းထုရန်အတွက် အချက်မဟုတ်ပါ။ AGS-TECH Inc. သည် သတ္တုများထွင်းထုခြင်း၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် ထုတ်လုပ်သည့် အစိတ်အပိုင်းများကို ဖယ်ရှားခြင်းအတွက် ဓာတုဗေဒစက်ပစ္စည်းကို မကြာခဏအသုံးပြုသည်။ Chemical machining သည် ကြီးမားသော အပြား သို့မဟုတ် ကွေးညွတ်သော မျက်နှာပြင်များပေါ်တွင် ၁၂ မီလီမီတာအထိ ရေတိမ်ပိုင်း ဖယ်ရှားခြင်းအတွက် ကောင်းစွာ သင့်လျော်ပြီး၊ and CHEMICAL BLANKING_cc781905-5cde-3194-bb3b-ofc thin. ဓာတုဗေဒင်စက် (CM) နည်းလမ်းတွင် ကိရိယာတန်ဆာပလာများနှင့် စက်ပစ္စည်းကုန်ကျစရိတ် နည်းပါးပြီး အခြား ADVANCED MACHINING PROCESSES ADVANCED MACHINING PROCESSES_cc781905-5cde-3194-bb3b5c-156 ဓာတုဗေဒနည်းဖြင့် ပြုပြင်ရာတွင် သာမာန်ပစ္စည်းများ ဖယ်ရှားမှုနှုန်း သို့မဟုတ် ဖြတ်တောက်မှုအမြန်နှုန်းများသည် 0.025 – 0.1 mm/min ဝန်းကျင်ဖြစ်သည်။ CHEMICAL MILLING ကိုအသုံးပြု၍ ကျွန်ုပ်တို့သည် ဒီဇိုင်းလိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီစေရန် သို့မဟုတ် အစိတ်အပိုင်းများ အလေးချိန်လျှော့ချရန်အတွက် စာရွက်များ၊ ပန်းကန်များ၊ ထုလုပ်ခြင်းနှင့် ထုလုပ်ခြင်းများအတွက် သေးငယ်သောအပေါက်များကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ ဓာတုကြိတ်ခွဲခြင်းနည်းပညာကို သတ္တုအမျိုးမျိုးတွင် အသုံးပြုနိုင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ထုတ်လုပ်ရေးလုပ်ငန်းစဉ်များတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ဖြုတ်တပ်နိုင်သောမျက်နှာဖုံးအလွှာများကို ဓာတုဗေဒပစ္စည်းများဖြင့် ရွေးချယ်တိုက်ခိုက်ခြင်းကို ထိန်းချုပ်ရန်အတွက် workpiece မျက်နှာပြင်၏ မတူညီသောနေရာများတွင် အသုံးပြုပါသည်။ မိုက်ခရိုအီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းတွင် ဓာတုကြိတ်ခွဲခြင်းကို ချစ်ပ်များပေါ်တွင် အသေးစားစက်ကိရိယာများဖန်တီးရန် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုကြပြီး နည်းပညာကို as WET ETCHING ဟု ခေါ်ဆိုပါသည်။ အချို့သော မျက်နှာပြင်ပျက်စီးမှုသည် ဓာတုပစ္စည်းများပါဝင်သည့် ဦးစားပေး etching နှင့် intergranular attack ကြောင့် ဓာတုပစ္စည်းများ ကြိတ်ခြင်းမှ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သည်။ ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်များ ယိုယွင်းခြင်းနှင့် ကြမ်းတမ်းခြင်းတို့ကို ဖြစ်စေနိုင်သည်။ Filler metal သို့မဟုတ် structural material သည် ဦးစားပေး စက်ဖြစ်နိုင်သောကြောင့် မညီမညာသော ပစ္စည်းများကို ဖယ်ရှားခြင်းကြောင့် သတ္တုသွန်းလုပ်ခြင်း၊ ဂဟေဆော်ခြင်း နှင့် ကြေးခွံများပေါ်တွင် ဓာတုဗေဒကြိတ်ခွဲခြင်းကို အသုံးပြုရန် မဆုံးဖြတ်မီ သတိထားရပါမည်။ သတ္တုသွန်းလုပ်ရာတွင် တည်ဆောက်ပုံ၏ ယိုစိမ့်မှုနှင့် တူညီမှုမရှိခြင်းကြောင့် မညီညာသော မျက်နှာပြင်များကို ရရှိနိုင်သည်။ ဓာတုဗေဒနည်းဖြင့် ရောနှောခြင်း- ဓာတုပျော်ဝင်မှုဖြင့် ဖယ်ရှားထားသော ပစ္စည်း၏ အထူမှတဆင့် ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်သည့် အင်္ဂါရပ်များ ထုတ်လုပ်ရန် ဤနည်းလမ်းကို ကျွန်ုပ်တို့ အသုံးပြုပါသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် စာရွက်သတ္တုထုတ်လုပ်ရေးတွင် ကျွန်ုပ်တို့အသုံးပြုသည့် တံဆိပ်တုံးထုခြင်းနည်းပညာအတွက် အခြားရွေးချယ်စရာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ (PCB) ၏ burr-free etching တွင်လည်း chemical blanking ကို အသုံးပြုပါသည်။ PHOTOCHEMICAL BLANKING & PHOTOCHEMICAL MACHINING (PCM): Photochemical blanking is also known as PHOTOETCHING or PHOTO ETCHING, and is a modified version of chemical milling. ဓာတ်ပုံနည်းပညာများကို အသုံးပြု၍ ပြားချပ်ချပ်ချပ်ချပ်များမှ ရုပ်ပုံများကို ဖယ်ရှားပြီး ရှုပ်ထွေးသော burr-free၊ stress-free ပုံသဏ္ဍာန်များကို ဖုံးကွယ်ထားသည်။ photochemical blanking ကိုအသုံးပြု၍ သေးငယ်သောသတ္တုစခရင်များ၊ ပုံနှိပ်ဆားကစ်ကတ်များ၊ လျှပ်စစ်မော်တာ laminations၊ flat precision springs များကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ Photochemical blanking နည်းပညာသည် ရိုးရာစာရွက်သတ္တုထုတ်လုပ်ရေးတွင် အသုံးပြုသည့် ခက်ခဲပြီး ဈေးကြီးသော ကွက်လပ်များကို ထုတ်လုပ်ရန် မလိုအပ်ဘဲ သေးငယ်သော အစိတ်အပိုင်းများ ထုတ်လုပ်ခြင်း၏ အားသာချက်ကို ပေးပါသည်။ Photochemical blanking သည် ကျွမ်းကျင်ဝန်ထမ်းများ လိုအပ်သော်လည်း ကိရိယာတန်ဆာပလာ ကုန်ကျစရိတ် နည်းပါးသည်၊ လုပ်ငန်းစဉ်သည် အလိုအလျောက် လွယ်ကူပြီး အလတ်စားမှ မြင့်မားသော ထုထည်ထုတ်လုပ်မှုအတွက် ဖြစ်နိုင်ချေ မြင့်မားသည်။ ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်တိုင်းတွင်ကဲ့သို့ အားနည်းချက်အချို့ ရှိနေသည်- ဓာတုပစ္စည်းများနှင့် မတည်ငြိမ်သော အရည်များကို အသုံးပြုခြင်းကြောင့် ဘေးကင်းရေးဆိုင်ရာ စိုးရိမ်မှုများကြောင့် သဘာဝပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ စိုးရိမ်မှုများ။ Photochemical machining သည် ရွေးချယ်ထားသော နေရာများကို ပိုးမွှားများကို ဖယ်ရှားရန်အတွက် photoresist နှင့် etchants များကို အသုံးပြု၍ စာရွက်သတ္တု အစိတ်အပိုင်းများကို ဖန်တီးခြင်း လုပ်ငန်းစဉ်ဖြစ်သည်။ ဓာတ်ပုံရိုက်ခြင်းကို အသုံးပြု၍ စီးပွားရေးအရ ကောင်းမွန်သောအသေးစိတ်အချက်အလက်များဖြင့် အလွန်ရှုပ်ထွေးသော အစိတ်အပိုင်းများကို ထုတ်လုပ်ပါသည်။ photochemical ကြိတ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် ပါးလွှာသော တိုင်းတာတိကျသောအစိတ်အပိုင်းများအတွက် ထုထည်၊ အထိုးခံရခြင်း၊ လေဆာနှင့် ရေဂျက်ဖြတ်ခြင်းအတွက် ချွေတာသည့်နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဓာတ်ပုံဓာတုဗေဒ ကြိတ်ခွဲခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် ပုံတူရိုက်ခြင်းအတွက် အသုံးဝင်ပြီး ဒီဇိုင်းပြောင်းလဲမှုရှိပါက လွယ်ကူမြန်ဆန်စွာ အပြောင်းအလဲများ ပြုလုပ်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် သုတေသနနှင့် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုအတွက် စံပြနည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ Phototooling သည် ထုတ်လုပ်ရန် မြန်ဆန်ပြီး စျေးမကြီးပါ။ phototools အများစုသည် $500 အောက် ကုန်ကျပြီး နှစ်ရက်အတွင်း ထုတ်လုပ်နိုင်ပါသည်။ Dimensional tolerances သည် burrs မရှိ၊ ဖိစီးမှု နှင့် ချွန်ထက်သော အစွန်းများဖြင့် ကောင်းမွန်စွာ ကိုက်ညီပါသည်။ သင့်ပုံဆွဲခြင်းကို လက်ခံရရှိပြီးနောက် နာရီပိုင်းအတွင်း အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုကို စတင်ထုတ်လုပ်နိုင်ပါသည်။ အထူ 0.0005 မှ 0.080 in (အထူ 0.0005 မှ 0.080 in (အလူမီနီယမ်) မှ 0.080 in (အလူမီနီယမ်၊ ကြေးဝါ၊ beryllium-copper၊ ကြေးနီ) အပါအဝင် စီးပွားဖြစ်ရရှိနိုင်သော သတ္တုများနှင့် သတ္တုစပ်များတွင် PCM ကို ကျွန်ုပ်တို့ အသုံးပြုနိုင်သည်။ 0.013 မှ 2.0 mm)။ Phototool များသည် အလင်းနှင့်သာ ထိတွေ့သောကြောင့် ပျက်မသွားပါ။ တံဆိပ်တုံးထုခြင်း နှင့် ဒဏ်ငွေဆောင်ခြင်းအတွက် ခက်ခဲသော ကိရိယာတန်ဆာပလာများ၏ ကုန်ကျစရိတ်ကြောင့် PCM တွင်မဟုတ်သည့် ကုန်ကျစရိတ်ကို မျှတစေရန် သိသာထင်ရှားသောပမာဏ လိုအပ်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် optically clear and dimensionally stable photographic film တွင် အစိတ်အပိုင်း၏ ပုံသဏ္ဍာန်ကို ရိုက်နှိပ်ခြင်းဖြင့် PCM လုပ်ငန်းစဉ်ကို စတင်ပါသည်။ Phototool တွင် အစိတ်အပိုင်းများဖြစ်လာမည့် ဧရိယာသည် ရှင်းလင်းပြီး ထွင်းရမည့် ဧရိယာအားလုံးအနက်ရောင်ဖြစ်ကြောင်း ဆိုလိုသည့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ အနုတ်လက္ခဏာပုံများကို ပြသသည့် ဤဖလင်နှစ်ချပ်ပါရှိသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် tool ၏အပေါ်နှင့်အောက်ခြေတစ်ဝက်ကိုဖွဲ့စည်းရန်အလွှာနှစ်ခုကို optically နှင့် mechanically မှတ်ပုံတင်သည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် သတ္တုပြားများကို အရွယ်အစား၊ သန့်စင်ပြီးနောက် UV-sensitive photoresist ဖြင့် နှစ်ဖက်စလုံးတွင် လာမီနီကို ဖြတ်တောက်သည်။ phototool ၏အလွှာနှစ်ခုကြားတွင် coated metal ကိုကျွန်ုပ်တို့ချထားပြီး phototools နှင့် metal plate အကြားရင်းနှီးသောထိတွေ့မှုကိုသေချာစေရန်အတွက် vacuum ကိုဆွဲပါသည်။ ထို့နောက် ဖလင်၏ရှင်းလင်းသောအပိုင်းရှိ ခံနိုင်ရည်ရှိသောနေရာများကို မာကျောစေသည့် ပန်းကန်ပြားကို UV အလင်းရောင်ဖြင့် ဖော်ထုတ်ပေးသည်။ ထိတွေ့ပြီးနောက် ကျွန်ုပ်တို့သည် ပန်းကန်ပြား၏ မထိတွေ့နိုင်သော ခံနိုင်ရည်အား ဆေးကြောပေးကာ ထွင်းထုထားသောနေရာများကို အကာအကွယ်မဲ့ထားလိုက်ပါ။ ကျွန်ုပ်တို့၏ ထွင်းထုခြင်းလိုင်းများတွင် ပန်းကန်ပြားများနှင့် ပန်းကန်ပြားများအထက်နှင့် အောက်ရှိ မှုန်ရေမွှားမွှားများကို ရွှေ့ရန် ဒရိုက်ဘီးယက်ကိရိယာများ ရှိသည်။ etchant သည် ပုံမှန်အားဖြင့် အက်ဆစ်ဖြစ်သည့် ferric chloride ၏ aqueous solution တစ်ခုဖြစ်ပြီး ပန်းကန်၏ နှစ်ဖက်လုံးကို ဖိအားအောက်တွင် အပူပေးပြီး ညွှန်ကြားသည်။ ထုထည်သည် အကာအကွယ်မရှိသော သတ္တုနှင့် ဓာတ်ပြုပြီး ၎င်းကို ခွာသွားစေသည်။ သန့်စင်ပြီး ဆေးကြောပြီးနောက် ကျန်ရှိသော ခုခံမှုကို ဖယ်ရှားပြီး အစိတ်အပိုင်းများကို သန့်စင်ပြီး အခြောက်ခံပါ။ photochemical machining တွင် ကောင်းမွန်သော screen များနှင့် meshes၊ aperture၊ masks၊ battery grids၊ sensors၊ springs၊ pressure membranes၊ flexible heating element၊ RF နှင့် microwave circuits နှင့် components၊ semiconductor leadframes၊ motor and transformer laminations၊ metal gaskets and seals, shields နှင့် ထိန်းသိမ်းကိရိယာများ၊ လျှပ်စစ်အဆက်အသွယ်များ၊ EMI/RFI အကာအရံများ၊ အဝတ်လျှော်စက်များ။ တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ခဲဖရမ်များကဲ့သို့ အချို့သော အစိတ်အပိုင်းများသည် အလွန်ရှုပ်ထွေးပြီး ပျက်စီးလွယ်သောကြောင့် အပိုင်းပိုင်းသန်းပေါင်းများစွာတွင် ပမာဏများနေသော်လည်း ၎င်းတို့ကို ဓာတ်ပုံရိုက်ခြင်းဖြင့်သာ ထုတ်လုပ်နိုင်သည်။ ဓာတုဗေဒင်ခြစ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်ဖြင့် ရရှိနိုင်သော တိကျမှုသည် ပစ္စည်းအမျိုးအစားနှင့် အထူပေါ်မူတည်၍ +/-0.010mm မှစတင်၍ သည်းခံနိုင်မှုကို ပေးပါသည်။ အင်္ဂါရပ်များကို +-5 microns ဝန်းကျင်တွင် တိကျမှုဖြင့် နေရာချထားနိုင်သည်။ PCM တွင်၊ အသက်သာဆုံးနည်းလမ်းမှာ အစိတ်အပိုင်း၏ အရွယ်အစားနှင့် အတိုင်းအတာသည်းခံမှုများနှင့်အညီ ဖြစ်နိုင်သည့် အကြီးဆုံးစာရွက်အရွယ်အစားကို စီစဉ်ရန်ဖြစ်သည်။ တစ်ရွက်လျှင် အစိတ်အပိုင်းများ များများထုတ်လုပ်လေ အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုစီ၏ လုပ်အားစရိတ် သက်သာလေဖြစ်သည်။ ပစ္စည်းအထူသည် ကုန်ကျစရိတ်အပေါ် သက်ရောက်မှုရှိပြီး ဖောက်ထွင်းရမည့်အချိန်ကြာချိန်နှင့် အချိုးကျပါသည်။ သတ္တုစပ်အများစုသည် တစ်မိနစ်လျှင် အနက် 0.0005-0.001 အတွင်း (0.013-0.025 မီလီမီတာ) ကြားတွင် ထွင်းထုသည်။ ယေဘူယျအားဖြင့်၊ အထူ 0.020 in (0.51 mm) အထိရှိသော သံမဏိ၊ ကြေးနီ သို့မဟုတ် အလူမီနီယမ် အလုပ်ခွင်များအတွက် အစိတ်အပိုင်းကုန်ကျစရိတ်သည် တစ်စတုရန်းလက်မလျှင် $0.15-0.20 ဖြစ်သည်။ အစိတ်အပိုင်း၏ ဂျီသြမေတြီသည် ပိုမိုရှုပ်ထွေးလာသည်နှင့်အမျှ၊ photochemical machining သည် CNC punching၊ laser သို့မဟုတ် water-jet cutting နှင့် electro discharge machining ကဲ့သို့သော နောက်ဆက်တွဲလုပ်ငန်းစဉ်များထက် စီးပွားရေးဆိုင်ရာ အားသာချက်များကို ရရှိပါသည်။ သင်၏ပရောဂျက်နှင့် ယနေ့ကျွန်ုပ်တို့ကို ဆက်သွယ်ပြီး ကျွန်ုပ်တို့၏အကြံဉာဏ်များနှင့် အကြံပြုချက်များကို သင့်အား ပေးဆောင်ကြပါစို့။ CLICK Product Finder-Locator Service ယခင်စာမျက်နှာ

bottom of page